电子元件表面缺陷检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了电子元件表面缺陷检测装置，包括底座，底座的一侧上设有定位座，定位座的对内朝向面位置设有定位槽，定位座的顶部设有一对导向轴，导向轴呈竖直布置，导向轴的顶部之间设有顶板，顶板的中部位置设有液压缸，液压缸的下部设有活塞杆，活塞杆的下端设有升降架，升降架的下部设有放大镜，放大镜与升降架的一侧之间设有滑管，滑管套装在导向轴的外周面。本实用新型专利技术可以使放大镜竖直滑动稳定性更加好；通过放大镜可以方便检测者对电子元件的表面缺陷进行观测，从而也方便操作者通过检测仪器对电子元件的表面缺陷进行检测。

【技术实现步骤摘要】
电子元件表面缺陷检测装置
本技术涉及检测装置，特别涉及电子元件表面缺陷检测装置。
技术介绍
现有技术中，如专利ZL201610302273.0公开了检测电子元件表面缺陷的装置，属于表面质量检查设备领域。目的是提供一种能准确反应电子元件表面缺陷的尺寸的检测电子元件表面缺陷的装置。包括支座，安装于支座的光源、放大镜和摄像镜头，光源、放大镜和摄像镜头由下至上依次布置；在光源下方设有电子元件检测台，电子元件检测台包括与支座可拆卸连接的反射本体，在反射本体上设有垂直贯穿反射本体的方形通孔，方形通孔的四个内壁上均安装有平面镜，平面镜的镜面由下至上向外延伸；在通孔正下方设有安装于支座的检测平台，检测平台的四周标有刻度，刻度在平面镜的反射范围内。该检测电子元件表面缺陷的装置不方便对待检测的电子元件两侧进行锁接，对电子元件的表面进行观测不方便；且对其进行检测效率低。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供可以使放大镜竖直滑动稳定性更加好；通过放大镜可以方便检测者对电子元件的表面缺陷进行观测，从而也方便操作者通过检测仪器对电子元件的表面缺陷进行检测的电子元件表面缺陷检测装置。本技术是通过以下技术方案来实现的：电子元件表面缺陷检测装置，包括底座，底座的底部一侧设有第一安装轴，第一安装轴的两端均设有第一移动轮，底座的底部另一侧设有第二安装轴，第二安装轴的两端均设有第二移动轮；底座的一侧上设有第一定位座，第一定位座的对内朝向面位置设有第一定位槽，底座的另一侧上设有第二定位座，第二定位座的对内朝向面位置设有第二定位槽，第二定位槽与第一定位槽对应；第一定位座的顶部设有一对第一导向轴，第一导向轴呈竖直布置，第二定位座的顶部设有一对第二导向轴，第二导向轴呈竖直布置，第一导向轴与第二导向轴的顶部之间设有顶板，顶板的中部位置设有液压缸，液压缸的下部设有活塞杆，活塞杆的下端设有升降架，升降架的下部设有放大镜，放大镜与升降架的一侧之间设有第一滑管，第一滑管套装在第一导向轴的外周面，放大镜与升降架的另一侧之间设有第二滑管，第二滑管套装在第二导向轴的外周面。进一步地，所述第一导向轴的顶部与顶板的一侧之间设有第一扣架，第二导向轴的顶部与顶板的另一侧之间设有第二扣架。进一步地，所述活塞杆的下端与升降架的顶部之间设有固定球。进一步地，所述升降架的横截面为弧形形状。进一步地，所述第一移动轮与第二移动轮均为万向轮。本技术的有益效果是：操作者可以将待检测的电子元件放置在底座的顶面上，第一定位座通过第一定位槽以及第二定位座通过第二定位槽可以方便对待检测的电子元件的两侧进行定位安装；液压缸通过活塞杆可以控制升降架实现竖直升降调节，升降架的竖直升降调节可以带动放大镜实现竖直升降调节，第一滑管沿着第一导向轴实现竖直滑动调节，第二滑管沿着第二导向轴实现竖直滑动调节，从而可以使放大镜竖直滑动稳定性更加好；通过放大镜可以方便检测者对电子元件的表面缺陷进行观测，从而也方便操作者通过检测仪器对电子元件的表面缺陷进行检测。附图说明为了易于说明，本技术由下述的具体实施例及附图作以详细描述。图1为本技术电子元件表面缺陷检测装置的结构示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术的优选实施例进行详细阐述，以使本技术的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本技术的保护范围做出更为清楚明确的界定。