用于颗粒测定的检测和信号处理系统技术方案

用于检测和处理来自颗粒的信号的系统和方法。在示例性方法中，颗粒可以通过通道的区域，同时用光照射该区域。光与颗粒的相互作用可以使光偏转并引起光致发光。可以从该区域检测偏转信号和光致发光信号。可以在偏转信号中识别颗粒波形。颗粒波形的至少一个子集可以是双峰波形，包括对应于进入和离开该区域的颗粒的一对峰。可以从光致发光信号获得幅度。幅度可以对应于各个颗粒及它们的颗粒波形，并且幅度的至少一个子集可以对应于该双峰波形。基于相应的幅度，可以将多个个体颗粒分配为对于分析物为阳性或阴性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于颗粒测定的检测和信号处理系统优先权申请的交叉引用本申请根据35U.S.C.§119(e)基于并要求2015年12月30日提交的美国临时专利申请序列第62/273,368号的优先权权益，所述申请出于所有目的通过引用其整体并入本文。其他材料的交叉引用本申请通过出于所有目的引用以下材料的整体来结合这些材料：2010年7月8日公开的美国专利申请公开第2010/0173394A1号；以及JosephR.Lakowicz的荧光光谱原理(PRINCIPLESOFFLUORESCENCESPECTROSCOPY)(第2版，1999年)。引言在各种类型的测定中从颗粒(诸如液滴)检测信号。在典型的测定中，用荧光染料标记颗粒。然后，当颗粒连续通过检测体积时，从各个颗粒中检测荧光，在该检测体积中，荧光染料被激发以引起光发射。仅仅荧光可能不足以精确检测每个颗粒的存在并表征颗粒的尺寸/形状。在许多数字测定中，在每个颗粒具有高荧光或低荧光的混合颗粒群中，该问题可能是显著的。因此，基于颗粒的测定的结果可能由于高估或低估检测到的颗粒的数量而偏离，从而无法排除不满足预定标准的颗粒的荧光数据等。专利
技术实现思路
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【技术保护点】
1.一种检测和处理来自颗粒的信号的方法，所述方法包括：使颗粒通过通道的区域，其中每个颗粒包括标记，并且仅所述颗粒的子集包括分析物；用至少一个光源产生的光照射所述区域，其中所述光与所述颗粒的相互作用使一部分所述光偏转并从所述标记引起光致发光；用一对检测器检测来自所述区域的偏转信号和光致发光信号；识别所述偏转信号中的颗粒波形，所述颗粒波形对应于各个颗粒，所述颗粒波形的至少一个子集是双峰波形，包括对应于进入和离开所述区域的颗粒的一对峰；从所述光致发光信号获得幅度，所述幅度对应于各个颗粒以及它们的颗粒波形，所述幅度的至少一个子集对应于所述双峰波形；以及基于对应的幅度将多个个体颗粒分配为对于所述分析物为...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.12.30 US 62/273,3681.一种检测和处理来自颗粒的信号的方法，所述方法包括：使颗粒通过通道的区域，其中每个颗粒包括标记，并且仅所述颗粒的子集包括分析物；用至少一个光源产生的光照射所述区域，其中所述光与所述颗粒的相互作用使一部分所述光偏转并从所述标记引起光致发光；用一对检测器检测来自所述区域的偏转信号和光致发光信号；识别所述偏转信号中的颗粒波形，所述颗粒波形对应于各个颗粒，所述颗粒波形的至少一个子集是双峰波形，包括对应于进入和离开所述区域的颗粒的一对峰；从所述光致发光信号获得幅度，所述幅度对应于各个颗粒以及它们的颗粒波形，所述幅度的至少一个子集对应于所述双峰波形；以及基于对应的幅度将多个个体颗粒分配为对于所述分析物为阳性或阴性。2.如权利要求1所述的方法，还包括确定分配为对于所述分析物为阳性或分配为对于所述分析物为阴性的颗粒的数量的步骤。