键合不良的检测方法和检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种键合不良的检测方法和检测装置，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的发光二极管显示面板与驱动芯片键合不良的检测效率低的问题。本发明专利技术的键合不良的检测方法包括在步骤S1，驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，一个数据输出引脚输出第一电平，该数据输出引脚的沿第一方向的第一侧的数据输出引脚输出第二电平，其余数据输出引脚均输出第三电平；在步骤S2，获取该驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和；在步骤S3，判断该驱动芯片的数据输出引脚的设定的连续区域内所有数据输出引脚是否均输出过第一电平，如是则转至步骤S4；在步骤S4，根据参考电流值、该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和确定键合不良的位置和性质。

Detection methods and detection devices for poor bonding

The invention provides a detection method and a detection device for poor bonding, belonging to the display technology field, which can at least partially solve the problem of low detection efficiency of poor bonding between the existing LED display panel and the driving chip. The detection method of poor bonding of the present invention includes that the driver chip outputs data voltage to all its data output pins, a data output pin outputs a first level, the data output pin of the data output pin outputs a second level along the first side of the first direction, and the rest of the data output pins outputs a third level. Current with data output pins; Firstly, determine whether all data output pins in the set continuous area of the data output pins of the driver chip have output the first level, and if so, turn to 65507

【技术实现步骤摘要】
键合不良的检测方法和检测装置
本专利技术属于显示
，具体涉及一种键合不良的检测方法和一种键合不良的检测装置。
技术介绍
在制作发光二极管显示装置时，通常需要将驱动芯片键合在发光二极管显示面板上。其中的一类驱动芯片也称为SourceIC，其具有的数据输出引脚与该发光二极管显示面板中的数据接收线键合(也称bonding或绑定)，从而由SourceIC向发光二极管显示面板提供数据电压。通常一个发光二极管显示面板对应一个SourceIC，当然，如果该发光二极管显示面板的数据接收线数量过大时，也会设置两个或多个SourceIC，每个SourceIC仅负责驱动其中的部分数据接收线。现有的检测数据输出引脚与数据接收线之间键合不良的方式是依靠显微镜对这些数据输出引脚逐个查看，这种检测方法效率非常低。
技术实现思路
本专利技术至少部分解决现有的驱动芯片与发光二极管显示面板之间键合不良的检测效率低的问题，提供一种键合不良的检测方法和一种键合不良的检测装置。根据本专利技术第一方面，提供一种键合不良的检测方法，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，所述显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，所述驱动芯片具有多个数据输出引脚，所述数据输出引脚与所述数据接收线一一对应地键合在一起，每个驱动芯片的所述数据输出引脚沿第一方向排列，所述检测方法包括：在步骤S1中，所述驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，其中，一个数据输出引脚输出第一电平，该数据输出引脚的沿所述第一方向的第一侧的数据输出引脚输出第二电平，其余数据输出引脚均输出第三电平，所述第一电平大于所述第二电平、所述第三电平小于或等于所述第一电平，并且所述第三电平大于或等于所述第二电平；在步骤S2中，获取该驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和，该电流和为当前输出第一电平的数据输出引脚对应的电流和；在步骤S3中，判断该驱动芯片的所述数据输出引脚的设定的连续区域内所有数据输出引脚是否均输出过所述第一电平，如果否则转至步骤S1并向该连续区域中此前未输出过所述第一电平的一个数据输出引脚输出所述第一电平，如果是则转至步骤S4；在步骤S4中，根据参考电流值、该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和确定该驱动芯片的所述数据输出引脚与所述数据接收线的键合不良的位置和性质，其中，所述参考电流值为表征该驱动芯片的各所述数据输出引脚与各所述数据接收线之间均键合合格情况下步骤S2中预期的电流和。