用于教学的工业X射线探伤仪模拟方法技术

本发明专利技术涉及一种工业X射线探伤仪模拟方法，工业X射线探伤仪模拟方法通过工业X射线探伤仪模拟器件控制以模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程。通过工业X射线探伤仪模拟方法，解决的工业X射线探伤仪的教学难题，可以让学生通过对模拟器件进行控制，得到相应的硬件反馈，从而完全模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程。

Simulation method of industrial X-ray flaw detector for teaching

The present invention relates to a simulation method of industrial X-ray flaw detector. The simulation method of industrial X-ray flaw detector simulates the operation process of real industrial X-ray flaw detector by controlling the simulation device of industrial X-ray flaw detector. Through the simulation method of industrial X-ray flaw detector, the teaching difficulties of industrial X-ray flaw detector can be solved. Students can get corresponding hardware feedback by controlling the analog device, thus fully simulate the operation process of real industrial X-ray flaw detector.

【技术实现步骤摘要】
用于教学的工业X射线探伤仪模拟方法
本专利技术涉及教学模型领域，具体而言，涉及一种用于教学的工业X射线探伤仪模拟方法。
技术介绍
工业X射线探伤仪是目前在各个行业使用非常广泛的工业设备之一，但是由于其具有一定的辐射，各个学校很难使用真正的设备进行教学。因此需要通过一种模拟器来模拟工业X射线探伤仪的作业情况来模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种工业X射线探伤仪模拟方法，以实现完全模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程的目的。为了实现上述目的，本专利技术实施例采用的技术方案如下：本专利技术实施例提供了一种工业X射线探伤仪模拟方法，所述工业X射线探伤仪模拟方法通过工业X射线探伤仪模拟器件控制以模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程。在本专利技术较佳的实施例中，所述模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程的包括：调节曝光电压；进入无延迟曝光或延迟曝光。在本专利技术较佳的实施例中，所述无延迟曝光的方法包括：调节曝光时间N；曝光时间N递减为0时，激光灯断电，报警器工作t秒；进入休息阶段，休息时间为N；休息时间N递减为0时，报警器工作T秒。在本专利技术较佳的实施例中，所述无延迟曝光的方法还包括：按下第一自锁开关进入无延迟曝光流程。在本专利技术较佳的实施例中，所述调节曝光时间N的方法包括：第一按键按下，曝光时间增加一分钟；第二按键按下，曝光时间减少一分钟；第三按键按下，曝光时间增加六秒；第四按键按下，曝光时间减少六秒。在本专利技术较佳的实施例中，所述延迟曝光的方法包括：调节曝光时间N以及延迟时间M；延迟时间M递减为0时，激光灯通电进入曝光状态；曝光时间N递减为0时，激光灯断电，报警器工作t秒；进入休息阶段，休息时间为N；休息时间N递减为0时，报警器工作T秒。在本专利技术较佳的实施例中，所述延迟曝光的方法还包括：通过第一自锁开关以及第二自锁开关进入延迟曝光流程。在本专利技术较佳的实施例中，所述曝光时间N以及延迟时间M通过第一按键、第二按键、第三按键以及第四按键进行调节。在本专利技术较佳的实施例中，所述无延迟曝光以及延迟曝光的工作状态通过显示屏进行显示。相对于现有技术，本专利技术实施例具有以下有益效果：本专利技术实施例提供了一种用于教学的工业X射线探伤仪模拟方法，工业X射线探伤仪模拟方法通过工业X射线探伤仪模拟器件控制以模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程。通过工业X射线探伤仪模拟方法，解决的工业X射线探伤仪的教学难题，可以让学生通过对模拟器件进行控制，得到相应的硬件反馈，从而完全模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。图1示出了本专利技术实施例所提供的工业X射线探伤仪模拟器件的原理框图。图2示出了本专利技术实施例所提供的工业X射线探伤仪模拟方法的无延迟曝光的控制流程图。图3示出了本专利技术实施例所提供的工业X射线探伤仪模拟方法的延迟曝光的控制流程图。具体实施方式现在结合附图对本专利技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本专利技术的基本结构，因此其仅显示与本专利技术有关的构成。实施例请参阅图1，本专利技术实施例提供了一种用于教学的工业X射线探伤仪模拟方法。