微波毫米波三维近场数据采集与成像系统技术方案

微波毫米波三维近场数据采集与成像系统，属于电磁场测量技术领域。设有控制电脑、测试探针、三轴运动控制器、线性平移台、矢量网络分析仪、金属支架和样品台；所述控制电脑分别与三轴运动控制器和矢量网络分析仪相连，三轴运动控制器与线性平移台相连；样品台安装固定在线性平移台上，金属支架设在线性平移台上方；测试探针固定在金属支架上并且与被测样品的一端口一起连接到矢量网络分析仪上。利用高性能长行程线性移动平台及同轴测试探针，可以实现对被测样品周围指定区域不同频率下的电场或者磁场进行逐点扫描，获取相关幅值与相位信息数据，并能通过电脑对场分布数据进行分析处理及成像显示。

【技术实现步骤摘要】
微波毫米波三维近场数据采集与成像系统
本专利技术属于电磁场测量
，尤其是涉及微波毫米波三维近场数据采集与成像系统。
技术介绍
电磁超材料是通过人工设计具有周期或者准周期结构的复合材料。这种复合材料与传统材料相比具有特异的物理性质，而且这种特异物理性质不仅取决于组成材料的本征性质，还取决于其亚波长结构尺寸参数。研究表明，电磁超材料具有负折射率、超吸收、旋光性、类电磁感应透明等多种新颖物理性质，并可通过结构尺寸设计对这些特性进行调控。近年来，为了便于器件与电路的集成应用，开展二维人工电磁超材料，特别是人工电磁超表面、人工表面等离激元(spoofsurfaceplasmons，SSPs)的研究受到人们的广泛关注。由于人工表面等离激元能够在微波、毫米波及太赫兹波频段下实现类似于光频段表面等离激元近场束缚、局域增强等特性，因此基于人工表面等离激元器件与系统在信号传输、生物传感、高分辨率成像等领域展现出极大的应用前景。目前，如何对电磁超材料、超表面、人工表面等离激元器件进行高效、准确实验表征，获取器件的近场幅值相位等信息，对该领域研究尤其关键。然而，现有比较完善的近场扫描系统主要有两种：光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.微波毫米波三维近场数据采集与成像系统，其特征在于设有控制电脑、测试探针、三轴运动控制器、线性平移台、矢量网络分析仪、金属支架和样品台；所述控制电脑分别与三轴运动控制器和矢量网络分析仪相连，三轴运动控制器与线性平移台相连；样品台安装固定在线性平移台上，金属支架设在线性平移台上方；测试探针固定在金属支架上并且与被测样品的一端口一起连接到矢量网络分析仪上。

【技术特征摘要】
1.微波毫米波三维近场数据采集与成像系统，其特征在于设有控制电脑、测试探针、三轴运动控制器、线性平移台、矢量网络分析仪、金属支架和样品台；所述控制电脑分别与三轴运动控制器和矢量网络分析仪相连，三轴运动控制器与线性平移台相连；样品台安装固定在线性平移台上，金属支架设在线性平移台上方；测试探针固定在金属支架上并且与被测样品的一端口一起连接到矢量网络分析仪上。2.如权利要求1所述微波毫米波三维近场数据采集与成像系统，其特征在于所述三轴运动控制器通过USB线与控制电脑相连。3.如权利要求1所述微波毫米波三维近场数据采集与成像系统，其特征在于所述三轴运动控制器通过线缆与线性平移台相连。4.如权利要求1所述微波毫米波三维近场数据采集与成像系统，其特征在于所述被测样品固定在样品台上，在控制电脑上设置扫面范围、步进与速度参数，控制被测样品移动。5.如权利要求1所述微波毫米波三维近场数据采集与成像系统，其特征在于所述控制电脑获取被测样品目前的移动位置、扫描进度和预估扫描时间参数。6.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶龙芳，丰豪，柳清伙，
申请(专利权)人：厦门大学，
类型：发明
国别省市：福建,35