一种绝缘子腐蚀性闪络风险评估方法技术

本发明专利技术公开了一种绝缘子腐蚀性闪络风险评估方法，包括：基于待评估点的腐蚀等级获取腐蚀产物的第一附加盐密，以及基于待评估点的污秽等级获取等值附盐密度和等值灰密；利用待评估点的雨水PH值得到酸雨的第二附加盐密；计算第一附加盐密、第二附加盐密以及等值附盐密度之和得到待评估点的校核盐密，再基于校核盐密和等值灰密得到待评估点的校核污秽度等级；基于校核污秽度等级得到绝缘子的第一个统一爬电比距；确定待评估设备的绝缘配置；从待评估点处待评估设备的台账中获取待评估设备的实际爬电距离，并依据待评估设备的实际爬电距离与建议的绝缘配置进行比对得出待评估设备的闪络风险评估结果。本方法考虑到酸雨及腐蚀产物对闪络的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种绝缘子腐蚀性闪络风险评估方法
本专利技术属于电力工程
，具体涉及一种绝缘子腐蚀性闪络风险评估方法。
技术介绍
我国酸雨区约69万km2，覆盖华东、华南和西南地区。酸雨加剧了绝缘子表面的污秽沉积，并使其金属部件腐蚀产生可沉降至绝缘子表面的液态和粉尘等多种化学物质，显著降低绝缘子电气性能。目前我国电网防污闪的依据是现场污秽度即干沉降物的测量结果，未考虑酸雨及金属构件腐蚀产物的影响，且酸雨及腐蚀产物随机性强，难以跟踪。基于现场污秽度的绝缘配合即使符合规程要求，由于未考虑酸雨本身、金属构件腐蚀产物等因素，仍可能发生闪络。然而，现有的闪络风险评估方法也是基于干沉降物的测量结果或污区分布图，未考虑酸雨及腐蚀产物的影响，故在酸雨区现有的闪络风险评估方法的可靠性有限，得到的评估结果的准确性有待提高。其中，腐蚀性闪络定义为：将①酸雨直接引起的闪络，②杆塔、金具、绝缘子铁帽钢脚等腐蚀引起的闪络，以及③酸雨、腐蚀产物与原干污秽层组合作用引起的闪络。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有闪络评估方法仅考虑干沉降物的测量结果或污区分布图而未考虑酸雨及腐蚀产物而导致评估结果的准确性有待提高的问题，提供一种全新绝缘子腐蚀性闪络风险评估方法，其考虑到酸雨及腐蚀产物对闪络的影响，提高了酸雨区绝缘子闪络风险评估水平。一种绝缘子腐蚀性闪络风险评估方法，包括如下步骤：S1：基于待评估点的腐蚀等级获取腐蚀产物的第一附加盐密，以及基于待评估点的污秽等级获取等值附盐密度和等值灰密；S2：利用待评估点的雨水PH值得到电导率，再基于电导率以及等值附盐密度得到酸雨的第二附加盐密；Q2＝α×γ×q式中，Q2为第二附加盐密，α为绝缘子参数，γ为电导率，q为等值附盐密度；S3：计算所述第一附加盐密、所述第二附加盐密以及等值附盐密度之和得到待评估点的校核盐密，再基于所述校核盐密和所述等值灰密得到待评估点的校核污秽度等级；S4：基于爬电比距法以及待评估点的校核污秽度等级得到绝缘子的第一个统一爬电比距；S5：确定待评估设备的绝缘配置；其中，从预存的台账库中提取待评估点的绝缘子的第二个统一爬电比距，并依据所述第一个统一爬电比距与所述第二个统一爬电比距选取统一爬电比距来建议绝缘配置；选取的爬电比距至少大于或等于第一个统一爬电比距与第二个统一爬电比距中的最大值，所述绝缘配置为依据选取的爬电比距计算的爬电距离；S6：从待评估点处待评估设备的台账中获取待评估设备的实际爬电距离，并依据待评估设备的实际爬电距离与建议的绝缘配置进行比对得出待评估设备的闪络风险评估结果；c：待评估设备的实际爬电距离大于或等于建议的绝缘配置，待评估设备的绝缘配置满足要求；d：待评估设备的实际爬电距离小于建议的绝缘配置，待评估设备的绝缘配置不满足要求，存在闪络风险。本专利技术考虑到腐蚀产物的影响，进而依据待评估点的腐蚀等级得到第一附加盐密；同时考虑到酸雨的影响，进而依据待评估点的雨水PH值获取到第二附加盐密，后续并将第一附加盐密、第二附加盐密以及等值附盐密度之和得到待评估点的校核盐密，使得到的校核盐密是同时考虑了腐蚀产物、酸雨以及干沉降污秽得出的，再利用校核盐密来进行污删评估，使得到的评估结果更加可靠，尤其是针对酸雨区，更与实际情况相吻合。