所述工业X射线探伤仪模拟方法通过工业X射线探伤仪模拟器件控制以模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程。通过工业X射线探伤仪模拟方法，解决的工业X射线探伤仪的教学难题，可以让学生通过对模拟器件进行控制，得到相应的硬件反馈，从而完全模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程。其中，所述模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程的包括：调节曝光电压；曝光电压通过编码电位器进行调节。进入无延迟曝光或延迟曝光。请参阅图2，无延迟曝光的控制流程如下。调节曝光时间N。图1中的按键包括第一按键、第二按键、第三按键以及第三按键。第一按键按下，曝光时间增加一分钟；第二按键按下，曝光时间减少一分钟；第三按键按下，曝光时间增加六秒；第四按键按下，曝光时间减少六秒。曝光时间N根据需要探伤的产品来确定。按下第一自锁开关进入曝光流程：曝光时间N递减为0时，激光灯断电，报警器工作t秒；在本实施例中，t为1秒。进入休息阶段，休息时间为N；休息时间N递减为0时，报警器工作T秒。在本实施例中，T为2秒。请参阅图3，曝光的控制流程如下。调节曝光时间N以及延迟时间M；所述曝光时间N以及延迟时间M通过第一按键、第二按键、第三按键以及第四按键进行调节。曝光时间调节时，第一按键按下，曝光时间增加一分钟；第二按键按下，曝光时间减少一分钟；第三按键按下，曝光时间增加六秒；第四按键按下，曝光时间减少六秒。曝光时间N根据需要探伤的产品来确定。延迟时间调节时，按下第二自锁开关进行延迟时间M调整，第一按键按下，延迟时间增加一分钟；第二按键按下，延迟时间减少一分钟；第三按键按下，延迟时间增加六秒；第四按键按下，延迟时间减少六秒。延迟时间N根据需要探伤的产品来确定。按下第一自锁开关进入曝光流程：延迟时间M递减为0时，激光灯通电进入曝光状态；曝光时间N递减为0时，激光灯断电，报警器工作t秒；在本实施例中，t为1秒。进入休息阶段，休息时间为N。在本实施例中，休息时间即为曝光时间。休息时间N递减为0时，报警器工作T秒。在本实施例中，T为2秒。在本实施例中，所述无延迟曝光以及延迟曝光的工作状态通过显示屏进行显示。工作过程如下无延迟曝光：旋转编码电位器，显示屏显示电压数值变化，接着按下按键，进行曝光时间调节，第一按键被按下曝光时间加一分钟，第二按键被按下曝光时间加6秒，第三按键被按下曝光时间减一分钟，第四按键按下曝光时间减6秒。按下各个按键的同时显示屏显示时间数值变化；调整电压和曝光时间完毕后按下第一自锁开关启动曝光流程，LED2、散热风扇、激光灯通电，显示屏显示“Startexposure”，一秒钟后显示屏进入倒计时状态，每一秒显示屏刷新一次，并且曝光时间依次减一秒，当曝光时间递减为0时，LED2、激光灯断电，报警器通电1秒，设备进入休息状态，显示屏显示“Startrest”，一秒钟后显示屏以曝光时间为时长进入倒计时，屏幕数字每秒递减，当曝光时间结束后散热风扇断电，报警器通电2秒。显示屏显示“Allfinish”。延迟曝光：旋转编码电位器，显示屏电压数值变化，接着按下按键，进行曝光时间调节，第一按键被按下曝光时间加一分钟，第二按键被按下曝光时间加6秒，第三按键被按下曝光时间减一分钟，第四按键被按下曝光时间减6秒。按下各个按键的同时显示屏显示时间数值变化；曝光时间调整完毕后按下第二自锁开关进行延迟时间设置，显示屏时间归零，第一按键被按下延迟时间加一分钟，第二按键被按下延迟时间加6秒，第三按键被按下延迟时间减一分钟，第四按键被按下延迟时间减6秒。调整电压、曝光时间和延迟时间完毕后按下第一自锁开关启动曝光流程，散热风扇启动，显示屏显示“Starttodelay”，一秒钟后显示屏进入倒计时状态，每一秒显示屏刷新一次，并且延迟时间依次减一秒，当延迟时间递减为0时，LED2、激光灯通电，设备进入曝光状态，显示屏显示“Startexposure”，一秒钟后显示屏进入倒计时状态，每一秒显示屏刷新一次，并且曝光时间依次减一秒，当曝光时间递减为0时，LED2、激光灯断电，报警器通电1秒，设备进入休息状态，显示屏显示“Startrest”，一秒钟后显示屏以曝本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种工业X射线探伤仪模拟方法，其特征在于，所述工业X射线探伤仪模拟方法通过工业X射线探伤仪模拟器件控制以模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程。

【技术特征摘要】
1.一种工业X射线探伤仪模拟方法，其特征在于，所述工业X射线探伤仪模拟方法通过工业X射线探伤仪模拟器件控制以模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程。2.如权利要求1所述的工业X射线探伤仪模拟方法，其特征在于，所述模拟真实工业X射线探伤仪的操作过程的包括：调节曝光电压；进入无延迟曝光或延迟曝光。3.如权利要求2所述的工业X射线探伤仪模拟方法，其特征在于，所述无延迟曝光的方法包括：调节曝光时间N；曝光时间N递减为0时，激光灯断电，报警器工作t秒；进入休息阶段，休息时间为N；休息时间N递减为0时，报警器工作T秒。4.如权利要求3所述的工业X射线探伤仪模拟方法，其特征在于，所述无延迟曝光的方法还包括：按下第一自锁开关进入无延迟曝光流程。5.如权利要求3所述的工业X射线探伤仪模拟方法，其特征在于，所述调节曝光时间N的方法包括：第一按键按下，曝光时间增加一分钟；第二按...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘宇齐，于宁，刘军华，谢帅涛，
申请(专利权)人：刘宇齐，
类型：发明
国别省市：江苏,32