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本发明提出了一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座。通过利用它，可控制测试人员在批量样品静电测试中引入环境因素。该方法在恒温条件下，将待测元件通过基座接入静电测试系统。适用于人体模型，机械模型，TLP模型等各种静电检测终端。可排除...
该专利属于上海卓弘微系统科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海卓弘微系统科技有限公司授权不得商用。

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