一种防震荡的测试结构制造技术

本实用新型专利技术提供一种防震荡的测试结构，包括基座、电路板、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、第一导线、第二导线和第三导线；基座的顶面设置有凹槽，基座的两侧设置有引脚。在电路板上焊接第一电阻、第二电阻、第一电容和第二电容，达到将匹配的电路集成在较小块的电路板上。在完成对电路板的集成电路后，将电路板固定于基座的凹槽内，进而通过导线将基座上的接触端与电路板上的电阻电容进行电连接，将具有防振荡的电路板制式化，因此在使用与更换时只需要将整个电路板更换即可，提高使用和更换的便利性，降低了使用成本，无需更改原本老化板的设计，以及提高了测试的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种防震荡的测试结构
本技术涉及电路结构领域，尤其涉及一种防震荡的测试结构。
技术介绍
由砷化镓支撑的砷化镓异质结双极晶体管普遍存在随着电压变化产生振荡干扰的现象，在发生振荡的时候，砷化镓异质结双极晶体管将失去线性放大的作用，从而影响正常的使用。现有的方案，在专门的夹具外，添加可替换的电容、电阻和阻抗匹配电路，用以消除其产生的振荡。但是，设计电容、电阻和阻抗匹配电路初期要通过检验仪器推测匹配的电容、电阻参数，再修改老化板的电路设计，购买新的原料器件，即重新设计专门的老化板。因此，对当前数量巨大且周期频繁的测试来说，十分的不便利性，一旦出现了振荡情况就会出现浪费大量时间、金钱。
技术实现思路
为此，需要提供一种防震荡的测试结构，解决高频功率管测试中产生的振荡的问题。为实现上述目的，专利技术人提供了一种防震荡的测试结构，包括基座、电路板、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、第一导线、第二导线和第三导线；所述基座的顶面设置有凹槽，基座的两侧设置有引脚，电路板设置在基座的凹槽内，第一电阻、第二电阻、第一电容和第二电容设置在电路板上，第一电容的一端与基座的第一接触端之间通过第一导线电连接，第一电容的另一端与第一电阻电连接，第一电阻的另一端与基座的第二接触端之间通过第二导线电连接；第二电容的一端与基座的第三接触端之间通过第三导线电连接，第二电容的另一端与第二电阻电连接，第二电阻的另一端与第二导电线电连接。进一步地，还包括晶体管，晶体管的基极电连接在第一导线上，晶体管的漏极与第二导电线电连接，晶体管的源极与第三导向线电连接。进一步地，还包括老化板和夹具底座，夹具底座设置在老化板上，夹具底座设置有引脚插孔，基座的引脚设置在夹具底座的引脚插孔内，且基座通过引脚与夹具底座电连接。进一步地，所述夹具底座设置有多个，多个夹具底座矩形阵列设置在老化板上。进一步地，所述第一导线、第二导线和第三导线为金线导线。区别于现有技术，上述技术方案在电路板上焊接第一电阻、第二电阻、第一电容和第二电容，其中第一电阻与第一电容通过电路板上的铜箔线进行电连接，同理第二电阻和第二电容也通过铜箔线电连接，达到将匹配的电路集成在较小块的电路板上。在完成对电路板的集成电路后，将电路板固定于基座的凹槽内，进而通过导线将基座上的接触端与电路板上的电阻电容进行电连接，将具有防振荡的电路板制式化，因此在使用与更换时只需要将整个电路板更换即可，提高使用和更换的便利性，降低了使用成本，无需更改原本老化板的设计，以及提高了测试的稳定性。附图说明图1为具体实施方式所述的防震荡的测试结构的示意图；图2为具体实施方式所述的防震荡的测试结构的局部图；图3为具体实施方式所述的防震荡的测试结构的电路板的示意图；图4为具体实施方式所述的防震荡的测试结构的老化板的示意图；图5为具体实施方式所述的防震荡的测试结构的电路图。附图标记说明：10、基座；101、凹槽；102、引脚；11、电路板；12、第一电阻；13、第二电阻；14、第一电容；15、第二电容；16、第一导线；17、第二导线；18、第三导线；20、晶体管；21、老化板；22、夹具底座；221、引脚插孔；具体实施方式为详细说明技术方案的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果，以下结合具体实施例并配合附图详予说明。请参阅图1至图5，本实施例提供一种防震荡的测试结构，包括基座10、电路板11、第一电阻12、第二电阻13、第一电容14、第二电容15、第一导线16、第二导线17和第三导线18；所述基座的顶面设置有凹槽101，基座的两侧设置有引脚102，电路板设置在基座的凹槽内，第一电阻、第二电阻、第一电容和第二电容设置在电路板上，第一电容的一端与基座的第一接触端之间通过第一导线电连接，第一电容的另一端与第一电阻电连接，第一电阻的另一端与基座的第二接触端之间通过第二导线电连接；第二电容的一端与基座的第三接触端之间通过第三导线电连接，第二电容的另一端与第二电阻电连接，第二电阻的另一端与第二导电线电连接。