数据通道老化电路、存储器及其老化方法技术

本公开提供一种数据通道老化电路、存储器、数据通道老化方法以及存储器老化方法。本公开实施例中的数据通道老化电路包括存储单元，所述存储单元中存储有用于为所述集成电路中的各个数据通道提供目标电压状态的电压切换信号；控制单元，用于产生电压控制信号，并将所述电压控制信号发送至所述各个数据通道；选通单元，基于所述电压切换信号切换所述各个数据通道的导通状态，利用所述电压控制信号调整所述各个数据通道的电压位准以产生电压应力老化。本公开实施例提供的数据通道老化电路可以提高老化测试结果的可靠性，改善经过老化测试后的集成电路产品的工作稳定性。

【技术实现步骤摘要】
数据通道老化电路、存储器及其老化方法
本公开涉及电学
，具体涉及一种数据通道老化电路、存储器、数据通道老化方法以及存储器老化方法。
技术介绍
作为集成电路生产过程中的一个重要环节，老化测试是通过一段时间连续性或者周期性的超负荷工作使得集成电路的缺陷能够在测试阶段便尽早地暴露出来，从而降低集成电路产品在使用初期发生故障的几率，提高集成电路产品的稳定性和可靠性。对集成电路进行老化测试通常会用到集成电路老化机台，集成电路老化机台可以在一定的外部测试条件下(例如高温、偏压等等)通过测试通道向待测试的集成电路传输数据以加快集成电路在工作状态下的老化速度。由于测试通道有限，能够同时进行老化测试的集成电路的数量也将受到限制。因此，为了增加集成电路的同测数量，可以仅选用集成电路中的一部分数据通道在数据压缩模式下进行数据传输，从而可以提高集成电路的老化测试效率。但是，在数据压缩模式下进行的老化测试仅能对集成电路的部分数据通道达到测试目的，而对于未经老化测试的数据通道是否存在缺陷则无法被检测到，即便是通过老化测试的集成电路也仍然存在一定的隐患。因此，如何能够在不影响测试效率的前提下提高老化测试的可本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数据通道老化电路，用于对集成电路进行老化测试，其特征在于，所述数据通道老化电路包括：存储单元，所述存储单元中存储有用于为所述集成电路中的各个数据通道提供目标电压状态的电压切换信号；控制单元，用于产生电压控制信号，并将所述电压控制信号发送至所述各个数据通道；选通单元，基于所述电压切换信号切换所述各个数据通道的导通状态，利用所述电压控制信号调整所述各个数据通道的电压位准以产生电压应力老化。

【技术特征摘要】
1.一种数据通道老化电路，用于对集成电路进行老化测试，其特征在于，所述数据通道老化电路包括：存储单元，所述存储单元中存储有用于为所述集成电路中的各个数据通道提供目标电压状态的电压切换信号；控制单元，用于产生电压控制信号，并将所述电压控制信号发送至所述各个数据通道；选通单元，基于所述电压切换信号切换所述各个数据通道的导通状态，利用所述电压控制信号调整所述各个数据通道的电压位准以产生电压应力老化。2.根据权利要求1所述的数据通道老化电路，其特征在于，所述控制单元包括：信号输入端，用于接收一老化控制信号；电压变换器，对所述老化控制信号进行电压变换后产生所述电压控制信号；信号输出端，用于向所述各个数据通道发送所述电压控制信号。3.根据权利要求2所述的数据通道老化电路，其特征在于，所述电压变换器包括：第一电容，所述第一电容的一端与所述信号输入端相连，另一端与一中间节点相连；第一半导体开关，所述第一半导体开关的第一极与所述中间节点相连，第二极和栅极与第一电压端相连；第二半导体开关，所述第二半导体开关的第一极与所述信号输出端相连，第二极和栅极与所述中间节点相连；第二电容，所述第二电容的一端与第二电压端相连，另一端与所述信号输出端相连。4.根据权利要求3所述的数据通道老化电路，其特征在于，所述电压变换器还包括：反相器，位于所述信号输入端与所述第一电容之间。5.根据权利要求3所述的数据通道老化电路，其特征在于，所述第一电压端的...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34