The invention discloses a defect detection method for packaging materials of electronic display screen, which includes providing samples and pretreatment of samples; preparing nano-scale fluorescent solution or fluorescent gas according to the characteristics of samples, and storing the fluorescent solution or fluorescent gas in a non-light place; and placing the samples in fluorescent solution or fluorescent gas, so as to fully infiltrate the fluorescent molecules. Within the defect of the sample, the sample is taken out, cleaned and dried; the sample is irradiated by laser or ultraviolet light to fluoresce the fluorescent molecule in the defect; the sample is observed and the defect above nanometer level is obtained. The invention can clearly detect the defects of nano-scale and above in the packaging material of electronic display screen, and provides technical guarantee for detecting nano-scale defects. In addition, the invention has no limitation on the area of the encapsulation material of the electronic display screen, and does not destroy the metal layer or circuit under the encapsulation material of the electronic display screen, thus avoiding irreversible damage to the encapsulation material of the electronic display screen.
【技术实现步骤摘要】
电子显示屏封装材料的缺陷检测方法
本专利技术涉及半导体封装工艺,特别涉及一种电子显示屏封装材料的缺陷检测方法。
技术介绍
在电子显示屏的封装工艺中,为了提高其电学性能和可靠性,通常采用环氧树脂、有机硅材料和玻璃等材料对核心部件进行封装,起着与外界空气、水汽隔绝的作用。而封装工艺和材料的选择往往会导致封装层产生缺陷,成为潮气和腐蚀性离子入侵的快速通道,导致显示异常。因此如何定位电子显示屏封装中的缺陷是业界关注的焦点。目前对显示屏缺陷的定位方法主要以超声扫描显微镜和着色渗透探伤法为主,但是这些方法灵敏度不足,尤其是针对纳米级缺陷的定位较为困难。
技术实现思路
本专利技术提供一种电子显示屏封装材料的缺陷检测方法,以解决现有技术中存在的对电子显示屏封装材料上纳米级缺陷定位和检测困难的问题为解决上述技术问题,本专利技术提供一种电子显示屏封装材料的缺陷检测方法,包括:提供样品,并对样品进行预处理;根据样品特征配制纳米级别的荧光溶液或荧光气体,并将配置好的荧光溶液或荧光气体置于无光处保存;将所述样品放置于荧光溶液或荧光气体中,使荧光分子充分渗入样品的缺陷内;取出样品、清洗并烘干;采用激光或者紫外光照射样品,使缺陷中的荧光分子产生荧光;观测样品并获取样品上纳米级以上的缺陷。作为优选,所述荧光溶液包括荧光素、罗丹明B、罗丹明6G、三(8-羟基喹啉)铝(Alq3)等。浓度为1~1000ppm;所述荧光气体包括苯等,浓度为1~1000ppm。作为优选,所述样品的渗透时间为0.01~50小时。作为优选,采用荧光显微镜或共聚焦显微镜对样品表面以及截面进行观察,追踪进入到样品缺陷中的荧光 ...
【技术保护点】
1.一种电子显示屏封装材料的缺陷检测方法,包括:提供样品,并对样品进行预处理,所述样品预处理步骤包括:使用有机溶剂擦拭样品,并用光学显微镜观察,确保样品无污物;根据样品特征配制纳米级别的荧光溶液或荧光气体,并将配置好的荧光溶液或荧光气体置于无光处保存;将所述样品放置于荧光溶液或荧光气体中,使荧光分子充分渗入样品的缺陷内;取出样品、清洗并烘干;采用激光或者紫外光照射样品,使缺陷中的荧光分子产生荧光;观测样品并获取样品上纳米级以上的缺陷。
【技术特征摘要】
1.一种电子显示屏封装材料的缺陷检测方法,包括:提供样品,并对样品进行预处理,所述样品预处理步骤包括:使用有机溶剂擦拭样品,并用光学显微镜观察,确保样品无污物;根据样品特征配制纳米级别的荧光溶液或荧光气体,并将配置好的荧光溶液或荧光气体置于无光处保存;将所述样品放置于荧光溶液或荧光气体中,使荧光分子充分渗入样品的缺陷内;取出样品、清洗并烘干;采用激光或者紫外光照射样品,使缺陷中的荧光分子产生荧光;观测样品并获取样品上纳米级以上的缺陷。2.如权利要求1所述的电子显示屏封装材料的缺陷检测方法,其特征在于,所述荧光溶液包括荧光素、罗丹明B、罗丹明6G、三(8-羟基喹啉)铝(Alq3)...
【专利技术属性】
技术研发人员:张南,陈妍,寥金枝,潘慧慧,傅超,华佑南,李晓旻,
申请(专利权)人:胜科纳米苏州有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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