导电探针及使用和制造方法、降低导电探针放电的方法技术

本发明专利技术公开了一种导电探针及使用和制造方法、降低导电探针放电的方法。所述导电探针，包括支撑部和弯折部，所述支撑部的一端和弯折部电连接，所述支撑部和弯折部之间夹角为β，β∈(90°-180°)；所述弯折部包裹有耐高温绝缘材料，所述弯折部包括电接触部；通过使用耐高温绝缘材料包裹导电探针的放电裸露部位，减少导电探针放电；从而减小导电探针放电对使用造成的影响；结构简单，生产方便，使用可靠。

【技术实现步骤摘要】
导电探针及使用和制造方法、降低导电探针放电的方法
本专利技术涉及导电探针及使用和制造方法、降低导电探针放电的方法。
技术介绍
对于正装和倒装的LED晶粒，由于N极和P极在同一侧；为了测试LED晶粒的电参数和光参数，需要同时对LED晶粒的N极和P极导入测试电。目前广泛采用的测试方案是：将LED晶粒分别通过测试探针导入测试电。然而，随着LED晶粒越来越小，N极探针和P极探针之间因距离太近而放电造成探针加快烧蚀且影响LED测试的光参数和电参数。
技术实现思路
为改善N极探针和P极探针因距离太近放电，影响探针寿命，同时延伸及导电探针放电影响使用的问题；本专利技术提出一种导电探针及其制造方法和使用方法、降低导电探针放电的方法。本专利技术的技术方案为：一种导电探针，包括支撑部和弯折部，所述支撑部的一端和弯折部电连接，所述支撑部和弯折部之间夹角为β，β∈(90°180°)；所述弯折部包裹有耐高温绝缘材料，所述弯折部包括电接触部。通过使用耐高温绝缘材料降低导电探针放电，减小导电探针使用因放电带来的影响；技术方案简单，改善导电探针的使用效果；而且，能够降低导电探针弯折部的光洁度要求，降低导电探针的制造成本本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种导电探针，包括支撑部和弯折部，所述支撑部的一端和弯折部电连接，其特征在于：所述支撑部和弯折部之间夹角为β，β∈(90° 180°)；所述弯折部包裹有耐高温绝缘材料，所述弯折部包括电接触部。

【技术特征摘要】
1.一种导电探针，包括支撑部和弯折部，所述支撑部的一端和弯折部电连接，其特征在于：所述支撑部和弯折部之间夹角为β，β∈(90°180°)；所述弯折部包裹有耐高温绝缘材料，所述弯折部包括电接触部。2.根据权利要求1所述的导电探针，其特征在于：所述支撑部远离弯折部的一端设置有止转部，所述止转部与弯折部在同一平面内。3.根据权利要求1所述的半导体探针，其特征在于：所述耐高温绝缘材料为变压器绝缘漆。4.根据权利要求1所述的半导体探针，其特征在于：所述弯折部远离支撑部的一端为电接触部。5.一种权利要求1-4任意一项所述导电探针的使...

【专利技术属性】
技术研发人员：王胜利，杨应俊，
申请(专利权)人：深圳市矽电半导体设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44