一种批量测试抗静电基座设计制造技术

本发明专利技术提出了一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座。通过利用它，可控制测试人员在批量样品静电测试中引入环境因素。该方法在恒温条件下，将待测元件通过基座接入静电测试系统。适用于人体模型，机械模型，TLP模型等各种静电检测终端。可排除测试过程中环境的光，热，静电等因素，有效的固定样品，保持测试的统一性。

【技术实现步骤摘要】
一种批量测试抗静电基座设计
本专利技术专利属于半导体元件测试领域，特别涉及可提供统一测试环境的批量测试基座的机械结构。
技术介绍
随着微电子制造水平的发展，LED成为近些年来用途极为广泛的光源产品，其应用范围不断扩大。照明、显示、医疗等领域都对LED在各种环境条件下的表现提出了严格的要求。静电损伤是影响光电子器件稳定性的主要原因之一，对LED来说也不例外。目前，TLP测试方法已成为电路设计工程师研究静电放电（ESD）保护电路的特性，进行ESD设计的重要依据。TLP测试先从小电压脉冲开始，随后连续增加直到获得足够的数据点，作出完整的I／V曲线。通常测试脉冲的幅度会增大到使DUT彻底损伤，从而获得其精确的允许最大脉冲电流。当测试脉冲的幅度足够高时，DUT内将产生足够高的温度使DUT内某些结构熔融，使器件特性发生永久的变化，DUT彻底损伤，损伤发生的同时经常伴随着被测两脚之间的漏电流突然增加。TLP测试还可获得漏电流曲线，漏电流可以说明器件存在的一些潜在失效机理。如果没有漏电流曲线，就不能从I／V曲线上看出器件内部的一些变化。特别是存在多个失效位置的时候，就可以帮助判定失效开始的位置，也就本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座，其特征在于：可调节，随意组合适应不同测试标准数量要求的基座连接结构。

【技术特征摘要】
1.一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座，其特征在于：可调节，随意组合适应不同测试标准数量要求的基座连接结构。2.如权利要求1所述的具有可调可组合连接结构的LED批量抗静电测试基座，其特征在于，还包括结构特征：...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆宇，
申请(专利权)人：上海卓弘微系统科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31