此外，本专利技术得到待评估点处建议的爬电距离(绝缘配置)时，还基于考虑到待评估点处的历史运行经验数据，即从预存的台账库中提取待评估点的绝缘子的第二个统一爬电比距，将其与第一个统一爬电比距进行比较选取出统一的爬电比距，而选取的统一爬电比距至少大于或等于第一个统一爬电比距与第二个统一爬电比距中的最大值，从而使得到的绝缘配置更加可靠。应当说明，待评估点处可以存在多个待评估设备，本专利技术先计算待评估点出绝缘设备的要求，再将其与待评估设备的实际运行相比较来评估待评估设备是否存在污闪风险。进一步优选，步骤S5中第二个统一爬电比距的获取过程如下：调取待评估点的历史运行经验数据来判断历史时段是否发生过污闪；若发生过且发生污闪后绝缘子未进行过调爬治理，所述第二个统一爬电比距为预存的台账库中污闪未治理绝缘子的统一爬电比距；若发生过但污闪后进行过调爬治理，所述第二个统一爬电比距为预存的台账库中治理后绝缘子的统一爬电比距；若没发生过污闪，所述第二个统一爬电比距为预存的台账库中记载的绝缘子的统一爬电比距。本专利技术根据历史运行数据来识别是否发生过污闪，进而根据是否发生污闪来决定第二个统一爬电比距如何确定，从而进一步保证得到的绝缘配置是更符合实际要求的。进一步优选，步骤S5中选取统一爬电比距的规则如下：发生污闪后绝缘子未进行过调爬治理时：若第一个统一爬电比距>第二个统一爬电比距，选取的统一爬电比距为第一个统一爬电比距；若第一个统一爬电比距≤第二个统一爬电比距，选取的统一爬电比距等于第二个统一爬电比距乘以110％；发生过污闪但污闪后进行过调爬治理或者没有发生过污闪时：若第一个统一爬电比距>第二个统一爬电比距，选取的统一爬电比距为第一个统一爬电比距；若第一个统一爬电比距≤第二个统一爬电比距，选取的统一爬电比距为第二个统一爬电比距。进一步优选，步骤S5中待评估设备的绝缘配置等于选择的统一爬电比距与待评估点处待评估设备对应电压等级的最高运行相电压的乘积.。进一步优选，还包括针对存在闪络风险的待评估设备提供配置建议，e：所述待评估对象为非悬式盘形绝缘子时，所述配置建议至少包括待评估设备需要增加的爬电距离；其中，需要增加的爬电距离为待评估设备中建议的绝缘配置与实际爬电距离的差值。f：若待评估对象为悬式盘形绝缘子时，所述配置建议包括满足运行要求时需要增加的同型号悬式盘形绝缘子的片数以及需更换同结构高度悬式盘形绝缘子的最小爬电距离；N＝[(L4-L3)/L0]式中，N为满足运行要求时需要增加的同型号悬式盘形绝缘子的片数，L4为建议的绝缘配置，L3为待评估设备实际爬电距离，L0为实际运行中单片绝缘子的爬电距离，[]表示向上取整；Lmin＝L4/n式中，Lmin为满足运行要求时需更换同结构高度悬式盘形绝缘子的最小爬电距离，n为待评估设备悬式盘形绝缘子实际的单元数。悬式盘形绝缘子为单片的，多个悬式盘形绝缘子连成一串组成绝缘子串即待评估设备。进一步优选，步骤S5中待评估设备的绝缘配置等于选择的统一爬电比距与待评估点处待评估设备对应电压等级的最高运行相电压的乘积；其中，选择的统一爬电比距为第一统一爬电比距或第二统一爬电比距。进一步优选，步骤S1中所述第一附加盐密的获取过程如下：首先，查询电网腐蚀分布图来获取待评估点处的腐蚀等级或者现场测量待评估点的腐蚀等级；其次，基于待评估点的腐蚀等级以及腐蚀等级-等值附盐密度的关系曲线获取腐蚀产物的第一附加盐密。进一步优选，步骤S1中所述等值附盐密度和等值灰密的获取过程如下：首先，识别是否存在待评估点的历史干污秽测量值数据，若存在，获取最近一次的等值附盐密度和等值灰密的历史测量值；所述历史干污秽测量值包括等值附盐密度和等值灰密的历史测量值；若不存在，查询电力污区分布图来获取待评估点的污秽等级，再基于绝缘子现场污秽度与等级与等值盐密/灰密的关系图将所述污秽等级所在污秽度区间中盐密值中间值作为等值附盐密度，以及将所在污秽度区间的灰密上限值作为等值灰密。