基于光开关控制的光模块高低温测试系统技术方案

本发明专利技术公开了基于光开关控制的光模块高低温测试系统的数据采集电路，包括高低温一体测试机机箱、高低温控制电路、光模块信号采集电路，光模块控制电路，所述光模块控制电路包括单片机、光开关模块、串‑并转换电路，单片机接收命令信号后调用内部存储的控制指令传给光开关模块；所述串‑并转换电路用于单片机并行读入光开关内部寄存器中的串行原始路由信息；光开关模块接收单片机传来的控制指令作用给待测试的多个光模块，所述光模块信号采集电路集成的测试板上，多个待测光模块固定在测试板上并与信号采集电路连接。通过单片机控制光开关，光开光按照单片机的控制指令按时依次对多个光模块发出光信号，由此，光模块课设置多个一起检测提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】
基于光开关控制的光模块高低温测试系统
本专利技术涉及一种测试机，具体涉及一种基于光开关控制的光模块高低温测试系统。
技术介绍
在基于光开关控制的光模块高低温测试系统进行温度测试时，目前是使用光信号发生器传给光模块，光模块在箱体内测试时，通过接收光信号产生电信号，通过信号采集电路定时采集转化的电信号是否标准，此方法需要通过给光模块提供要求的光信号，并随时查看光模块发出的电信号是否标准，检测不同的光模块时，为光模块提供不同的光信号，若采用增加光信号实验发生装置数量来提高检测数量的话浪费成本，而且当检测不同要求的光模块时，需要逐一对光信号实验发生装置进行调整，非常麻烦，而且光信号发生装置体积大，占用空间，一般都采用单一检测，或少量一起检测由此可见，现有的检测方法一次性不能测试太多光模块导致测试效率低下。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：目前光模块高低温测试效率低的问题，本专利技术提供了解决上述问题的基于光开关控制的光模块高低温测试系统。本专利技术通过下述技术方案实现：基于光开关控制的光模块高低温测试系统，包括高低温一体测试机机箱、高低温控制电路、光模块信号采集电路，还包括光模块控制电路，所述光模块控制电路包括单片机、光开关模块、串-并转换电路，所述单片机用于连接外部PC控制端，外部PC控制端命令信号传给单片机，单片机接收命令信号后调用内部存储的控制指令传给光开关模块；所述串-并转换电路用于单片机并行读入光开关内部寄存器中的串行原始路由信息；光开关模块接收单片机传来的控制指令作用给待测试的多个光模块，所述光开关通过多根光纤与待测光模块进行光信号传输；每个待测光模块都配置有独立的光模块信号采集电路；所述光模块信号采集电路集成的测试板上，多个待测光模块固定在测试板上并与信号采集电路连接。通过单片机控制光开关，光开光按照单片机的控制指令将接收的光信号进行光路切换，依次对多个光模块提供光信号，由此，只需要一个光信号实验发生装置提供一路光信号，便可为多个光模块提供光信号，检测不同标准的光模块时，只需改变原始光信号即可；操作方便，解决目前光模块高低温测试效率低的问题。进一步的，外部PC控制端通过RS-232接口连接进行通信。进一步的，光开关模块采用的是MEMS光开关模块。通过采用MEMS光开关模块带有自身的控制芯片，控制方便。进一步的，单片机、光开关模块以及串-并转换电路都位于机箱外部。通过将信号发生的控制电路部分设置与机箱外部，通过光纤与光模块进行信号传输，这比相对于将信号发生电路全部集成在测试版上，使用时间更长。基于光开关控制的光模块高低温测试系统的测试方法：将待测的光模块安装在测试板上，将测试板放入高低温一体测试箱；准备待测光模块的标准光信号，采用实验光信号发生装置调试好输出光信号，通过光纤将光信号传给光开关模块；将光开关模块的光路输出口通过光纤连接给光开关模块的光输入端；关闭高低温一体机，启动高低温控制箱；通过电脑控制界面控制单片机箱光开关模块发送控制指令；光开关模块开始向带检测的光模块传输光信号，光模块接收光信号后将信号转变成电信号传给信号采集电路；信号采集电路接收信号后将信号传给电脑进行存储；所述单片机的控制命令是控制光开关模块将光路进行定时切换。本专利技术具有如下的优点和有益效果：1、本专利技术通过单片机控制光开关，光开光按照单片机的控制指令将接收的光信号进行光路切换，依次对多个光模块提供光信号，由此，只需要提供一路光信号，便可为多个光模块提供光信号，检测不同标准的光模块时，只需改变原始光信号即可，操作方便，解决目前光模块高低温测试效率低的问题。；2、本专利技术通过采用MEMS光开关模块带有自身的控制芯片，控制方便；3、本专利技术通过将信号发生的控制电路部分设置与机箱外部，通过光纤与光模块进行信号传输，这比相对于将信号发生电路全部集成在测试版上，使用时间更长。