如图1所示，电子元件表面缺陷检测装置，包括底座11，底座11的底部一侧设有第一安装轴12，第一安装轴12的两端均设有第一移动轮13，底座11的底部另一侧设有第二安装轴14，第二安装轴14的两端均设有第二移动轮15；底座11的一侧上设有第一定位座16，第一定位座16的对内朝向面位置设有第一定位槽17，底座11的另一侧上设有第二定位座18，第二定位座18的对内朝向面位置设有第二定位槽19，第二定位槽19与第一定位槽17对应；第一定位座16的顶部设有一对第一导向轴20，第一导向轴20呈竖直布置，第二定位座18的顶部设有一对第二导向轴21，第二导向轴21呈竖直布置，第一导向轴20与第二导向轴21的顶部之间设有顶板22，顶板22的中部位置设有液压缸23，液压缸23的下部设有活塞杆24，活塞杆24的下端设有升降架25，升降架25的下部设有放大镜27，放大镜27与升降架25的一侧之间设有第一滑管28，第一滑管28套装在第一导向轴20的外周面，放大镜27与升降架25的另一侧之间设有第二滑管29，第二滑管29套装在第二导向轴21的外周面；第一导向轴20的顶部与顶板22的一侧之间设有第一扣架30，第二导向轴21的顶部与顶板22的另一侧之间设有第二扣架31；活塞杆24的下端与升降架25的顶部之间设有固定球26；升降架25的横截面为弧形形状；第一移动轮13与第二移动轮15均为万向轮。本技术电子元件表面缺陷检测装置，操作者可以将待检测的电子元件放置在底座11的顶面上，第一定位座16通过第一定位槽17以及第二定位座18通过第二定位槽19可以方便对待检测的电子元件的两侧进行定位安装；液压缸23通过活塞杆24可以控制升降架25实现竖直升降调节，升降架25的竖直升降调节可以带动放大镜27实现竖直升降调节，第一滑管28沿着第一导向轴20实现竖直滑动调节，第二滑管29沿着第二导向轴21实现竖直滑动调节，从而可以使放大镜27竖直滑动稳定性更加好；通过放大镜27可以方便检测者对电子元件的表面缺陷进行观测，从而也方便操作者通过检测仪器对电子元件的表面缺陷进行检测。其中，第一导向轴20的顶部与顶板22的一侧之间设有第一扣架30，第二导向轴21的顶部与顶板22的另一侧之间设有第二扣架31；所以通过第一扣架30与第二扣架31可以方便对第一导向轴20的顶部、第二导向轴21的顶部以及顶板22之间进行牢固扣接。其中，活塞杆24的下端与升降架25的顶部之间设有固定球26；所以固定更加牢固。其中，第一移动轮13与第二移动轮15均为万向轮；所以方便实现灵活移动。以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.电子元件表面缺陷检测装置，包括底座（11），其特征在于：底座（11）的底部一侧设有第一安装轴（12），第一安装轴（12）的两端均设有第一移动轮（13），底座（11）的底部另一侧设有第二安装轴（14），第二安装轴（14）的两端均设有第二移动轮（15）；底座（11）的一侧上设有第一定位座（16），第一定位座（16）的对内朝向面位置设有第一定位槽（17），底座（11）的另一侧上设有第二定位座（18），第二定位座（18）的对内朝向面位置设有第二定位槽（19），第二定位槽（19）与第一定位槽（17）对应；第一定位座（16）的顶部设有一对第一导向轴（20），第一导向轴（20）呈竖直布置，第二定位座（18）的顶部设有一对第二导向轴（21），第二导向轴（21）呈竖直布置，第一导向轴（20）与第二导向轴（21）的顶部之间设有顶板（22），顶板（22）的中部位置设有液压缸（23），液压缸（23）的下部设有活塞杆（24），活塞杆（24）的下端设有升降架（25），升降架（25）的下部设有放大镜（27），放大镜（27）与升降架（25）的一侧之间设有第一滑管（28），第一滑管（28）套装在第一导向轴（20）的外周面，放大镜（27）与升降架（25）的另一侧之间设有第二滑管（29），第二滑管（29）套装在第二导向轴（21）的外周面。...

【技术特征摘要】
1.电子元件表面缺陷检测装置，包括底座（11），其特征在于：底座（11）的底部一侧设有第一安装轴（12），第一安装轴（12）的两端均设有第一移动轮（13），底座（11）的底部另一侧设有第二安装轴（14），第二安装轴（14）的两端均设有第二移动轮（15）；底座（11）的一侧上设有第一定位座（16），第一定位座（16）的对内朝向面位置设有第一定位槽（17），底座（11）的另一侧上设有第二定位座（18），第二定位座（18）的对内朝向面位置设有第二定位槽（19），第二定位槽（19）与第一定位槽（17）对应；第一定位座（16）的顶部设有一对第一导向轴（20），第一导向轴（20）呈竖直布置，第二定位座（18）的顶部设有一对第二导向轴（21），第二导向轴（21）呈竖直布置，第一导向轴（20）与第二导向轴（21）的顶部之间设有顶板（22），顶板（22）的中部位置设有液压缸（23），液压缸（23）的下部设有活塞杆（24），活塞杆（24）...

【专利技术属性】
技术研发人员：金建德，
申请(专利权)人：陕西海测电子技术服务有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西,61