绝缘子本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种绝缘子腐蚀性闪络风险评估方法，其特征在于：包括如下步骤：S1：基于待评估点的腐蚀等级获取腐蚀产物的第一附加盐密，以及基于待评估点的污秽等级获取等值附盐密度和等值灰密；S2：利用待评估点的雨水PH值得到电导率，再基于电导率以及等值附盐密度得到酸雨的第二附加盐密；Q2＝α×γ×q式中，Q2为第二附加盐密，α为绝缘子参数，γ为电导率，q为等值附盐密度；S3：计算所述第一附加盐密、所述第二附加盐密以及等值附盐密度之和得到待评估点的校核盐密，再基于所述校核盐密和所述等值灰密得到待评估点的校核污秽度等级；S4：基于爬电比距法以及待评估点的校核污秽度等级得到绝缘子的第一个统一爬电比距；S5：确定待评估设备的绝缘配置；其中，从预存的台账库中提取待评估点的绝缘子的第二个统一爬电比距，并依据所述第一个统一爬电比距与所述第二个统一爬电比距选取统一爬电比距来建议绝缘配置；选取的爬电比距至少大于或等于第一个统一爬电比距与第二个统一爬电比距中的最大值，所述绝缘配置为依据选取的爬电比距计算的爬电距离；S6：从待评估点处待评估设备的台账中获取待评估设备的实际爬电距离，并依据待评估设备的实际爬电距离与建议的绝缘配置进行比对得出待评估设备的闪络风险评估结果；c：待评估设备的实际爬电距离大于或等于建议的绝缘配置，待评估设备的绝缘配置满足要求；d：待评估设备的实际爬电距离小于建议的绝缘配置，待评估设备的绝缘配置不满足要求，存在闪络风险。...

【技术特征摘要】
1.一种绝缘子腐蚀性闪络风险评估方法，其特征在于：包括如下步骤：S1：基于待评估点的腐蚀等级获取腐蚀产物的第一附加盐密，以及基于待评估点的污秽等级获取等值附盐密度和等值灰密；S2：利用待评估点的雨水PH值得到电导率，再基于电导率以及等值附盐密度得到酸雨的第二附加盐密；Q2＝α×γ×q式中，Q2为第二附加盐密，α为绝缘子参数，γ为电导率，q为等值附盐密度；S3：计算所述第一附加盐密、所述第二附加盐密以及等值附盐密度之和得到待评估点的校核盐密，再基于所述校核盐密和所述等值灰密得到待评估点的校核污秽度等级；S4：基于爬电比距法以及待评估点的校核污秽度等级得到绝缘子的第一个统一爬电比距；S5：确定待评估设备的绝缘配置；其中，从预存的台账库中提取待评估点的绝缘子的第二个统一爬电比距，并依据所述第一个统一爬电比距与所述第二个统一爬电比距选取统一爬电比距来建议绝缘配置；选取的爬电比距至少大于或等于第一个统一爬电比距与第二个统一爬电比距中的最大值，所述绝缘配置为依据选取的爬电比距计算的爬电距离；S6：从待评估点处待评估设备的台账中获取待评估设备的实际爬电距离，并依据待评估设备的实际爬电距离与建议的绝缘配置进行比对得出待评估设备的闪络风险评估结果；c：待评估设备的实际爬电距离大于或等于建议的绝缘配置，待评估设备的绝缘配置满足要求；d：待评估设备的实际爬电距离小于建议的绝缘配置，待评估设备的绝缘配置不满足要求，存在闪络风险。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤S5中第二个统一爬电比距的获取过程如下：调取待评估点的历史运行经验数据来判断历史时段是否发生过污闪；若发生过且发生污闪后绝缘子未进行过调爬治理，所述第二个统一爬电比距为预存的台账库中污闪未治理绝缘子的统一爬电比距；若发生过但污闪后进行过调爬治理，所述第二个统一爬电比距为预存的台账库中治理后绝缘子的统一爬电比距；若没发生过污闪，所述第二个统一爬电比距为预存的台账库中记载的绝缘子的统一爬电比距。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：步骤S5中选取统一爬电比距的规则如下：发生污闪后绝缘子未进行过调爬治理时：若第一个统一爬电比距>第二个统一爬电比距，选取的统一爬电比距为第一个统一爬电比距；若第一个统一爬电比距≤第二个统一爬电比距，选取的统一爬电比距等于第二个统一爬电比距乘以110％；发生过污闪但污闪后进行过调爬治理或者没有发生过污闪时：若第一个统一爬电比距>第二个统一爬电比距，选取的统一爬电比距为第一个统一爬电比距；若第一个统一爬电比距≤第二个统一爬电比距，选取的统一爬电比距为第二个统一爬电比距。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：巢亚锋，
申请(专利权)人：国网湖南省电力有限公司，国网湖南省电力有限公司电力科学研究院，国家电网有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43