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本发明公开了一种电子显示屏封装材料的缺陷检测方法，包括提供样品，并对样品进行预处理；根据样品特征配制纳米级别的荧光溶液或荧光气体，并将配置好的荧光溶液或荧光气体置于无光处保存；将所述样品放置于荧光溶液或荧光气体中，使荧光分子充分渗入样品的缺...
该专利属于胜科纳米(苏州)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过胜科纳米(苏州)有限公司授权不得商用。

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