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一种基于光子晶体闪烁体的核辐射探测装置制造方法及图纸

技术编号:19902133 阅读:39 留言:0更新日期:2018-12-26 02:32
本发明专利技术涉及一种基于光子晶体闪烁体的核辐射探测装置,包括:闪烁体,设置在闪烁体出光面的光子晶体,与光子晶体耦合的探测器,与探测器匹配连接的电子系统。与现有技术相比,本发明专利技术可以降低闪烁光出射的时间弥散特性,提高时间分辨率,对于有自吸收的闪烁体,可以提取出更多的闪烁光子,并提高探测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光子晶体闪烁体的核辐射探测装置
本专利技术属于核辐射探测领域,尤其是涉及一种基于光子晶体闪烁体的核辐射探测装置。
技术介绍
闪烁探测器在高能物理实验、核物理实验、核医学成像等领域具有重要用途。闪烁体的光输出制约着探测系统性能的提升。为了提高闪烁体的光输出,光子晶体被用于光提取,中国专利CN104280761A公开了一种通过光子晶体与闪烁体内部发光的耦合,部分打破内全反射的限制,实现最大限度的光输出提高的方法。通常光子晶体布置在闪烁体的出光面,出光面即与光电探测器(如光电倍增管、光电二极管、CCD器件)接触的面。为了尽可能多的收集闪烁光子,其它几个面通常包覆有反射层,这样光子只能在出光面出射,发射到其它面的闪烁光子经过若干次的反射最终也会通过出光面出射。然而这样的布局存在两个显著的问题。由于光子在闪烁内的多次反射,将产生光子的时间弥散,时间弥散指的是一簇光子在出射时由于所走过的有效光程的不同导致的时间差异。闪烁光子的时间弥散特征将导致探测系统的时间分辨率下降,在基于符合时间测量为基础的TOF-PET系统中具有显著的危害。另一个问题是闪烁光子在其它几个面的多次反射导致的有效光程延本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于光子晶体闪烁体的核辐射探测装置,其特征在于,该装置包括:闪烁体,设置在闪烁体出光面的光子晶体,与光子晶体耦合的探测器,与探测器匹配连接的电子系统。

【技术特征摘要】
1.一种基于光子晶体闪烁体的核辐射探测装置,其特征在于,该装置包括:闪烁体,设置在闪烁体出光面的光子晶体,与光子晶体耦合的探测器,与探测器匹配连接的电子系统。2.根据权利要求1所述的一种基于光子晶体闪烁体的核辐射探测装置,其特征在于,所述闪烁体设有数个出光面,其余面为非出光面。3.根据权利要求2所述的一种基于光子晶体闪烁体的核辐射探测装置,其特征在于,所述出光面优选设有两个。4.根据权利要求2所述的一种基于光子晶体闪烁体的核辐射探测装置,其特征在于,所述出光面优选为闪烁体对应两侧的端面。5.根据权利要求2所述的一种基于光子晶体闪烁体的核辐射探测装置,其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘波程传伟张娟楠顾牡陈鸿陈亮刘金良欧阳晓平
申请(专利权)人:同济大学
类型:发明
国别省市:上海,31

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