本实施例的防震荡的测试结构是用于解决高频功率管测试中产生的振荡，效果不良等问题。砷化镓异质结双极晶体管属于高频晶体管，高频晶体管的工作特性即在工作时可能由于各种外在条件变化产生振荡现象，振荡的因素多种多样，电压、电流、温度、频率、阻抗匹配以及环境都有关，解决问题的最有效办法就是从阻抗匹配入手，阻抗不匹配会产生反射。而反射会导致过冲、振铃、抖动、上升沿和下降沿等等问题。因此通过设置与砷化镓异质结双极晶体管相匹配的阻抗，达到消除测试中产生的震荡的效果。具体的，在电路板上焊接第一电阻、第二电阻、第一电容和第二电容，其中第一电阻与第一电容通过电路板上的铜箔线进行电连接，同理第二电阻和第二电容也通过铜箔线电连接，达到将匹配的电路集成在较小块的电路板上。在完成对电路板的集成电路后，将电路板固定于基座的凹槽内，进而通过导线将基座上的接触端与电路板上的电阻电容进行电连接，将具有防振荡的电路板制式化，因此在使用与更换时只需要将整个电路板更换即可，提高使用和更换的便利性，而且无需在出现震荡时进行重新设计、调试专门的老化板，降低了使用成本，以及提高了测试的稳定性。对于导线的连接具体的，本实施例中的导线可以为金线导线、铜线等等，金线导线在进行信号传输时稳定性高。因此，第一电阻和第一电容通过导线电连接在基座的第一接触端与第二接触端之间，第二电阻和第二电容通过导线电连接在基座的第二接触端与第三接触端之间，达到将基座的引脚触点与电路板电连接的目的，所以在对晶体管进行测试时，只需通过导线电连接在电路板上的电路中即可。具体的，本实施例中还包括晶体管20，晶体管的基极电连接在第一导线上，晶体管的漏极与第二导电线电连接，晶体管的源极与第三导向线电连接。晶体管为砷化镓异质结双极晶体管，因此达到将晶体管固定在电路板上，而在完成测试后，重新更换一个电路板即可，集成化的电路板，使得电路板整体结构较小，其第一电阻和第二电阻可以为贴片电阻，同时由于焊接过的电路板在进行二次或多次的焊接时，焊接点容易发生脱落、导电线差及影响测试结果等等问题，因此该电路板属于一次性消耗品，所以在每次测试后，采用新的电路板保证了每次测试的可靠性。而且电路板固定在基座上，所以在更换时，只需将电路板从基座上取下，再放置固定新的电路板即可，因此更换较为便利。本实施例中还包括老化板21和夹具底座22，夹具底座设置在老化板上，夹具底座设置有引脚插孔221，基座的引脚设置在夹具底座的引脚插孔内，且基座通过引脚与夹具底座电连接。所述夹具底座设置有多个，多个夹具底座矩形阵列设置在老化板上。夹具底座是用于和基座相连接固定进行电连接，即在基座上具有金属引脚，同时在夹具底座上具有引脚插孔，引脚插孔内安装金属导电片，再将夹具底座电连接的设置在老化板上，使得基座通过夹具底座与老化板电连接，即基座上的电路板会与老化板进行电连接，进而对电路板上的晶体管进行测试。为了提高测试的效率可以在老化板上安装多个夹具底座，因此可以安装多个带有电路板的基座，从而达到提高测试效率的目的。需要说明的是，尽管在本文中已经对上述各实施例进行了描述，但并非因此限制本技术的专利保护范围。因此，基于本技术的创新理念，对本文所述实施例进行的变更和修改，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种防震荡的测试结构，其特征在于：包括基座、电路板、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、第一导线、第二导线和第三导线；所述基座的顶面设置有凹槽，基座的两侧设置有引脚，电路板设置在基座的凹槽内，第一电阻、第二电阻、第一电容和第二电容设置在电路板上，第一电容的一端与基座的第一接触端之间通过第一导线电连接，第一电容的另一端与第一电阻电连接，第一电阻的另一端与基座的第二接触端之间通过第二导线电连接；第二电容的一端与基座的第三接触端之间通过第三导线电连接，第二电容的另一端与第二电阻电连接，第二电阻的另一端与第二导电线电连接。

【技术特征摘要】
1.一种防震荡的测试结构，其特征在于：包括基座、电路板、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、第一导线、第二导线和第三导线；所述基座的顶面设置有凹槽，基座的两侧设置有引脚，电路板设置在基座的凹槽内，第一电阻、第二电阻、第一电容和第二电容设置在电路板上，第一电容的一端与基座的第一接触端之间通过第一导线电连接，第一电容的另一端与第一电阻电连接，第一电阻的另一端与基座的第二接触端之间通过第二导线电连接；第二电容的一端与基座的第三接触端之间通过第三导线电连接，第二电容的另一端与第二电阻电连接，第二电阻的另一端与第二导电线电连接。2.根据权利要求1所述的一种防...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈炳辉，李娅敏，
申请(专利权)人：福建省福联集成电路有限公司，
类型：新型
国别省市：福建,35