发光组件检测设备制造技术

本实用新型专利技术涉及发光组件检测设备，其中，该发光组件检测设备包含机架、天板、承载台、发光组件检测模块以及治具。天板衔接机架，并配置以沿着某一指定方向相对机架进行移动。承载台衔接于天板，并配置以实质上垂直于前述方向相对天板移动。发光组件检测模块连接承载台。治具包含光纤固定装置。当天板移动至抵靠治具时，发光组件检测模块与光纤固定装置衔接。借此，本案的发光组件检测设备可避免将多组发光组件检测模块分别装设于多个治具中所花费的成本，转而可仅将一组发光组件检测模块装设于机台中，而可与位于不同治具中的光纤固定装置结合而进行发光组件的检测分析。

【技术实现步骤摘要】
发光组件检测设备
本技术涉及检测设备领域，特别是涉及一种发光组件检测设备。
技术介绍
以电子产品来说，产品于构装完成前必须进行电性功能测试，以确保出厂的电子产品在功能上有完整性；同时，通过电性测试结果来作分类，借以作为不同等级产品的评价依据。以半导体测试制程为例，待测组装电路板(例如，封装IC)送入测试机(Tester)中(例如，逻辑IC测试机、内存IC测试机、混合式IC测试机)，其中，为待测组装电路板所量身订作的测试程序进行细部相关控制，主要是借由发出待测组装电路板所需的电性信号，并接受响应来自待测组件的电性信号，得以作出产品电性测试结果的判断。而待测组装电路板与电测设备之间必须通过转换接口－电测治具，以让测试作业顺畅进行。一般来说，电测治具通常采用垂直式电测方法。具体来说，电测治具包含上治具与下治具。电测时会先将待测组装电路板放置于下治具上，再使上治具随着压床机构逐渐靠近待测组装电路板，使设置于治具上的探针与待测组装电路板表面的焊点相接触，从而进行电测。由此可知，电测治具是用来连接电测设备的测试接点与待测组装电路板的接脚，以作为电性信号传递桥梁。上述现有技术中当将发光组件检测模块本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光组件检测设备，其特征在于，包括：机架；天板，所述天板衔接所述机架，并配置以沿着指定方向相对于所述机架进行移动；承载台，所述承载台衔接于所述天板，并配置为垂直于所述指定方向相对于所述天板进行移动；发光组件检测模块，所述发光组件检测模块连接所述承载台；以及治具，所述治具包含光纤固定装置，其中，当所述天板移动至抵靠在所述治具的位置时，所述发光组件检测模块与所述光纤固定装置衔接。

【技术特征摘要】
1.一种发光组件检测设备，其特征在于，包括：机架；天板，所述天板衔接所述机架，并配置以沿着指定方向相对于所述机架进行移动；承载台，所述承载台衔接于所述天板，并配置为垂直于所述指定方向相对于所述天板进行移动；发光组件检测模块，所述发光组件检测模块连接所述承载台；以及治具，所述治具包含光纤固定装置，其中，当所述天板移动至抵靠在所述治具的位置时，所述发光组件检测模块与所述光纤固定装置衔接。2.根据权利要求1所述的发光组件检测设备，其特征在于，所述天板包含多数个限位结构，且所述承载台可移动地限位于所述限位结构之间。3.根据权利要求1所述的发光组件检测设备，其特征在于，所述发光组件检测模块具有多数个第一定位柱，所述光纤固定装置具有多数个第一定位孔，当所述天板移动至抵靠所述治具时，所述光纤固定装置的所述第一定位孔分别吻合地供所述发光组件检测模块的所述第一定位柱插入。4.根据权利要求3所述的发光组件检测设备，其特征在于，所述第一定位柱中的至少一者朝向所述光纤固定装置的一端具有导角。5.根据权利要求1所述的发光组件检测设备，其特征在于，所述发光组件检测模块具有插槽，所述光纤固定装置包含插头，配置以插入所述插槽。6.根据权利要求5所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨士纬，曹诣，
申请(专利权)人：德律科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾,71