探针、探针模块、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备制造方法及图纸

一种探针、探针模块、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备，该探针包括：一本体部；一由该本体部向上延伸的延伸部；一针身部，设于延伸部上方；该本体部、该延伸部与该针身部，三者分别具有不同的水平宽度，宽度由宽至窄的排序为该本体部>该延伸部>该针身部；该本体部的一端面平齐该延伸部的一端面与该针身部的一端面，三者皆切齐同一垂直线上；该电子元件检测方法包括：使数个支探针各在对应滑槽内滑移并各受滑槽内对应弹性件顶撑；在电子元件受一间歇性旋转的转盘搬运至探针装置上方时，移动机构受驱动模块驱动而连动探针模块位移；使数个支探针在接触电子元件进行特性检测时，数个支探针各在对应滑槽内位移压缩对应弹性件。

Probe, Probe Module, Probe Device and Detection Method and Equipment of Electronic Components Using the Probe Device

A probe, a probe module, a probe device and an electronic component detection method and apparatus using the probe device include: a body part; an extension part extending upward from the body part; a needle body part located above the extension part; the body part, the extension part and the needle body part have different horizontal widths, and the widths are arranged from the width to the narrowness as the body. Part > the extension part > the needle body part; one end face of the extension part of the body part is smooth, and one end face of the extension part and one end face of the needle body part are cut on the same vertical line; the detection method of the electronic element includes: slipping several probes in the corresponding chute and each of them is supported by the corresponding elastic parts in the chute; transporting the electronic element to the probe device by an intermittent rotating turntable When the mobile mechanism is driven by the driving module, the probe module is moved continuously; when several branch probes are used to detect the characteristics of the contact electronic components, the displacement of each branch probe is compressed in the corresponding sliding slot to the corresponding elastic parts.

【技术实现步骤摘要】
探针、探针模块、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备
本专利技术有关于一种探针、探针模块、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备，尤指一种可减少成本的探针、探针模块、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备。
技术介绍
一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分类的程序来进行包装或分类，专利号第M452344号「电子元件检测装置」已揭露一种用于进行高电压、高电流与高频率检测的探针装置，其探针构造设有一呈片状的探针、一呈条状且较粗、短的探测杆与一连结在两者之间呈片状且较细、长的力臂；该探测杆设于该探针的斜上方，该力臂由探针的上表面向上斜向延伸至探测杆底部，使力臂的下表面与探针的上表面间的夹角为锐角，且力臂的下表面与探针的上表面间形成一镂空的缓冲区；在探测杆与电子元件接触进行检测时，探测杆因承受了电子元件的重量而对倾斜的力臂施加向下的压力，使力臂向下弯曲产生些微变形而达到缓冲的效果。
技术实现思路
习知探针装置在对电子元件进行检测时，是利用力臂来达到缓冲的效果，但因电子元件的重量极为轻巧，故力臂的下表面不仅须与探针的上表面形成锐角，且力臂须有一定程度本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针，包括：一本体部；一延伸部，其由该本体部向上延伸；一针身部，设于延伸部上方；该本体部、该延伸部与该针身部，三者分别具有不同的水平宽度，宽度由宽至窄的排序为该本体部>该延伸部>该针身部；该本体部的一端面平齐该延伸部的一端面与该针身部的一端面，三者皆切齐同一条垂直线上。

【技术特征摘要】
2017.07.12 TW 1061233661.一种探针，包括：一本体部；一延伸部，其由该本体部向上延伸；一针身部，设于延伸部上方；该本体部、该延伸部与该针身部，三者分别具有不同的水平宽度，宽度由宽至窄的排序为该本体部>该延伸部>该针身部；该本体部的一端面平齐该延伸部的一端面与该针身部的一端面，三者皆切齐同一条垂直线上。2.如权利要求1所述的探针，其中，该本体部凸设有一导引部于其一侧面，该导引部具有矩形截面且导引部的一端面平齐该本体部的一端面，两者皆切齐同一条水平线上。3.如权利要求2所述的探针，其中，该导引部上设有一导接件用以与导线连接。4.如权利要求1所述的探针，其中，该延伸部的水平宽度向上递减。5.如权利要求1所述的探针，其中，该延伸部上设有一导接孔用以与导线连接。6.如权利要求1所述的探针，其中，该针身部上设有一呈矩形的接触面。7.如权利要求1所述的探针，其中，该本体部、该延伸部与该针身部，三者分别具有不同的垂直高度，高度由高至低的排序为该本体部>该延伸部&...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢昱呈，林芳旭，
申请(专利权)人：万润科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71