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中空零件漏气识别工艺与类似工艺应用的装置制造方法及图纸

技术编号:20111683 阅读:33 留言:0更新日期:2019-01-16 10:59
一种中空零件泄露检测工艺方法,包括所述中空零件需要密封阶段,在所述中空零件内部与检测室或箱体之间建立一个压差P1和P2,将示踪气体注入由所述中空部分和隔室或箱体之一的内部形成的注入室中,等待积累时间T,然后进行浓缩阶段,至少部分提取所述中空部分和所述隔室或所述隔室中的另一个的内部形成的控制室的内容物,其中没有注入示踪气体,以便将控制室内容可能含有的示踪气体浓缩到可以取样的体积,然后在该取样体积中寻找是否存在示踪气体。

Air Leakage Recognition Technology for Hollow Parts and Apparatus for Application of Similar Technology

A leak detection process method for hollow parts includes a sealing stage for the hollow parts, a differential pressure P1 and P2 are established between the hollow parts and the inspection chamber or box body, and tracer gas is injected into the injection chamber formed by the hollow part and the inner part of the compartment or box body, waiting for accumulation time T, and then concentrating stage, at least partially extracting the said medium. The empty part and the contents of the control room formed in the compartment or another interior of the compartment are not injected with tracer gas in order to concentrate the tracer gas that may be contained in the control room into the volume that can be sampled, and then to find out whether there is tracer gas in the sampling volume.

