LED测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种LED测试装置，包括一固定座、连接所述固定座的盖板、夹设于所述固定座与所述盖板之间的垫板及插设于所述固定座与所述盖板之间的探针组件；所述探针组件包括二探针排，二所述探针排分别设置于所述垫板的相对两侧。上述LED测试装置，探针组件插设于固定座与盖板之间，保证探针之间的间隙，使得探针活动顺畅；探针中间增加弹性件，配合第一调节凸轮及第二调节凸轮，在弹性件的弹性作用下，可调整探针的初始高度，确保每一探针高度的一致性，达到调整的灵活型、测试的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
LED测试装置
本专利技术涉及LED测试
，特别是涉及一种LED测试装置。
技术介绍
在现有技术中，LED的材料探针测试机构测试过程中，探针与待测试材料相接触时，材料受力不等，存在与待测试材料的引脚接触不可靠的问题，太松了影响了产品的正常导电，太紧容易损坏电极材料进而影响后续的正常使用。当前LED三晶材料底部探针测试机构的探针在上下运动过程中，各探针之间的间距难以保证，探针材料磨损很快，存在探针与待测试材料的引脚接触不可靠的问题，直接影响了LED产品测试的结果和产品的稳定性,成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
基于此，本专利技术提供一种LED测试装置，结构简单、成本低廉、测试稳定性好。为了实现本专利技术的目的，本专利技术采用如下技术方案：一种LED测试装置，包括一固定座、连接所述固定座的盖板、夹设于所述固定座与所述盖板之间的垫板及插设于所述固定座与所述盖板之间的探针组件；所述探针组件包括二探针排，二所述探针排分别设置于所述垫板的相对两侧；所述固定座设有若干第一容纳槽以容置其中一所述探针排，所述盖板设有若干第二容纳槽以容置另一所述探针排。上述LED测试装置，探针组件本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED测试装置，其特征在于，包括一固定座、连接所述固定座的盖板、夹设于所述固定座与所述盖板之间的垫板及插设于所述固定座与所述盖板之间的探针组件；所述探针组件包括二探针排，二所述探针排分别设置于所述垫板的相对两侧；所述固定座设有若干第一容纳槽以容置其中一所述探针排，所述盖板设有若干第二容纳槽以容置另一所述探针排。

【技术特征摘要】
1.一种LED测试装置，其特征在于，包括一固定座、连接所述固定座的盖板、夹设于所述固定座与所述盖板之间的垫板及插设于所述固定座与所述盖板之间的探针组件；所述探针组件包括二探针排，二所述探针排分别设置于所述垫板的相对两侧；所述固定座设有若干第一容纳槽以容置其中一所述探针排，所述盖板设有若干第二容纳槽以容置另一所述探针排。2.根据权利要求1所述的LED测试装置，其特征在于，各所述探针排包括第一探针及分别并排设置于所述第一探针相对两侧的第二探针；所述第一探针设有第一调节槽，所述第二探针设有第二调节槽，所述第二调节槽的位置与所述第一调节槽的位置相对应；所述第一调节槽内、所述第二调节槽内分别安装有一弹性件，各所述弹性件的上端分别抵接所述第一调节槽的槽壁、所述第二调节槽的槽壁。3.根据权利要求2所述的LED测试装置，其特征在于，所述LED测试装置包括插设于所述固定座上的若干第一调节凸轮、插设于所述盖板上的若干第二调节凸轮、及分别抵接所述第一调节凸轮、所述第二调节凸轮的若干紧固螺钉。4.根据权利要求3所述的LED测试装置，其特征在于，所述第一调节凸轮包括第一端帽、沿所述第一端帽轴心线方向设置的第一主轴体、及偏离所述第一端帽轴心线方向设置的第一偏心轴体；所述第一偏心轴体分别插设于所述第一调节槽与所述第二调节槽，且所述第一偏心轴体分别抵接各所述弹性件的下端；所述第二调节凸轮包括第二端帽、沿所述第二端帽轴心线方向设置的第二主轴体、及偏离所述第二端帽轴心线方向设置的第二偏心轴体；所述第二偏心轴体分别插设于所述第一调节槽与所述第二调节槽，且所述第二偏心轴体分别抵接各所述弹性件的下端。5.根据权利要求1所述的LED测试装置，其特征在于，所述固定座包括一顶板及自所述顶板的一端向下延伸的压板，所述顶板设有一第一锁...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶大虎，陈明贵，赵玉涛，
申请(专利权)人：深圳市炫硕智造技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44