3.如权利要求1所述的方法，还包括计算针对所述颗粒波形的相应宽度值的步骤、以及基于所述相应宽度值排除所述颗粒的子集的步骤。4.如权利要求3所述的方法，还包括确定分配为对于所述分析物为阳性或分配为对于所述分析物为阴性的颗粒的数量的步骤、以及使用所述颗粒的所述数量和总数计算所述分析物的浓度的步骤，并且其中所排除的所述颗粒的所述子集既不贡献于分配为对于所述分析物为阳性或对于所述分析物为阴性的所述数量，也不贡献于所述总数。5.如权利要求3所述的方法，还包括调整从所述颗粒波形计算的所述宽度值以便获得调整后的宽度值的步骤，所述调整后的宽度值校正在检测到所述信号时通过所述区域的流速的波动，其中所述排除步骤基于所述调整后的宽度值，并且其中根据所述偏转信号确定所述流速的波动。6.如权利要求3所述的方法，还包括确定所述偏转信号的相应幅度的步骤，在该幅度下，基于所述波形的特性计算针对每个波形的所述宽度值。7.如权利要求6所述的方法，其中所述偏转信号的所述相应幅度是第一幅度，其中所述波形的所述特性是所述偏转信号的第二幅度，在该第二幅度处，所述偏转信号的斜率在所述波形的至少一个区域内处于最大值，还包括使用所述第二幅度计算所述第一幅度的步骤。8.如权利要求3所述的方法，还包括将每个宽度值与至少一个阈值进行比较的步骤、以及如果所述比较步骤满足预定义条件则排除对应于所述宽度值的颗粒的步骤。9.如权利要求8所述的方法，还包括计算所述宽度值的平均值的步骤，其中排除所述颗粒的子集的步骤包括排除对应于偏离所述平均值超过限定量的宽度值的颗粒的步骤。10.如权利要求9所述的方法，还包括基于所述宽度值相对于所述平均值的分布来计算所述限定量的步骤。11.如权利要求9所述的方法，还包括计算所述宽度值的标准偏差的步骤、以及基于所述标准偏差计算所述限定量的步骤。12.如权利要求1所述的方法，其中所述识别颗粒波形的步骤包括实时识别所述颗粒波形的双峰波形的步骤。13.如权利要求1所述的方法，其中所述识别颗粒波形的步骤包括利用状态机识别双峰波形的步骤，所述状态机包括表示双峰波形的第一上升部分、第一下降部分、第二上升部分、以及第二下降部分的四个状态。14.如权利要求1所述的方法，其中所述识别颗粒波形的步骤包括识别双峰波形和单峰波形的步骤。15.如权利要求14所述的方法，其中所述识别双峰波形和单峰波形的步骤包括使用双峰标准识别双峰波形的步骤和使用与所述双峰标准中的任何一个均不同的至少一个单峰标准识别单峰波形的步骤。16.如权利要求1所述的方法，其中获得幅度的步骤包括通过在用相应的颗粒波形限定的积分边界之间对所述光致发光信号的一部分进行积分来计算每个幅度的步骤。17.如权利要求16所述的方法，还包括计算针对所述颗粒波形的相应宽度值的步骤、以及使用一对时间点针对所述光致发光信号的所述部分建立所述积分边界的步骤，其中从所述一对时间点计算针对所述相应的颗粒波形的所述宽度值。18.如权利要求17所述的方法，其中建立所述积分边界的步骤包括将时间偏移应用于所述一对时间点的每个时间点的步骤。19.如权利要求1所述的方法，还包括当所述偏转信号中的颗粒波形的频率或颗粒波形之间的周期满足条件时阻止来自同一组颗粒的颗粒通过所述区域的步骤。20.如权利要求1所述的方法，其中所述区域具有平行于颗粒行进通过所述区域的方向而测量到的宽度，其中所述颗粒具有在每个颗粒通过所述区域时平行于颗粒行进的方向而测量到的尺寸，并且其中所述区域的所述宽度...

【专利技术属性】
技术研发人员：Y·凌，D·P·斯顿伯，G·卡曼，D·普林斯汀斯基，
申请(专利权)人：生物辐射实验室股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国,US