【技术实现步骤摘要】
中空零件漏气识别工艺与类似工艺应用的装置
本专利技术涉及工艺中空零件漏气的识别,其密封性是经过检测的。更加确切而言,本专利技术涉及使用示踪气体来识别类似的漏气。本专利技术主要应用于工业用途零件的生产领域,比如汽车工业,以便识别其运行需要完全密封的各种零件的漏气。
技术介绍
在使用示踪气体来识别漏气的技术当中,某些技术是用这种气体对需要检测的零件内部加压,将其置于一个房间内,以便识别从零件向房间泄露的微量的气体数量。其他技术,相反,将需要检测的零件置于富含示踪气体的环境中,寻找待检测零件内部是否存在这种气体。还有已知的技术,特别是针对微量泄露,将待检测一个零件内部置于非常高的真空下,然后识别可能进入零件的示踪气体的分子。以及,美国专利US-A-5,661,229,描述了一种检测方法,在氦气检测空间内,通过一层石英玻璃,设计成只允许这种气体通过。专利申请WO-1-2017012904描述了一种密封产品密封性的检测工艺方法,也使用氦气作为示踪气体,根据这种方法,利用质谱仪来测量氦气的浓度。这些技术的一个确定是,需要首先建立一个高真空度,这就增加了这些技术应用的成本。实际上类似高真空度需要使用价格昂贵的材料和大量的维护工作。光谱仪的使用也增加了成本。其他的技术,不需要利用高真空度的,是对待检测示踪气体的零件加压,利用嗅探器型探测器寻找泄漏。此外,类似方法还可以定位泄露的部位。相反,采用这些技术,不能对零件整体进行检测,由于嗅探器不能足够接近泄漏处,不能检测到泄漏。有时候,泄露点根本无法进入。其他的技术,也不需要采用高真空度的,是将待检测零件密封,将其置于一个箱体中,对房间加压并使箱体处于大气压下,然后等待足够长的时间,然后使用对这种敏感的探测器检测可能存在的示踪气体。类似技术,所谓的积累型,其缺点是应用需要较长时间,这不太符合待检测零件生产节奏的要求。此外,积累以后的示踪气体较低,市场上现有检测器无法识别。因此,需要对以前检测泄露的工艺方法进行替代,以便降低成本,同时缩短检测时间并可以识别微量的泄露。
技术实现思路
本专利技术目的是推荐一种泄露识别工艺,至少克服了上述工艺的某些缺点。特别是,本专利技术的一个目的是描述不需要高真空度的工艺方法。本专利技术的另一个目的是推荐需要较短时间识别示踪气体的一种工艺方法。再者,本专利技术的另一个目的是,推荐一种可以检测比同一种商业示踪气体检测器更低泄露的工艺方法。由于本专利技术,这些目的,以及下面所述的其他目的得以实现,本专利技术涉及一种中空零件泄露检测工艺方法,包括所述中空零件需要密封阶段,在该中空零件内部与检测室或箱体之间建立一个压差P1和P2,将示踪气体注入由中空部分和所述隔室或所述箱体之一的内部形成的注入室中,等待积累时间T,然后进行浓缩阶段,至少部分提取所述中空部分和所述隔室或所述隔室中的另一个的内部形成的控制室的内容物,其中没有注入示踪气体,以便将控制室内容可能含有的示踪气体浓缩到可以取样的体积,然后在该取样体积中寻找是否存在示踪气体。根据本专利技术优先实施方式,通过释放顺序进行取样,然后再次压缩,包括检测室内容释放第一个步骤,以便向浓缩室供给取样体积,接着是取样体积再次压缩第二个布置,以便在该取样体积中识别示踪气体步骤之前,保证其浓度。根据改变的方式,这种工艺方法包括多个释放顺序,载荷检测室内容再次压缩,包括该顺序至少两次连续迭代。这些顺序迭代的目的是保证检测体积的混合与均匀,以便确保示踪气体测量可靠。本专利技术工艺方法还涉及检测室内容混合的其他方法,以防止该室出现任何静止区域,利用组合方法,包括:-检测室内容突然释放和/或再次压缩装置(即自身引起的,比如湍流效应)-组成的动态混合装置,比如由室内风扇和/或该室室外涡轮机装置;-该室内部表面构造组成的静态混合装置,在自然或强制气体运动之际(吸气或压缩,泵送,风扇,涡轮机等)引起气体混合第一种实施原理的优点,示踪气体检测布置在浓缩室下游处的检测室中进行,浓缩室与检测室之间的通信线路含有一个限制。根据第二个实施原理,浓缩室与检测室之间通信线路含有一个膜式过滤单元。根据该第二个实施原理,本专利技术推荐在一定时间T内积累可能进入待检测零件的示踪气体,然后通过膜式过滤将其进行浓缩,在利用适当的检测器进行检测之前。本专利技术方法也可以用于,通过与检测体积接触气体的检测器,完成浓缩室中示踪气体的检测阶段。无论是在第一或第二实施原理框架下,这种浓缩步骤都可以检测非常低的泄漏。实际上,根据本专利技术,示踪气体的检测不是在原始含量上进行,而是在浓缩内容上面进行。如果泄漏非常小并且相邻隔室中没有非常高的真空,则泄漏的示踪气体数量可以忽略不计,并且在没有这种浓度的情况下,除非使用复杂的检测器,比如昂贵的光谱仪,否则可能检测不出来。此外,在不需要实现高真空的情况下获得这样的结果,包括使用复杂且昂贵的设备来获得并保持高真空。因此,本专利技术提出了一种非常有趣的替代现有技术的泄漏检测方法。该方法可以根据至少两种优先性改变方法来实施。以下结合第二种实施方案原理(使用过滤膜)来描述这两种改变方法,但根据第一种实施方案原理(无膜),它们均同样可以使用。因此,根据第一种改变方法,待检测中空零件含有一个隔室A和与隔室A相邻的隔室B。根据本专利技术的方法包括以下步骤:在密封之后对所述隔室A和所述相邻隔室B中的一个内的示踪气体的P1加压,以使其承受压力P2<P1除了所述隔室A和所述相邻隔室B中的另一个内的示踪气体之外的另一种气体,等待存储时间T,在至少一个隔膜上过滤没有放置示踪气体隔室A或隔室B其中一个隔室的内容,以便在所述膜下游的体积中进行浓缩,示踪气体可能包含在隔室A或隔室B中,其中没有施加示踪气体。根据第二种改变方法,待检测零件没有两个相邻隔室时,可以使用这种检测方法,这种方法包括将事先密封的待检测零件放入一个形成箱体的隔室中,将中空零件和该箱体其中一个内部的示踪气体施加压力P1,将中空零件和该箱体其中一个内部的另一种气体施加压力P2<P1,等待一定时间T,在至少一个膜上过滤所述中空零件或所述箱体的内容物,其中没有放置示踪气体,以便在所述膜下游的体积中浓缩没有放置示踪气体的中空零件或所述箱体的内容。这第二中改变方法本身可以根据两个子改变方法来运用。根据一种子改变方法,这种工艺方法包括所述中空零件放置在形成箱体的腔室中的连续步骤,在所述中空零件内对所述示踪气体的P1加压,对所述箱体内部所述其他气体的P2<P1加压,等待一段时间T,在膜上面过滤所述箱体的内容物并寻找所述膜下游是否存在示踪气体。根据第二种改变方法,连续的步骤包括将所述中空零件放置在形成箱体的腔室中,对所述箱体内的所述示踪气体的加压P1,在所述内部的其他气体的加压P2<P1。在所述中空零件中,等待一段时间T,在膜上过滤所述中空零件的内容物,并寻找所述膜下游是否存在示踪气体。无论采用哪种改变方法,在氦气与空气或氮气中的氦气或氢气的混合物构成的组合中优先选择示踪气体。其他气体优选为空气。另外,优选压力P1在1巴到40巴之间。压力P2可以等于大气压,但也可以有利地降低。时间T,对应示踪气体可以在通过膜浓缩之前未被放置的隔室中累积的时间T可以特别地根据测试件的尺寸而变化。特别是其内部容积和寻找本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种中空零件泄露检测工艺方法,包括所述中空零件需要密封阶段,在所述中空零件内部与检测室或箱体之间建立一个压差P1和P2,将示踪气体注入由所述中空部分和隔室或箱体之一的内部形成的注入室中,等待积累时间T,然后进行浓缩阶段,至少部分提取所述中空部分和所述隔室或所述隔室中的另一个的内部形成的控制室的内容物,其中没有注入示踪气体,以便将控制室内容可能含有的示踪气体浓缩到可以取样的体积,然后在该取样体积中寻找是否存在示踪气体。

