用于加工二元码数据的方法和设备技术

本发明专利技术涉及一种用于加工包含至少一个机器程序（MP1）的二元码数据（BCD）的方法，其特征在于以下步骤：根据所述二元码数据（BCD）的至少一部分、尤其根据所述二元码数据的以下部分形成（10）校验数据（PD）：所述部分包含机器程序（MP1）或所述机器程序（MP1）的一部分，其中，所述校验数据（PD）尤其能够实现所述二元码数据（BCD）的所述至少一部分的改变的识别；将所述校验数据（PD）的至少一部分插入（20）到所述二元码数据（BCD）中，由此获得经补充的二元码数据（BCD'；BCD"）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于加工二元码数据的方法和设备
本专利技术涉及用于加工包含至少一个机器程序的二元码数据的方法。本专利技术此外涉及用于实施这样的方法的设备。本专利技术还涉及用于处理包含至少一个机器程序的二元码数据的方法以及一种相应的设备。
技术介绍
在嵌入式系统（英语：embeddedSystem）和其他计算机系统中值得期望的是，能够识别通过所涉及的系统的计算单元从存储器中实施的二元码的改变，以便避免处理有错误的数据。尤其在安全重要的应用中、诸如在用于机动车的内燃机或制动系统的控制装置中，二元码的这样的改变识别是重要的。已经已知的是，构造工作存储器（RAM，RandomAccessMemory：随机存取存储器）部件，尤其外部存储器部件，使得它们识别由它们存储的二元码的改变。其示例是具有ECC（ErrorCorrectingCode：纠错码）保护的RAM-部件。然而，这样的ECC-RAM-部件出于不同原因（例如成本，电流消耗、存储器带宽）而不是在所有应用领域中可用。此外已知的是，使用基于软件的解决方案来识别二元码的改变。但是，这些方法在实施中是缓慢的并且耗费地实现。
技术实现思路
本专利技术所基于的问题通过根据权利要求1所述的方法和根据权利要求5所述的设备来解决。此外，本专利技术所基于的问题通过根据权利要求6所述的方法和根据权利要求10所述的设备来解决。根据本专利技术，提出一种用于加工包含至少一个机器程序的二元码数据的方法，该方法的特征在于以下步骤：根据所述二元码数据的至少一部分、尤其根据所述二元码数据的以下部分形成校验数据，所述部分包含机器程序或所述机器程序的一部分，其中，所述校验数据尤其能够实现所述二元码数据的所述至少一部分的改变的识别；将所述校验数据的至少一部分插入到所述二元码数据中，由此获得经补充的二元码数据。这使得分析或处理二元码数据或经补充的二元码数据的计算单元可能的是，实施校验数据的分析并且因此推断出通过校验数据保护的二元码数据的改变。换言之，可以在分析根据本专利技术嵌入到二元码数据中的校验数据的情况下有利地推断出二元码数据的自身所不期望的改变，由此例如可以实现二元码数据的高效的错误识别。特别优选地，根据包含在二元码数据中的机器程序的至少一部分来形成校验数据，使得在使用根据本专利技术的原理的情况下可确定机器程序的改变。替代地或补充地，也可以根据二元码数据的其他内容、诸如有用数据或不变的数据来形成校验数据，所述二元码数据尤其不包含可实施的机器命令，由此，除了机器程序之外，必要时也可以遵循根据本专利技术的原理来保护有用数据或不变的数据。在一种优选的实施方式中，将已经根据本专利技术形成的所有校验数据插入到二元码数据中，由此可以单单在存在经补充的二元码数据的情况下针对二元码数据的或经补充的二元码数据的改变实施根据本专利技术的检查。然而，在另外的实施方式中也可以设想，将根据本专利技术形成的校验数据的至少一个第一部分保持在与嵌入到二元码数据中的存储位置不同的存储位置中，而将根据本专利技术形成的校验数据的第二部分如先前已经描述的那样插入或嵌入到二元码数据中。在这种情况下，为了评价是否存在二元码数据改变的事实，可能需要动用校验数据的第一部分和校验数据的第二部分，这在校验方法的相应的实施中应被考虑。在一种特别优选的实施方式中，所述校验数据的形成包括：形成用于循环冗余校验（英语：CRC，CyclicRedundancyCheck）的至少一个校验值、尤其至少一个校验和。在此，以自身已知的方式将冗余信息作为校验数据插入待保护的二元码数据。替代地或补充地，可以根据二元码数据的至少一部分来形成至少一个哈希值（德语：“Streuwert：散列值”）。例如可以考虑，根据安全哈希算法（SHA：SecureHashAlgorithm）设置哈希值形成，如其在安全哈希标准（SHS：SecureHashStandard），出版号FITS180-4，2015年/08月版中定义以及例如从互联网在http://csrc.nist.gov/publications/fips/fips180-4/fips-180-4.pdf下可调取的那样。其他类似的方法同样可以设想用于形成校验数据。在另一种有利的实施方式中规定，将所述二元码数据划分成相同大小的或不同大小的块，其中，给以此方式获得的块中的至少一个分配校验数据。特别优选地，使相应的块大小匹配于处理二元码数据的计算单元的存储系统的缓存行的大小。以此方式能够实现对各个块和所分配的校验数据的特别高效的存取。例如，块大小可以是512Bit。与此不同的值替代地同样可能。在另一种有利的实施方式中规定，匹配经补充的二元码数据的存储地址、尤其跳跃地址或跳跃目标，尤其以便考虑插入到所述二元码数据中的校验数据。由此有利地能够实现，尽管根据本专利技术嵌入到二元码数据中的校验数据，仍然确保包含在二元码数据中的机器程序的不受干扰的实施。作为本专利技术的任务的另一个解决方案，说明一种根据专利权利要求5所述的用于加工包含至少一个机器程序的二元码数据的设备。