微波表面电阻连续频谱测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了微波表面电阻连续频谱测试装置，包括固定介质柱和移动介质柱；所述固定介质柱设置于待测超导薄膜上，且移动介质柱连续运动并与固定介质柱产生相对位移，使得移动介质柱和固定介质柱之间电磁场变化。本发明专利技术微波表面电阻连续频谱测试装置，通过将固定介质柱和移动介质柱进行相对位移，实现了谐振频率的连续变化从而测得样品微波表面电阻的连续频率谱特性，实现准确连续无损的检测。

【技术实现步骤摘要】
微波表面电阻连续频谱测试装置
本专利技术涉及超导测试技术，具体涉及微波表面电阻连续频谱测试装置。
技术介绍
高温超导薄膜在液氮温区的微波表面电阻比常规良导体低2-3个数量级，这种低损耗特性使得以高温超导薄膜为基础的高温超导微波无源器件，在微波波段具有常规器件无法比拟的优良特性。目前各类超导器件已被广泛应用于各种微波无线系统。然而作为超导材料重要参数之一的薄膜表面电阻随频率连续变化的特性却一直没有切实可行的测试装置。现有的微波谐振器表面电阻(RS)测试方法通常仅能在一个频率点上进行，通过仔细设计采用谐波模式或高次模式，可以获得在几个频率点上的RS信息。但是这样的信息量对超导薄膜RS在频率维度的特性描述，特别是大功率情况下的特性描述是远远不够的，所以设计一种微波表面电阻连续频谱测试的装置成为亟待解决的难题。国内外目前尚无专门针对微波表面电阻连续频谱测试的方法和装置。国内外对微波表面电阻的测试只适用于单频点或高次模产生的离散的几个频点。在诸多高温超导薄膜微波非线性测试方法中，最具代表性的是已被采纳为针对超导薄膜电特性测试国家标准的双端短路结构双介质谐振器法，但是该标准测试对象为高温超导薄膜本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.微波表面电阻连续频谱测试装置，其特征在于，包括固定介质柱(25)和移动介质柱(26)；所述固定介质柱(25)设置于待测超导薄膜(22)上，且移动介质柱(26)连续运动并与固定介质柱(25)产生相对位移，使得移动介质柱(26)和固定介质柱(25)之间电磁场变化。

【技术特征摘要】
1.微波表面电阻连续频谱测试装置，其特征在于，包括固定介质柱(25)和移动介质柱(26)；所述固定介质柱(25)设置于待测超导薄膜(22)上，且移动介质柱(26)连续运动并与固定介质柱(25)产生相对位移，使得移动介质柱(26)和固定介质柱(25)之间电磁场变化。2.根据权利要求1所述的微波表面电阻连续频谱测试装置，其特征在于，所述移动介质柱(26)与固定介质柱(25)之间的相对位移为缩小或增大移动介质柱(26)与固定介质柱(25)之间的距离。3.根据权利要求2所述的微波表面电阻连续频谱测试装置，其特征在于，还包括支撑环(27)和滑动活塞(19)；所述支撑环(27)上设置固定介质柱(25)；所述支撑环(27)上设置与滑动活塞(19)匹配的滑槽，且滑动活塞(19)在所述滑槽内运动；所述固定介质柱(25)设置于所述滑槽的底部，且滑动活塞(19...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾成，陈柳，宁俊松，葛强，补世荣，王占平，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川,51