半导体分立器件多功能高精度测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种半导体分立器件多功能高精度测试系统，属于电子设备测试仪技术领域，采用的技术方案为：其结构包括计算机信息采集及显示模块、总线控制单元、若干个测试仪以及若干个测试模块，各个测试模块独立挂置在总线控制单元上，总线控制单元连接各个测试仪，各个测试仪分别连接计算机信息采集及显示模块，计算机信息采集及显示模块用于采集数据并显示测试仪测试结果数据。本实用新型专利技术将多种半导体元器件的测试和批量测试集于一体，通过计算机实现数据信息的全面采集，同时采用统一轨道多组模具的方式来实现多种元器件的批量测试，提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】
半导体分立器件多功能高精度测试系统
本技术涉及电子设备测试仪
，具体地说是一种半导体分立器件多功能高精度测试系统。
技术介绍
半导体分立器件种类繁多，其外形多样化为其测试带来不便，测试人员必须采用不同的测试座，甚至改用测试地点、测试仪台来完成对其电性能的检测，测试也是由简单的单颗测试手动更换来完成，而即便是TMTT测试也只能拘谨于同种外型的材料才能实现批量测试，而针对多种外型在一个系统的电性检测是无法完成的，并且操作也极不方便。
技术实现思路
本技术的技术任务是提供一种半导体分立器件多功能高精度测试系统，将多种半导体元器件的测试和批量测试集于一体，通过计算机实现数据信息的全面采集，同时采用统一轨道多组模具的方式来实现多种元器件的批量测试，提高生产效率。本技术的技术任务是按以下方式实现的，半导体分立器件多功能高精度测试系统，包括计算机信息采集及显示模块、总线控制单元、若干个测试仪以及若干个测试模块，各个测试模块独立挂置在总线控制单元上，总线控制单元连接各个测试仪，各个测试仪分别连接计算机信息采集及显示模块，计算机信息采集及显示模块用于采集数据并显示测试仪测试结果数据。作为优选，所述测试模块连接有触点选择按钮，测试模块与触点选择按钮一一对应设置；测试模块包括触点支架以及设置在触点支架上的触点，触点设置有至少两个，不同材料引脚间距不同或者引脚数目不同，不同的引脚间距或引脚数目对应不同规格的触点，方便快捷。作为优选，还包括执行机构，执行机构包括机架以及设置在机架下方的轨道，机架下方设置有多个气缸，气缸缸体端通过气缸安装座固定安装在机架上，气缸活塞杆端固定连接测试模块，测试模块下方设置有外形模块，外形模块设置在轨道上。更优地，所述外形模块上设置有若干个测试工位，每个测试工位对应设置有信号采集点。更优地，外形模块包括DO-41外型模具、DO-15外型模具、P600外型模具、R-1外型模具、SMA/B/C外形模具、TO-3P/220外型模具等、KBPM外型模具和GBU外型模具。更优地，所述外形模具设置在触点下方。更优地，所述气缸采用三轴气缸。更优地，所述测试仪包括STD普通管测试仪或肖特基管测试仪、稳压管参数测试仪、Bridge测试仪、VC瞬态抑制管测试仪和TRR测试仪。更优地，所述测试模块包括Axial测试模块、弯角轴测试模块、贴面轴（SMA/B/C)测试模块、TO-220/TO-3P测试模块和BRIDGE测试模块。本技术半导体分立器件多功能高精度测试系统与现有技术相比具有以下优点：（一）、本技术在保证了拥有近似TMTT的测试效率的前提下实现多种外型、多种特性、多种器件的测试，无论是贴面还是接插件、轴向、桥式、TO等等，都能通过选择系统中的测试触点和测试模块来实现其不同要求的测试，并且该测试系统配备高精度台北歆科测试仪，通过该系统可实现对不同电性参数不同次数的测试，如可以实现在不同条件下（可达上千种）对同一参数的测试，而这是其他系统无法具备的，可广泛应用于半导体厂商进料检验，出货检验及实验室检验等场所，实现一个系统包罗万象的功能，在半导体行业具有广泛的应用前景；目前半导体行业发展迅猛，竞争压力也日益加强，要想在行业内夺得先机，品质和效率是首要的，本技术能够产业产能、提升产品品质以及产品质量保障；（二）、本技术信息采集更加全面，可以一次性采集多组数据；采用批量测试与不同外形模具的测试得到系统结合，同时结合轨道化测试，通过不同外形模具在同一轨道来实现其多功能化，节省场地，提升生产效率；（三）、不同外型的产品放置于不同的外形模具中，不同的外形模具选择对应的触点，所有模具均可以从统一的测试轨道经过测试，既实现了多功能测试也提高了测试效率；（四）、外形模具是针对不同外型产品而设计，同时外形模具上设置有若干个测试工位，产品放置于测试工位内可实现有序的测试，且外形模具上还设置有信号采集点，方便红外信号采集信息，测试为自动化过程，当红外信号扫描到材料时即可实现测试，同时也避免了卡料，提升测试效率；（五）、由于不同材料引脚间距不同，或引脚数目不同我们，本技术设置有多个触点，用到哪一种触点即选择该触点，方便快捷，且测试采用开尔文式测试方式，提高了测试准确度。