一种高精度测量结构竖向变形的装置制造方法及图纸

技术编号:19930185 阅读:45 留言:0更新日期:2018-12-29 03:10
本实用新型专利技术公开了一种高精度测量结构竖向变形的装置,包括一根竖向主杆、左右两根副杆,以及设置在两根副杆上端的横杆;竖向主杆直立设置在横杆的中部;在左右两根副杆的中部外侧,分别各对称设置有一兼做测量平面的角钢;竖向主杆的上端与待测点固定连接,两根副杆的下端分别伸入固定在基础面上的限位套管内部,两根副杆的下顶端,在轴向方向上与基础面之间具有间隙;用于固定位移计的表座的两个平台,分别连接在两根副杆的两侧;位移计的表针顶在角钢的上表面。本实用新型专利技术采用左右两个位移计读数,相比于传统全站仪监测,大幅提升了测量精度。本实用新型专利技术用于施工过程中,具有施工简单快捷,使用期限长,并尤其适合长期监测作业。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度测量结构竖向变形的装置
本技术涉及结构是否变形的测量装置,尤其涉及一种高精度测量结构竖向变形的装置。
技术介绍
在高层结构和大跨度空间结构的施工过程和运营阶段,往往需要监测结构的竖向变形(即:高层结构的标准层和屋面层、大跨度空间结构的屋盖)。传统的监测结构竖向变形的方法是使用全站仪进行测量,然而,全站仪的测量精度通常为0.5mm~1mm左右,且受到测距、外界环境(光线、温度及湿度)等方面的影响,因此,当结构变形值较小时(如:仅为几毫米或十几毫米),全站仪的精度将难以满足实际监测的需求。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有测量设备精确度不高,且受影响因素较多的缺点和不足,提供一种结构简单、使用方便的高精度测量结构竖向变形的装置。采用位移计读数可以使精确度提高到0.01mm,甚至0.001mm,同时能够将高处的变形测点转移至低处进行测量,避免高空作业。本技术通过下述技术方案实现:一种高精度测量结构竖向变形的装置,包括一根竖向主杆1、左右两根副杆11,以及设置在两根副杆11上端的横杆12;竖向主杆1直立设置在横杆12的中部;竖向主杆1与横杆12的轴线彼此垂直;两根副杆11相互间隔本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度测量结构竖向变形的装置,其特征在于:包括一根竖向主杆(1)、左右两根副杆(11),以及设置在两根副杆(11)上端的横杆(12);竖向主杆(1)直立设置在横杆(12)的中部;竖向主杆(1)与横杆(12)的轴线彼此垂直;两根副杆(11)相互间隔并彼此平行;横杆(12)与水平面平行;在左右两根副杆(11)的中部外侧,分别各对称设置有一兼做测量平面的角钢(5);竖向主杆(1)的上端与待测点固定连接,两根副杆(11)的下端分别伸入固定在基础面上的限位套管(7)内部,两根副杆(11)的下顶端,在轴向方向上与基础面之间具有间隙;用于固定位移计(2)的表座(4)的两个平台(6),分别连接在两根副...

【技术特征摘要】
1.一种高精度测量结构竖向变形的装置,其特征在于:包括一根竖向主杆(1)、左右两根副杆(11),以及设置在两根副杆(11)上端的横杆(12);竖向主杆(1)直立设置在横杆(12)的中部;竖向主杆(1)与横杆(12)的轴线彼此垂直;两根副杆(11)相互间隔并彼此平行;横杆(12)与水平面平行;在左右两根副杆(11)的中部外侧,分别各对称设置有一兼做测量平面的角钢(5);竖向主杆(1)的上端与待测点固定连接,两根副杆(11)的下端分别伸入固定在基础面上的限位套管(7)内部,两根副杆(11)的下顶端,在轴向方向上与基础面之间具有间隙;用于固定位移计(2)的表座(4)的两个平台(6),分别连接在两根副杆(11)的两侧;位移计(2)的...

【专利技术属性】
技术研发人员:石开荣许洁槟潘文智姜正荣张正先
申请(专利权)人:华南理工大学
类型:新型
国别省市:广东,44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1