可选地，所述步骤S4包括：在步骤S41中，在各电流和中查找是否存在大于第一阈值的电流和，若是则以大于第一阈值的电流和对应的数据输出引脚作为第一类数据输出引脚，并判定所述第一类数据输出引脚中存在相邻数据输出引脚之间的短路不良，所述第一阈值大于所述参考电流值。可选地，所述第三电平与所述第一电平和所述第二电平均不等，所述步骤S41具体包括：判定每个所述第一类数据输出引脚均发生相邻数据输出引脚之间的短路不良。可选地，在步骤S42中，在各电流和中查找是否存在小于第二阈值的电流和，若是则以小于第二阈值的电流和对应的数据输出引脚作为第二类数据输出引脚，并判定所述第二类数据输出引脚中存在数据输出引脚与对应的数据接收线之间的断路不良或者阻抗超标不良，所述第二阈值小于所述参考电流值。可选地，所述步骤S42具体包括：在所述第二类数据输出引脚中查找对应的电流和中是否存在大于第三阈值的电流和，若是则判定大于所述第三阈值的电流和对应的第二类数据输出引脚中存在发生数据输出引脚与数据接收线阻抗超标不良的数据输出引脚，所述第三阈值小于所述第二阈值；或者在所述第二类数据输出引脚中查找对应的电流和中是否存在小于第四阈值的电流和，若是则判定小于所述第四阈值的电流和对应的第二类数据输出引脚中存在发生数据输出引脚与数据接收线断路不良的数据输出引脚，所述第四阈值小于所述第二阈值。可选地，所述第三电平与所述第一电平和所述第二电平均不等。可选地，所述连续区域为该驱动芯片的全部的数据输出引脚。可选地，所述连续区域为该驱动芯片的依次相邻的部分数据输出引脚。可选地，所述参考电流值是一个预设的电流值；或者在步骤S4之前所述检测方法还包括获取所述参考电流值的步骤，该步骤包括：对该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和进行统计计算以得到所述参考电流值，或者所述获取所述参考电流值的步骤包括：选取数据输出引脚与数据接收线的键合全部合格的标准驱动芯片和标准显示面板，所述标准驱动芯片与所述驱动芯片为相同型号的芯片，所述标准显示面板与所述显示面板为相同型号的面板，由该标准驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，其中，一个数据输出引脚输出所述第一电平，该数据输出引脚的沿所述第一方向的第一侧的数据输出引脚输出所述第二电平，其余数据输出引脚均输出所述第三电平，获取该标准驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和，根据该电流和确定所述参考电流值。根据本专利技术的第二方面，提供一种键合不良的检测装置，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，所述显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，所述驱动芯片具有多个数据输出引脚，所述数据输出引脚与所述数据接收线一一对应地键合在一起，每个所述驱动芯片的所述数据输出引脚沿第一方向排列，所述检测装置包括：显示数据提供单元，用于控制所述驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，其中，一个数据输出引脚输出第一电平，该数据输出引脚的沿所述第一方向的第一侧的数据输出引脚输出第二电平，其余数据输出引脚均输出第三电平，所述第一电平大于所述第二电平、所述第三电平小于或等于所述第一电平，并且所述第三电平大于或等于所述第二电平；电流和获取单元，获取该驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和，该电流和为当前输出第一电平的数据输出引脚对应的电流和；判断单元，用于判断该驱动芯片的所述数据输出引脚的设定的连续区域内所有数据输出引脚是否均输出过所述第一电平，如果否则控制所述显示数据提供单元向该连续区域中此前未输出过所述第一电平的数据输出引脚输出所述第一电平，如果是则向计算单元发送触发信号；所述计算单元，用于根据参考电流值、该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和确定该驱动芯片的所述数据输出引脚与所述数据接收线的键合不良的位置和性质，其中，所述参考电流值为表征该驱动芯片的各所述数据输出引脚与各所述数据接收线之间均键合合格情况下电流和获取单元预期获取的电流和。根据本专利技术的第三方面，提供一种键合不良的检测装置，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，所述显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，所述驱动芯片具有多个数据输出引脚，所述数据输出引脚与所述数据接收线一一对应地键合在一起，每个驱动芯片的所述数据输出引脚沿第一方向排列，所述检测装置包括存储器和处理器，所述存储器存储指令，所述处理器用于运行所述指令以执行根据本专利技术第一方面的检测方法。