一种带有吸附功能手动直针测试插座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种带有吸附功能手动直针测试插座，包括下座件和上盖件，两者通过转轴连接；下座件上设有测试基座，测试基座上设有芯片定位槽，芯片定位槽内设有多个吸附件安装通孔，吸附件安装通孔内设有吸盘，下座件在吸附件安装通孔下侧设有气路通孔；上盖件上设有与测试基座作用的压板，压板上与芯片定位槽对应的位置设有浮板。本实用新型专利技术将芯片的吸附方式由传统的磁铁吸附改为吸盘吸附，解决人工安装磁铁出现的正反面安装错误的问题，并且解决磁铁回路干扰检测的问题，达到较好的检测效果。

【技术实现步骤摘要】
一种带有吸附功能手动直针测试插座
本技术涉及芯片测试领域，特别涉及一种带有吸附功能手动直针测试插座。
技术介绍
随着科学技术的发展，电子芯片已经广泛应用于各种电子产品中。在完成芯片大批量生产后，需要对芯片的合格性进行检测，以此来挑选出不合格的芯片，从而保留合格的芯片。而芯片的测试插座是一种在集成电路测试、电子系统调试、可编程芯片烧录、电路失效分析等领域广泛应用的电气连接设备，在芯片测试中直接与被测芯片相连起到测试信号传输的功能。特别是在集成电路测试行业中，测试插座作为测试机系统与被测芯片之间的接口，是保证测试良率、提高测试效率的关键之一，其性能如接触电阻、测试良品率、机械性能等，都会直接影响到测试效果。目前，国内外的测试插座普遍采用磁铁吸附的形式来保证芯片在检测过程中的准确性和稳定性，但是在安装和检测的过程中会出现诸多的问题：由于芯片测试插座都是批量生产，产量较大，工人在安装过程中难免会混淆磁铁的正反面，导致芯片检测结果的不准确性；对于高度集成化的芯片，在芯片安装过程中，磁铁的上表面有可能会划伤芯片，导致芯片的损坏；在检测过程中，磁铁的回路可能会干扰到检测过程，导致检测结果的不准确性。显然采用磁铁吸附的形式在插座安装和芯片检测过程中存在诸多问题，不利于工业生产的要求。
技术实现思路
本技术为解决上述问题，提供一种具有磁铁吸附功能手动直针测试插座，将芯片的吸附方式由传统的磁铁吸附改为吸盘吸附，解决人工安装磁铁出现的正反面安装错误的问题，并且解决磁铁回路干扰检测的问题，达到较好的检测效果。为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：一种带有吸附功能手动直针测试插座，包括下座件和上盖件，两者通过转轴连接；下座件上设有测试基座，测试基座上设有芯片定位槽，芯片定位槽内设有多个吸附件安装通孔，吸附件安装通孔内设有吸盘，下座件在吸附件安装通孔下侧设有气路通孔；上盖件上设有与测试基座作用的压板，压板上与芯片定位槽对应的位置设有浮板。进一步地，下座件上设有锁紧扣，上盖件上设有弹簧扣。进一步地，吸附件安装通孔个数优选为2。进一步地，吸盘包括前端的吸盘口和后端的导气管。综上所述，本技术具备以下优点：本技术采用塑料吸盘吸附芯片，不仅能够解决磁铁在安装过程中发生的错误，同时又能够解决磁铁吸附对测试过程中一定影响的问题。本技术具体采用塑料吸盘吸附芯片，在安装过程中避免了磁铁正反面的安装错误；而且，由于芯片、压板、浮板均存在微动，在合上插座的同时，会对芯片进行挤压，并通过外部的装置对吸盘内部进行抽气，使得吸盘内部形成真空，最终吸牢芯片。检测完毕后，通过外部的装置对吸盘内部进行放气，使得吸盘降低对芯片的吸引力，最终取下芯片。在整个检测过程中，吸盘最终对芯片不会产生影响，对芯片的检测结果也不会产生影响。附图说明图1是本技术的结构示意图；图2是下座件结构示意图；图3是图2中A-A剖面示意图；图4是吸盘结构示意图。具体实施方式下面结合附图及实施例对本技术作进一步描述：实施例1：一种带有吸附功能手动直针测试插座，如图1所示，包括下座件1和上盖件2，两者通过转轴3连接；继续参照附图2,下座件1上设有测试基座4。具体的，测试基座4上设有芯片定位槽41，芯片定位槽41内设有多个吸附件安装通孔42。并且，吸附件安装通孔个数优选为2。该吸附件安装通孔42内设有吸盘43，下座件1在吸附件安装通孔42下侧设有气路通孔11。其中，如附图4所示，吸盘43包括前端的吸盘口431和后端的导气管432。参照附图3，气管从气路通孔11内穿过与导气管432连接，从而气路能与吸盘接通，可以通过吸气和放气来控制吸盘对芯片的吸附和吸附后放开。继续参照附图1，上盖件2上设有与测试基座作用的压板5。该压板5上与芯片定位槽41对应的位置设有浮板51。进一步参照附图1，下座件1上设有锁紧扣12，上盖件2上设有弹簧扣21，锁紧扣12与弹簧扣21的应用实现了上盖件2与下座件1的锁紧。具体的，本结构具体采用塑料吸盘吸附待测芯片100，在安装过程中避免了磁铁正反面的安装错误。而且，由于芯片、压板、浮板均存在微动，在合上插座并通过弹簧扣21锁紧的同时，会对芯片进行挤压，并通过外部的装置对吸盘内部进行抽气，使得吸盘内部形成真空，最终吸牢芯片。检测完毕后，通过外部的装置对吸盘内部进行放气，使得吸盘降低对芯片的吸引力，最终取下芯片。在整个检测过程中，吸盘最终对芯片不会产生影响，对芯片的检测结果也不会产生影响。上述实施方式只为说明本技术的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人能够了解本技术的内容并据以实施，并不能以此限制本技术的保护范围。凡根据本技术精神实质所做的等效变换或修饰，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种带有吸附功能手动直针测试插座，其特征在于：包括下座件（1）和上盖件（2），两者通过转轴（3）连接；所述下座件（1）上设有测试基座（4），所述测试基座（4）上设有芯片定位槽（41），所述芯片定位槽（41）内设有多个吸附件安装通孔（42），所述吸附件安装通孔（42）内设有吸盘（43），所述下座件（1）在所述吸附件安装通孔（42）下侧设有气路通孔（11）；所述上盖件（2）上设有与所述测试基座作用的压板（5），所述压板（5）上与所述芯片定位槽（41）对应的位置设有浮板（51）。

【技术特征摘要】
1.一种带有吸附功能手动直针测试插座，其特征在于：包括下座件（1）和上盖件（2），两者通过转轴（3）连接；所述下座件（1）上设有测试基座（4），所述测试基座（4）上设有芯片定位槽（41），所述芯片定位槽（41）内设有多个吸附件安装通孔（42），所述吸附件安装通孔（42）内设有吸盘（43），所述下座件（1）在所述吸附件安装通孔（42）下侧设有气路通孔（11）；所述上盖件（2）上设有与所述测试基座作用的压板（5），所述压板（5）上与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋澄灿，刘鑫培，柳慧敏，
申请(专利权)人：苏州创瑞机电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32