【技术特征摘要】
2017.07.06 FR 1756387;2017.10.30 FR 17602501.一种中空零件泄露检测工艺方法,包括所述中空零件需要密封阶段,在所述中空零件内部与检测室或箱体之间建立一个压差P1和P2,将示踪气体注入由所述中空部分和隔室或箱体之一的内部形成的注入室中,等待积累时间T,然后进行浓缩阶段,至少部分提取所述中空部分和所述隔室或所述隔室中的另一个的内部形成的控制室的内容物,其中没有注入示踪气体,以便将控制室内容可能含有的示踪气体浓缩到可以取样的体积,然后在该取样体积中寻找是否存在示踪气体。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过释放顺序进行取样,然后再次压缩,包括检测室内容释放第一个步骤,以便向浓缩室供给取样体积,接着是取样体积再次压缩第二个布置,以便在该取样体积中识别示踪气体步骤之前,保证其浓度。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法包括多个释放顺序,载荷检测室内容再次压缩,包括该顺序至少两次连续迭代,这些顺序迭代的目的是保证检测体积的混合与均匀,以便确保示踪气体测量可靠。4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还涉及检测室内容混合的其他方法,以防止该室出现任何静止区域,利用组合方法,包括:-检测室内容突然释放和/或再次压缩装置(即自身引起的,比如湍流效应)-组成的动态混合装置,比如由室内风扇和/或该室室外涡轮机装置;-该室内部表面构造组成的静态混合装置,在自然或强制气体运动之际(吸气或压缩,泵送,风扇,涡轮机等)引起气体混合。5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,示踪气体检测布置在浓缩室下游处的检测室中进行,浓缩室与检测室之间的通信线路含有一个限制(49)。6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述示踪气体搜索步骤在位于所述浓缩室下游的检测室中进行,所述室的通信电路用检测室浓缩,包括膜过滤单元(6,7)。7.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述示踪气体搜索步骤借助于与所述检测体积接触的气体检测器在所述浓缩室中进行。8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其中,所述中空部分具有隔室A和与所述隔室A相邻的隔室B,其特征在于,所述方法包括对气体的P1加压的步骤。在密封之后示踪所述隔室A和所述相邻隔室B中的一个的内部,以使所述隔室A中的另一个内的除示踪气体之外的气体的压力P2<P1。并且相邻隔间B,等待一段时间T,收集并集中隔间A或隔间B之一的全部或部分内容物,其中没有放置示踪气体以便集中在一个体积中。下游示踪气体任选地包含在隔室A或隔室B中,其中没有放置示踪气体。9.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:将预先密封的所述中空部分放置在形成外壳的腔室中,以用示踪气体对P1加压。在所述中空部分和所述外壳中的一个内部,在所述中空部分和所述外壳中的另一个内部施加除了示踪气体之外的另一种气体的压力P2<P1,等待时间T,收集和浓缩所述中空部分或所述外壳的全部或部分内容物,其中没有放置示踪气体,以便集中在任选包含在所述中空部分或所述外壳中的示踪气体下游的体积中,没有放入示踪气体。1...

【专利技术属性】
技术研发人员:让·吕克·里杰夫尤里·多尔戈鲁基布莱恩·布莱特
申请(专利权)人:亚得克
类型:发明
国别省市:法国,FR

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