附图说明下面结合附图对本技术进一步说明。附图1为半导体分立器件多功能高精度测试系统的结构框图；附图2为附图1中执行机构的结构示意图；附图3为附图1中外形模具的结构示意图。图中：1、计算机信息采集及显示模块，2、SD普通管测试仪或肖特基管测试仪，3、稳压管参数测试仪，4、TRR快或超快恢复管参数测试仪，5、VC瞬态抑制管测试仪，6、Bridge测试仪，7、总线控制单元，8、Axial测试模块，9、弯角轴测试模块，10、贴面轴测试模块，11、TO-220/TO-3P测试模块,12、BRIDGE测试模块，13、DO-41外型模具，14、DO-15外型模具，15、P600外型模具，16、R-1外型模具，17、SMA/B/C外形模具，18、TO-3P/220外型模具，19、KBPM外型模具，20、GBU外型模具，21、Axial测试模块触点选择按钮，22、弯角轴测试模块触点选择按钮，23、贴面轴测试模块触点选择按钮，24、TO-220/TO-3P测试模块触点选择按钮,25、BRIDGE测试模块触点选择按钮，26、触点支架，27、触点，28、机架，29、轨道，30、气缸，31、气缸安装座，32、测试工位，33、信号采集点。具体实施方式参照说明书附图和具体实施例对本技术的一种半导体分立器件多功能高精度测试系统作以下详细地说明。实施例：如附图1所示，本技术的半导体分立器件多功能高精度测试系统,其结构包括执行机构、计算机信息采集及显示模块1、总线控制单元7、若干个测试仪以及若干个测试模块，各个测试模块独立挂置在总线控制单元7上，总线控制单元7连接各个测试仪，各个测试仪分别连接计算机信息采集及显示模块1，计算机信息采集及显示模块1用于采集数据并显示测试仪测试结果数据。测试仪包括STD普通管测试仪或肖特基管测试仪2、稳压管参数测试仪3、TRR快或超快恢复管参数测试仪4、VC瞬态抑制管测试仪5和Bridge测试仪6。测试模块包括Axial测试模块8、弯角轴测试模块9、贴面轴（SMA/B/C)测试模块10、TO-220/TO-3P测试模块11和BRIDGE测试模块12。外形模块包括DO-41外型模具13、DO-15外型模具14、P600外型模具15、R-1外型模具16、SMA/B/C外形模具17、TO-3P/220外型模具18、KBPM外型模具19和GBU外型模具20。如附图2所示，执行机构包括机架28以及安装在机架28下方的轨道29，机架28下方安装有四个气缸30，气缸30缸体端通过气缸安装座31固定安装在机架28上，气缸30活塞杆端固定连接测试模块。测试模块下方安装有外形模块，外形模块安装在轨道29上。其中，测试模块连接有触点选择按钮，测试模块与触点选择按钮一一对应设置。测试模块包括触点支架26以及安装在触点支架26上的触点27，触点27设置两个、三个或四个，不同材料引脚间距不同或者引脚数目不同，不同的引脚间距或引脚数目对应不同规格的触点。触本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.半导体分立器件多功能高精度测试系统，其特征在于，包括计算机信息采集及显示模块、总线控制单元、若干个测试仪以及若干个测试模块，各个测试模块独立挂置在总线控制单元上，总线控制单元连接各个测试仪，各个测试仪分别连接计算机信息采集及显示模块，计算机信息采集及显示模块用于采集数据并显示测试仪测试结果数据。

【技术特征摘要】
1.半导体分立器件多功能高精度测试系统，其特征在于，包括计算机信息采集及显示模块、总线控制单元、若干个测试仪以及若干个测试模块，各个测试模块独立挂置在总线控制单元上，总线控制单元连接各个测试仪，各个测试仪分别连接计算机信息采集及显示模块，计算机信息采集及显示模块用于采集数据并显示测试仪测试结果数据。2.根据权利要求1所述的半导体分立器件多功能高精度测试系统，其特征在于，所述测试模块连接有触点选择按钮，测试模块与触点选择按钮一一对应设置；测试模块包括触点支架以及设置在触点支架上的触点，触点设置有至少两个。3.根据权利要求1或2所述的半导体分立器件多功能高精度测试系统，其特征在于，还包括执行机构，执行机构包括机架以及设置在机架下方的轨道，机架下方设置有多个气缸，气缸缸体端通过气缸安装座固定安装在机架上，气缸活塞杆端固定连接测试模块，测试模块下方设置有外形模块，外形模块设置在轨道上。4.根据权利要求3所述的半导体分立器件多功能高精度测试系统，其特征在于，所述外形模块上设置有...

【专利技术属性】
技术研发人员：董珂，
申请(专利权)人：济南固锝电子器件有限公司，
类型：新型
国别省市：山东,37