一种有源滤波器芯片检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种有源滤波器芯片检测装置，它包括主控制模块、以及分别与主控制模块连接的电源模块、计算机单元、DDS模块和AD采样模块，所述DDS模块经幅度控制模块与被测芯片插接口连接，所述AD采样模块经峰值检波模块与被测芯片插接口连接；它采用设置被测芯片插接口与相应功能模块连接的结构从而克服现有技术接线和操作过程较为复杂的缺陷，能大幅缩短测试时间，极大提高测试效率，并且测试结果准确可靠，整体结构科学合理、简单紧凑，安装和使用方便；它广泛适用于有源滤波器性能测试配套使用。

【技术实现步骤摘要】
一种有源滤波器芯片检测装置
本技术涉及电子测试设备，尤其涉及一种有源滤波器芯片检测装置。
技术介绍
在模拟信号处理领域，信号滤波是关键环节之一，信号滤波一般可以采用分立器件搭建的无源滤波器，也可采用集成电路搭建的有源滤波器；有源滤波器集成电路由于其电路拓扑简单、集成度高、电路设计容易而被广泛使用，而有源滤波器包括专用滤波芯片，且专用滤波芯片在中低频模拟信号滤波中大量使用；为确保专用滤波芯片使用的安全性和可靠性，现有技术一般采用稳压电源供电，示波器检测的方式进行测试，该方式每次测试均需重新接线，操作过程较为复杂，同时示波器等设备的连接调试时间长，对操作人员的专业技术水平要求高。
技术实现思路
针对上述情况，本技术的目的在于提供一种有源滤波器芯片检测装置，它采用设置被测芯片插接口与相应功能模块连接的结构从而克服现有技术接线和操作过程较为复杂的缺陷，能大幅缩短测试时间，极大提高测试效率，并且测试结果准确可靠，整体结构科学合理、简单紧凑，安装和使用方便，市场前景广阔，便于推广使用。为了实现上述目的，一种有源滤波器芯片检测装置，它包括主控制模块、以及分别与主控制模块连接的电源模块、计算机单元、DDS模块和AD采样模块，所述DDS模块经幅度控制模块与被测芯片插接口连接，所述AD采样模块经峰值检波模块与被测芯片插接口连接。为了实现结构、效果优化，其进一步的措施是：所述被测芯片插接口用于连接被测滤波芯片。所述被测滤波芯片的输入端经被测芯片插接口与幅度控制模块连接，所述被测滤波芯片的输出端经被测芯片插接口与峰值检波模块连接。本技术相比现有技术所产生的有益效果：(Ⅰ)本技术采用被测芯片插接口与相应功能模块连接的结构，能克服现有技术接线和操作过程较为复杂的缺陷，操作过程简单，测试时间短，极大提高了作业效率；(Ⅱ)本技术采用主控制模块与计算机单元连接的结构，方便对测试结果进行显示、打印和储存，便于比较判断测试结果，能提高测试精确度，并适合批量测试以及检测结果的管理；(Ⅲ)本技术采用设置被测芯片插接口与相应功能模块连接的结构从而克服现有技术接线和操作过程较为复杂的缺陷，能大幅缩短测试时间，极大提高测试效率，并且测试结果准确可靠，整体结构科学合理、简单紧凑，安装和使用方便，具有显著的经济效益和社会效益。本技术广泛适用于有源滤波器性能测试配套使用。下面结合附图和实施例对本技术作进一步详细说明。附图说明构成本申请的一部分的附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。图1是本技术的工作原理结构框图。图2是本技术中DDS模块的工作原理图。图3是本技术中幅度控制模块的工作原理图。图4是本技术中峰值检波模块的工作原理图。图5是本技术中AD采样模块的工作原理图。具体实施方式参照图1～图5，本技术是这样实现的：一种有源滤波器芯片检测装置，它包括主控制模块、以及分别与主控制模块连接的电源模块、计算机单元、DDS模块和AD采样模块，所述DDS模块经幅度控制模块与被测芯片插接口连接，所述AD采样模块经峰值检波模块与被测芯片插接口连接；所述电源模块经主控制模块为各功能模块提供电源，而计算机单元一般单独外接电源；所述主控制模块用于控制各功能模块工作，所述DDS模块用于产生扫描信号，所述幅度控制模块用于控制DDS模块输出扫描信号的幅度，所述峰值检波模块用于对被测芯片电路输出的正弦交流信号转换成交流信号的的峰值电压，所述AD采样模块用于对峰值电压信号进行采集并传输给主控制模块，所述计算机单元用于显示测试结果并储存、打印等，且计算机单元可通过USB接口与主控制模块连接，各功能模块之间通过串行接口或并行接口连接。