一种时序测试方法、装置及VR芯片制造方法及图纸

技术编号:20073058 阅读:28 留言:0更新日期:2019-01-15 00:04
本发明专利技术提供一种时序测试方法、装置及VR芯片,对服务器板卡中的VR芯片进行时序测试时,通过对服务器板卡中的VR芯片中的电路进行改进,以使得电路对服务器板卡的输入电压进行分压得到的使能电压是使能电压最大且输入电压跌落时使能电压不跌落至不可控区间的临界状态下的使能电压。因为服务器板卡中的VR芯片中的电路能够使得输入电压跌落时使能电压不跌落至不可控区间,故可以避免对VR芯片进行时序测试过程中,出现VR芯片的输出电压跳变不单调的问题;并且,服务器板卡中的VR芯片中的电路能够使得在输入电压跌落时使能电压不跌落至不可控区间的基础上保证使能电压最大,因此,还可以进一步避免因为还能电压过小所导致的VR芯片工作异常的问题。

A Time Series Test Method, Device and VR Chip

The invention provides a timing test method, device and VR chip. When testing the VR chip in the server board, the circuit in the VR chip in the server board is improved so that the enabling voltage obtained by dividing the input voltage of the server board is the maximum enabling voltage and the enabling voltage does not fall to the uncontrollable range when the input voltage drops. Enabling voltage at critical state. Because the circuit of VR chip in server board can keep the input voltage from dropping to uncontrollable range when the input voltage drops, it can avoid the problem that the output voltage jump of VR chip is not monotonous during the sequential test of VR chip; moreover, the circuit of VR chip in server board can keep the input voltage from dropping to no when the input voltage drops. The maximum enabling voltage is guaranteed on the basis of the controllable range. Therefore, the abnormal operation of VR chips caused by too low voltage can be further avoided.

【技术实现步骤摘要】
一种时序测试方法、装置及VR芯片
本专利技术涉及测试
,更具体地说,涉及一种时序测试方法、装置及VR芯片。
技术介绍
服务器板卡在开发过程中,需要进行一系列严格的测试,来验证其各项指标是否符合设计要求。服务器板卡由多个VR(VoltageRegulation,电压转换)芯片构成,对服务器板卡进行测试主要涉及到对服务器板卡中的VR芯片进行时序测试。现有技术在对服务器板卡的VR芯片进行时序测试的过程中,VR芯片的使能(enable,EN)电压通常会随服务器板卡输入电压跌落的趋势下降,当VR芯片的使能电压跌落至不可控区域时,会使得VR芯片再次工作,进而造成VR芯片的输出电压跳变不单调的问题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术提供一种时序测试方法、装置及VR芯片,以避免对VR芯片进行时序测试过程中,出现VR芯片的输出电压跳变不单调的问题。技术方案如下:一种时序测试方法,包括:确定待进行时序测试的服务器板卡中的VR芯片,所述VR芯片包括用于对所述服务器板卡的输入电压进行分压得到所述VR芯片的使能电压的电路;所述电路用于保证所述使能电压最大且在所述输入电压跌落时所述使能电压不跌落至不可控区间本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种时序测试方法,其特征在于,包括:确定待进行时序测试的服务器板卡中的VR芯片,所述VR芯片包括用于对所述服务器板卡的输入电压进行分压得到所述VR芯片的使能电压的电路;所述电路用于保证所述使能电压最大且在所述输入电压跌落时所述使能电压不跌落至不可控区间;获取由处于VOUT信号上升沿触发状态的示波器,抓取到的所述服务器板卡在上电时,所述VR芯片的四个引脚的信号波形;获取由处于VOUT信号下降沿触发状态的所述示波器,抓取到的所述服务器板卡在关机时,所述VR芯片的四个引脚的信号波形;所述四个引脚包括VIN引脚、EN引脚、PG引脚以及VOUT引脚。

【技术特征摘要】
1.一种时序测试方法,其特征在于,包括:确定待进行时序测试的服务器板卡中的VR芯片,所述VR芯片包括用于对所述服务器板卡的输入电压进行分压得到所述VR芯片的使能电压的电路;所述电路用于保证所述使能电压最大且在所述输入电压跌落时所述使能电压不跌落至不可控区间;获取由处于VOUT信号上升沿触发状态的示波器,抓取到的所述服务器板卡在上电时,所述VR芯片的四个引脚的信号波形;获取由处于VOUT信号下降沿触发状态的所述示波器,抓取到的所述服务器板卡在关机时,所述VR芯片的四个引脚的信号波形;所述四个引脚包括VIN引脚、EN引脚、PG引脚以及VOUT引脚。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电路包括第一分压电阻、第二分压电阻和电容,所述第一分压电阻的第一端与电压输入端连接,第二端与第二分压电阻的第一端连接,所述第二分压电阻的第二端接地,所述电压输入端用于输入所述输入电压;所述电容的第一端与所述第二分压电阻的第一端连接,第二端接地。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一分压电阻的电阻值为10Kohm。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第二分压电阻的电阻值为2.4Kohm。5.一种时序测试装置,其特征在于,包括:VR芯片确定单元,用于确定待进行时序测试的服务器板卡中的VR芯片,所述VR芯片包括用于对所述服务器板卡的输入电压进行分压得到所述VR芯片的使能电压的电路;所述电路用于保证所述使能电压最大且在所述输入电压跌落时所述使能电压不跌落至不可控区间;...

【专利技术属性】
技术研发人员:高玉
申请(专利权)人:郑州云海信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:河南,41

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