缺陷检测方法、装置、存储介质及处理器制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种缺陷检测方法、装置、存储介质及处理器。其中，该方法包括：获取预定图像中待检测设备上的待检测区域，其中，所述待检测区域包括多个像素点；对所述待检测区域进行均值滤波，得到滤波后的各像素点的滤波像素值；根据所述待检测区域内多个像素点的初始像素值与所述滤波像素值确定图像的缺陷像素点；根据所述缺陷像素点确定所述待检测区域中的缺陷区域。本发明专利技术解决了无法准确进行缺陷检测的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
缺陷检测方法、装置、存储介质及处理器
本专利技术涉及检测领域，具体而言，涉及一种缺陷检测方法、装置、存储介质及处理器。
技术介绍
产品的缺陷检测一般是通过设置模板进行对比或者根据缺陷的灰度特征进行检测的。但是以上方法针对散热器涂敷缺陷检测却不适用，这是因为散热器涂敷的面积以及厚薄等都会有所差异，无法用统一的模板或者同一个灰度值来进行检测，经常造成产品误检。因此，散热器涂敷检测目前主要还是以目视检测为主，这就存在了由于长时间工作，人眼会产生视觉疲劳，从而导致漏检的风险。针对上述无法准确进行缺陷检测的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种缺陷检测方法、装置、存储介质及处理器，以至少解决无法准确进行缺陷检测的技术问题。根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种缺陷检测方法，包括：获取预定图像中待检测设备的待检测区域，其中，所述待检测区域包括多个像素点；对所述待检测区域进行均值滤波，得到滤波后的各像素点的滤波像素值；根据所述待检测区域内多个像素点的初始像素值与所述滤波像素值确定图像的缺陷像素点；根据所述缺陷像素点确定所述待检测区域中的缺陷区域。进一步地，获取本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取预定图像中待检测设备的待检测区域，其中，所述待检测区域包括多个像素点；对所述待检测区域进行均值滤波，得到滤波后的各像素点的滤波像素值；根据所述待检测区域内多个像素点的初始像素值与所述滤波像素值确定图像的缺陷像素点；根据所述缺陷像素点确定所述待检测区域中的缺陷区域。

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取预定图像中待检测设备的待检测区域，其中，所述待检测区域包括多个像素点；对所述待检测区域进行均值滤波，得到滤波后的各像素点的滤波像素值；根据所述待检测区域内多个像素点的初始像素值与所述滤波像素值确定图像的缺陷像素点；根据所述缺陷像素点确定所述待检测区域中的缺陷区域。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取预定图像中待检测设备的待检测区域包括：在所述预定图像中识别所述待检测设备的定位基准点，其中，所述定位基准点与所述待检测区域之间存在预定位置关系；根据所述定位基准点确定所述待检测区域。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述待检测区域进行均值滤波，得到滤波后的各像素点的滤波像素值包括：采用以下公式计算所述滤波像素值：其中，gr，c为所述待检测区域第r行c列像素点的滤波像素值，n和m为图像掩码的尺寸，n为图像掩码的行数，m为图像掩码的列数。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述待检测区域内多个像素点的初始像素值与所述滤波像素值确定图像的缺陷像素点包括：确定所述初始像素值与所述滤波像素值之间的像素差值；根据所述像素差值对所述待检测区域的多个像素点进行阈值分割，其中，将所述像素差值高于预定阈值补偿值的像素点分割为第一像素点，将所述像素差值不低于预定阈值补偿值的像素点分割为第二像素点，确定所述第二像素点为所述缺陷像素点。5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱虹，邓及翔，宋明岑，张天翼，
申请(专利权)人：珠海格力智能装备有限公司，珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44