本专利技术的任务的又一种另外的解决方案通过一种用于处理包含至少一个机器程序的二元码数据的方法来解决，其中，所述方法具有以下步骤：分析至少部分地包含在所述二元码数据中的校验数据，所述校验数据已经在第一时刻根据所述二元码数据的至少一部分形成，其中，所述校验数据的分析尤其旨在：确定在所述分析的时刻所述二元码数据的至少一部分是否相对于所述第一时刻改变了；根据所述分析处理所述二元码数据的至少一部分。在根据本专利技术的处理方法的一种特别优选的变型方案中，通过先前描述的用于加工二元码数据的方法获得校验数据，所述校验数据包含在或嵌入在二元码数据中。如先前已经描述的那样，在一种实施方式中，校验数据可以完全地嵌入到二元码数据中或包含在经补充的二元码数据中。在这种情况下，可以与此相应地从二元码数据获得校验数据并且将校验数据提供至分析。在另外的实施方式——其中校验数据至少部分地也保持在（经补充的）二元码数据之外——中，必要时也可以从不同的存储位置提供校验数据的不同部分（被研究的二元码数据，其他的存储位置），在它们被分析之前。校验数据的分析例如可以通过用于循环冗余校验的校验值或校验和的验证来实施，只要已经使用CRC方法来形成校验数据。只要已经使用了一个或多个哈希值来形成校验数据，就可以相应地在校验数据的根据本专利技术的分析中应用其他的分析算法。例如，在这种情况下，校验数据的分析可以通过二元码数据的由校验数据保护的部分来设置重新的哈希值形成并且设置接着的、在分析的范围内所述最新获得的哈希值与包含在校验数据中的哈希值的比较。只要两个哈希值一致，就可以推断出二元码数据的由校验数据保护的部分的完好无损性。在一种优选的实施方式中规定，在分析的步骤之前首先求取，二元码数据是否包含校验数据。由此进一步提高方法的可靠性并且由此尤其可以控制：仅仅当实际上存在校验数据时才进行分析。替代地，可以使必要时存在的校验数据的分析也取决于处理二元码数据的单元的运行状态。例如可以考虑，本身存在的校验数据不是一直被分析，而是例如仅仅分散地和/或周期性地以较大的时间间隔来分析。在另一种有利的实施方式中规定，当所述分析得出，所述二元码数据的至少一部分在所述分析的时刻相对于所述第一时刻改变了的时候采取错误反应。作为本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于加工包含至少一个机器程序（MP1）的二元码数据（BCD）的方法，其特征在于以下步骤：根据所述二元码数据（BCD）的至少一部分、尤其根据所述二元码数据的以下部分形成（10）校验数据（PD）：所述部分包含所述机器程序（MP1）或所述机器程序（MP1）的一部分，其中，所述校验数据（PD）尤其能够实现所述二元码数据（BCD）的所述至少一部分的改变的识别；将所述校验数据（PD）的至少一部分插入（20）到所述二元码数据（BCD）中，由此获得经补充的二元码数据（BCD'；BCD"）。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.06.22 DE 102016211124.81.一种用于加工包含至少一个机器程序（MP1）的二元码数据（BCD）的方法，其特征在于以下步骤：根据所述二元码数据（BCD）的至少一部分、尤其根据所述二元码数据的以下部分形成（10）校验数据（PD）：所述部分包含所述机器程序（MP1）或所述机器程序（MP1）的一部分，其中，所述校验数据（PD）尤其能够实现所述二元码数据（BCD）的所述至少一部分的改变的识别；将所述校验数据（PD）的至少一部分插入（20）到所述二元码数据（BCD）中，由此获得经补充的二元码数据（BCD'；BCD"）。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述校验数据（PD）的形成（10）包括以下措施中的至少一个：a）形成用于循环冗余校验的至少一个校验值、尤其至少一个校验和，b）形成至少一个哈希值。3.根据以上权利要求中任一项所述的方法，其中，将所述二元码数据（BCD）划分成相同大小的或不同大小的块（B），并且其中，给以此方式获得的块（B）中的至少一个分配校验数据。4.根据以上权利要求中任一项所述的方法，其中，匹配（30）经补充的二元码数据（BCD'；BCD"）的存储地址、尤其跳跃地址或跳跃目标，尤其以便考虑插入到所述二元码数据（BCD）中的校验数据（PD）。5.一种用于加工包含至少一个机器程序（MP1，MP2）的二元码数据（BCD）的设备（100），其特征在于，所述设备（100）被构造用于实施以下步骤：根据所述二元码数据（BCD）的至少一部分、尤其根据所述二元码数据的以下部分形成（10）校验数据（PD）：所述部分包含所述机器程序（MP1，MP2）或所述机器程序（MP1，MP2）的一部分，其中，所述校验数据（PD）尤其能够实现所述二元码数据的所述至少一部分的改变的识别；将所述校验数据（PD）的至少一部分插入（20）到所述二元码数据（BCD）中，由此获得经补充的二元码数据（BCD'；BCD"），其中，所述设备（100）尤其还被构造用于实施根据权利要求2至4中任一项所述的方法。6.一种用于处理包含至少一个机器程序（MP1，MP2）的二元码数据（BCD'，BCD"）的方法，其特征在于以下步骤：分析（60）至少部分地包含在所述二元码数据中的校验数据（PD），所述校验数据已经在第一时刻（t1）根据所述二元码数据（BCD）的至少一部分形成，其中，所述校验数据（P...

【专利技术属性】
技术研发人员：B米勒，J格拉迪高，S博尔克，
申请(专利权)人：罗伯特·博世有限公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE