下载缺陷检测方法、装置、存储介质及处理器的技术资料

文档序号:20046667

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本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、存储介质及处理器。其中,该方法包括:获取预定图像中待检测设备上的待检测区域,其中,所述待检测区域包括多个像素点;对所述待检测区域进行均值滤波,得到滤波后的各像素点的滤波像素值;根据所述待检测区域内多个像素...
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