用于获取单颗粒荧光-微观形貌的置样系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了用于获取单颗粒荧光‑微观形貌的置样系统及方法。该系统包括：第一密封圈、载片、第二密封圈、盖片、固定环、透射电镜用薄膜窗口、垫片；单颗粒样品负载在薄膜窗口的下表面；用于单颗粒荧光测量时，整套置样系统置于共聚光荧光显微镜的物镜上方，可获得荧光光谱和荧光图像；进行微观形貌分析时，将系统中薄膜窗口取下，反置放入透射电镜样品杆并利用透射电镜进行表征，可获得对应区域的微观形貌图；本发明专利技术可实现对同一个纳米颗粒进行单颗粒荧光和微观形貌的分析，具有单颗粒荧光信号清晰、微观形貌分辨率高的特点。

【技术实现步骤摘要】
用于获取单颗粒荧光-微观形貌的置样系统及方法
本专利技术涉及单颗粒荧光光谱测量和微观形貌分析研究领域，特别是涉及用于获取单颗粒荧光-微观形貌的置样系统及使用方法。
技术介绍
单颗粒荧光光谱技术，基于激光扫描共聚焦显微镜，能够在单个纳米颗粒的尺度上揭示其能量弛豫机制并实时监测其表面发生的光化学反应过程，成为研究电荷转移机制和催化反应机理的有效手段。而传统单颗粒荧光光谱技术无法同时提供高分辨的微观形貌信息，限制了该技术对精细纳米结构中电荷转移机制和光化学反应过程的研究。其难点在于：(1)高分辨微观形貌信息的获得需要透射电子显微镜(TEM)的辅助，而传统单颗粒荧光测试时其样品多分散在石英玻璃载片上，进行单颗粒荧光测量后，对其微观形貌的分析只能借助扫描电子显微镜(SEM)，导致其微观形貌分析的分辨率较低；若要利用透射电子显微镜对其进行形貌分析，需要对置样系统进行优化设计；(2)单个纳米颗粒的荧光非常弱，需要较强的激光作为光源进行激发，而石英玻璃载片具有荧光背景噪音低等优点，有利于单颗粒荧光信号的获取，若要利用能进行透射电镜分析的新的置样系统，必须克服强激光下荧光背景噪音等问题；(3)传统的石本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.用于获取单颗粒荧光‑微观形貌的置样系统，其特征在于，包括载片和与载片间隔设定距离设置的盖片，载片表面通过垫片支撑薄膜窗口，盖片一侧在薄膜窗口环向方向设置固定环以对薄膜窗口进行限位，薄膜窗口与载片之间留有空间且样品设于薄膜窗口表面。

【技术特征摘要】
1.用于获取单颗粒荧光-微观形貌的置样系统，其特征在于，包括载片和与载片间隔设定距离设置的盖片，载片表面通过垫片支撑薄膜窗口，盖片一侧在薄膜窗口环向方向设置固定环以对薄膜窗口进行限位，薄膜窗口与载片之间留有空间且样品设于薄膜窗口表面。2.根据权利要求1所述的用于获取单颗粒荧光-微观形貌的置样系统，其特征在于，所述固定环与所述盖片连接或接触。3.根据权利要求1所述的用于获取单颗粒荧光-微观形貌的置样系统，其特征在于，所述薄膜窗口表面的薄膜材料为氧化硅或氧化铝或氮化硅。4.根据权利要求1所述的用于获取单颗粒荧光-微观形貌的置样系统，其特征在于，所述盖片通过第一密封圈卡合，所述载片通过第二密封圈支撑，第二密封圈与第一密封圈连接。5.根据权利要求1或3所述的用于获取单颗粒荧光-微观形貌的置样系统，其特征在于，所述薄膜窗口为网格状，为单孔或多孔。6.根据权利要求1所述的用于获取单颗粒荧光-微观形貌的置样系统，其特征在于，所述垫片为环形垫片。7.根据权利要求1-6中任一项所述的用于获取单颗粒荧光-微观形貌的置样系统的安装方法，其特征在于，具体步骤如下：1)对薄膜窗口进行臭氧清洁处理和氧化铝原子层沉积预处理；2)对固定环、垫片、盖片和载片进行清洁；3)将载片设置于第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑昭科，黄柏标，张晓阳，秦晓燕，王泽岩，王朋，刘媛媛，张倩倩，
申请(专利权)人：山东大学，
类型：发明
国别省市：山东,37