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本专利技术实施例的限定。在附图中：图1为本专利技术的光模块控制电路图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本专利技术作进一步的详细说明，本专利技术的示意性实施方式及其说明仅用于解释本专利技术，并不作为对本专利技术的限定。实施例1如图1所示，基于光开关控制的光模块高低温测试系统的数据采集电路，包括高低温一体测试机机箱、高低温控制电路、光模块信号采集电路，还包括光模块控制电路，所述光模块控制电路包括单片机、光开关模块、串-并转换电路，所述单片机用于连接外部PC控制端，外部PC控制端命令信号传给单片机，单片机接收命令信号后调用内部存储的控制指令传给光开关模块；所述串-并转换电路用于单片机并行读入光开关内部寄存器中的串行原始路由信息；光开关模块接收单片机传来的控制指令作用给待测试的多个光模块，所述光开关通过多根光线与待测光模块进行通信；每个待测光模块都配置有独立的光模块信号采集电路；所述光模块信号采集电路集成的测试板上，多个待测光模块固定在测试板上并与信号采集电路连接。通过单片机控制光开关，光开光按照单片机的控制指令将接收的光信号进行光路切换，依次对多个光模块提供光信号，由此，只需要提供一路光信号，便可为多个光模块提供光信号，检测不同标准的光模块时，只需改变原始光信号即可，操作方便，解决目前光模块高低温测试效率低的问题。实施时，单片机连接光开关模块的控制端，光开关模块的光信号接收端通过光纤连接光信号实验发生装置。实施时，外部PC控制端通过RS-232接口连接进行通信。光开关模块采用的是MEMS光开关模块；单片机、光开关模块以及串-并转换电路都位于机箱外部。单片是通过串行控制信号对光开关进行控制的。基于光开关控制的光模块高低温测试系统的测试方法：将待测的光模块安装在测试板上，将测试板放入高低温一体测试箱；准备待测光模块的标准光信号，采用实验光信号发生装置调试好输出光信号，通过光纤将光信号传给光开关模块；将光开关模块的光路输出口通过光纤连接给光开关模块的光输入端；关闭高低温一体机，启动高低温控制箱；通过电脑控制界面控制单片机箱光开关模块发送控制指令；光开关模块开始向带检测的光模块传输光信号，光模块接收光信号后将信号转变成电信号传给信号采集电路；信号采集电路接收信号后将信号传给电脑进行存储；所述单片机的控制命令是控制光开关模块将光路进行定时切换。以上所述的具体实施方式，对本专利技术的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本专利技术的具体实施方式而已，并不用于限定本专利技术的保护范围，凡在本专利技术的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于光开关控制的光模块高低温测试系统，包括高低温一体测试机机箱、高低温控制电路、光模块信号采集电路，其特征在于，还包括光模块控制电路，所述光模块控电路包括单片机、光开关模块，所述单片机用于连接外部PC控制端，外部PC控制端命令信号传给单片机，单片机接收命令信号后调用内部存储的控制指令传给光开关模块；光开关模块接收单片机传来的控制指令将接收到的光信号切换光路，依次作用给待测试的多个光模块，所述光开关模块通过多根光纤与待测光模块进行光信号传输；每个待测光模块都配置有独立的光模块信号采集电路；所述光模块信号采集电路集成的测试板上，多个待测光模块固定在测试板上并与信号采集电路连接。

【技术特征摘要】
1.基于光开关控制的光模块高低温测试系统，包括高低温一体测试机机箱、高低温控制电路、光模块信号采集电路，其特征在于，还包括光模块控制电路，所述光模块控电路包括单片机、光开关模块，所述单片机用于连接外部PC控制端，外部PC控制端命令信号传给单片机，单片机接收命令信号后调用内部存储的控制指令传给光开关模块；光开关模块接收单片机传来的控制指令将接收到的光信号切换光路，依次作用给待测试的多个光模块，所述光开关模块通过多根光纤与待测光模块进行光信号传输；每个待测光模块都配置有独立的光模块信号采集电路；所述光模块信号采集电路集成的测试板上，多个待测光模块固定在测试板上并与信号采集电路连接。2.根据权利要求1所述的基于光开关控制的光模块高低温测试系统，其特征在于，所述外部PC控制端通过RS-232接口连接进行通信。3.根据权利要求1所述的基于光开关控制的光模块高低温测试系统，其特征在于，所述光开关...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄兰，
申请(专利权)人：成都网动光电子技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51