附图说明图1为驱动芯片与显示面板键合不良的示意图；图2为本专利技术的实施例的键合不良的检测方法中得到的键合不良情况下的电流和的分布图；图3为本专利技术的实施例的一种键合不良的检测方法的流程示意图；图4为本专利技术的实施例的键合不良的检测装置的框图；图5是本专利技术另一实施例的键合不良的检测装置的框图；其中，附图标记为：1、驱动芯片；11本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种键合不良的检测方法，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，所述显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，所述驱动芯片具有多个数据输出引脚，所述数据输出引脚与所述数据接收线一一对应地键合在一起，每个驱动芯片的所述数据输出引脚沿第一方向排列，其特征在于，所述检测方法包括：在步骤S1中，所述驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，其中，一个数据输出引脚输出第一电平，该数据输出引脚的沿所述第一方向的第一侧的数据输出引脚输出第二电平，其余数据输出引脚均输出第三电平，所述第一电平大于所述第二电平、所述第三电平小于或等于所述第一电平，并且所述第三电平大于或等于所述第二电平；在步骤S2中，获取该驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和，该电流和为当前输出第一电平的数据输出引脚对应的电流和；在步骤S3中，判断该驱动芯片的所述数据输出引脚的设定的连续区域内所有数据输出引脚是否均输出过所述第一电平，如果否则转至步骤S1并向该连续区域中此前未输出过所述第一电平的一个数据输出引脚输出所述第一电平，如果是则转至步骤S4；在步骤S4中，根据参考电流值、该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和确定该驱动芯片的所述数据输出引脚与所述数据接收线的键合不良的位置和性质，其中，所述参考电流值为表征该驱动芯片的各所述数据输出引脚与各所述数据接收线之间均键合合格情况下步骤S2中预期的电流和。...

【技术特征摘要】
1.一种键合不良的检测方法，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，所述显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，所述驱动芯片具有多个数据输出引脚，所述数据输出引脚与所述数据接收线一一对应地键合在一起，每个驱动芯片的所述数据输出引脚沿第一方向排列，其特征在于，所述检测方法包括：在步骤S1中，所述驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，其中，一个数据输出引脚输出第一电平，该数据输出引脚的沿所述第一方向的第一侧的数据输出引脚输出第二电平，其余数据输出引脚均输出第三电平，所述第一电平大于所述第二电平、所述第三电平小于或等于所述第一电平，并且所述第三电平大于或等于所述第二电平；在步骤S2中，获取该驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和，该电流和为当前输出第一电平的数据输出引脚对应的电流和；在步骤S3中，判断该驱动芯片的所述数据输出引脚的设定的连续区域内所有数据输出引脚是否均输出过所述第一电平，如果否则转至步骤S1并向该连续区域中此前未输出过所述第一电平的一个数据输出引脚输出所述第一电平，如果是则转至步骤S4；在步骤S4中，根据参考电流值、该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和确定该驱动芯片的所述数据输出引脚与所述数据接收线的键合不良的位置和性质，其中，所述参考电流值为表征该驱动芯片的各所述数据输出引脚与各所述数据接收线之间均键合合格情况下步骤S2中预期的电流和。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S4包括：在步骤S41中，在各电流和中查找是否存在大于第一阈值的电流和，若是则以大于第一阈值的电流和对应的数据输出引脚作为第一类数据输出引脚，并判定所述第一类数据输出引脚中存在相邻数据输出引脚之间的短路不良，所述第一阈值大于所述参考电流值。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述第三电平与所述第一电平和所述第二电平均不等，所述步骤S41具体包括：判定每个所述第一类数据输出引脚均发生相邻数据输出引脚之间的短路不良。4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S4包括：在步骤S42中，在各电流和中查找是否存在小于第二阈值的电流和，若是则以小于第二阈值的电流和对应的数据输出引脚作为第二类数据输出引脚，并判定所述第二类数据输出引脚中存在数据输出引脚与对应的数据接收线之间的断路不良或者阻抗超标不良，所述第二阈值小于所述参考电流值。5.根据权要求4所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S42具体包括：在所述第二类数据输出引脚中查找对应的电流和中是否存在大于第三阈值的电流和，若是则判定大于所述第三阈值的电流和对应的第二类数据输出引脚中存在发生数据输出引脚与数据接收线阻抗超标不良的数据输出引脚，所述第三阈值小于所述第二阈值；或者在所述第二类数据输出引脚中查找对应的电流和中是否存在小于第四阈值的电流和，若是则判定小于所述第四阈值的电流和对应的第二类数据输出引脚中存在发生数据输出引脚与数据接收线断路不良的数据输出引脚，所述第四阈值小于所述第二阈值。6.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖成浩，吴国强，兰传艳，刘颖，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11