参考图1所示，本技术中被测芯片插接口用于连接被测滤波芯片，所述被测滤波芯片的输入端经被测芯片插接口与幅度控制模块连接，所述被测滤波芯片的输出端经被测芯片插接口与峰值检波模块连接。参考图2所示，本技术中DDS模块的OS1为25MHz的有源晶振作为DDS芯片的时钟源，能提供精准的参考时钟，并采用0Ω的电阻串接在晶振和DDS芯片的时钟输入端，可以有效的抑制高频谐波分量，L1和C44组成LC低通滤波为晶振电源滤除高频干扰，C37为内部DAC偏置电压去耦，L9、C32、C33构成LC低通滤波器用于滤除电源干扰，C39、C40为内部2.5V参考电压提高滤波，C38为输出滤波电容用于滤除DDS输出高频干扰信号，C34为隔直电容用于防止有直流信号输出到后端，J2为预留的测试点；采用该结构的DDS模块能通过SPI接口来配置频率寄存器，从而达到数控频率输出的效果。参考图3所示，本技术中幅度控制模块的R42和R43组成了反馈回路，左半部分的放大倍数是3倍，由于DDS输出信号幅度是0.67Vpp，所以本测试仪最后的输出信号是2Vpp；R45为输入信号的负载电阻，也为耦合电容C34提供了电荷泄放回路，防止U9饱和；R44和C41组成了RC低通滤波电路，对输入信号进行滤波，R42和R43组成了反馈回路，L10、C43、C42以及L8、C35、C36均构成LC低通滤波器，分别为正负电源滤波；采用该结构使幅度控制模块具有极低的输入噪声和较大的带宽，能很好的满足系统要求。参考图4所示，本技术中峰值检波模块采用经典的二极管检波电路，由D13将输入的交流信号抬升0.5V，用来补偿D12对信号衰减的0.5V，然后再经电容C58滤波后得到一个直流信号，由于这个直流信号不具备带载能力，因此在这个直流信号之后再增加一个射级跟随器进行阻抗变换；L14、C71、C72以及L13、C57、C56构成低通滤波器分别给正负电源滤波，R59为运放提供输入偏置电流。参考图5所示，本技术中AD采样模块的C47为TL431电源去耦电容，R49作为TL431的限流电阻用于控制TL431流过的电流在2.5V稳压区间，L12、C47、C48组成LC低通滤波器滤除电源线上的高频干扰；采用该结构的AD采样模块是一款12位的AD芯片，配合2.5V电压基准的TL431，可以达到0.6mV的精度，足以满足系统要求。结合图1～图5所示，本技术的工作流程如下：1)首先对计算机单元和各功能模块接通电源，系统开始启动；2)将被测滤波芯片插入被测芯片插接口；3)经计算机单元输入检测批次号，并点击检测开始；4)主控制模块控制DDS模块产生正弦扫描信号，频率从1Hz开始，每隔0.5mS频率增加1Hz，直到增加到200KHz；5)DDS模块输出的扫描信号经电容耦合去除直流成分之后进入幅度控制模块，幅度控制模块将DSS模块输出扫描信号的幅度控制在2V峰值，同时被测滤波芯片对输入的扫描信号进行滤波后输出；6)峰值检波模块将滤波电路输出的正弦信号转换成对应的峰值电压；7)AD采样模块采集相应的峰值电压，并将信号传输给主控制模块；8)主控制模块接收采集的电压值，并将该电压值与扫描信号峰值2V进行比较，得到二者比值，并将比值转换成分贝，将分贝值与当前的频率值以波形曲线图的形式发送给计算机单元进行显示，并将该波形图与标准波形图进行比较判断，从而得到被测滤波芯片的性能测试结果；9)经计算机单元可对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种有源滤波器芯片检测装置，其特征在于包括主控制模块、以及分别与主控制模块连接的电源模块、计算机单元、DDS模块和AD采样模块，所述DDS模块经幅度控制模块与被测芯片插接口连接，所述AD采样模块经峰值检波模块与被测芯片插接口连接。

【技术特征摘要】
1.一种有源滤波器芯片检测装置，其特征在于包括主控制模块、以及分别与主控制模块连接的电源模块、计算机单元、DDS模块和AD采样模块，所述DDS模块经幅度控制模块与被测芯片插接口连接，所述AD采样模块经峰值检波模块与被测芯片插接口连接。2.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖业伟，阳敏，王正强，柯兴利，
申请(专利权)人：湖南亿能电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：湖南,43