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本发明提供了一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法，步骤包括：将测试样品固定安装于短波长X射线衍射装置的样品台上；选取测试样品某一测试部位作为基准点；采用激光束照射或者采用测试穿透样品基准点的X射线透射强度分布的方法获取测试样品基准点的Y轴...
该专利属于中国兵器工业第五九研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国兵器工业第五九研究所授权不得商用。

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