光路调试方法技术

本发明专利技术公开了光路调试方法，包括光谱仪本体和调试步骤，所述光谱仪本体内腔的左侧固定连接有光栅，所述光栅内腔右侧的顶部固定连接有聚焦镜，所述光谱仪本体内腔右侧的底部固定连接有准直镜，所述聚焦镜和准直镜镜面与光栅相对，所述光谱仪本体左侧的底部设置有入射夹缝，所述入射夹缝的左侧设置有镜筒，所述光谱仪本体左侧的顶部设置有出射夹缝。本发明专利技术通过现光谱仪本体、光栅、聚焦镜、准直镜、入射夹缝、镜筒、出射夹缝、探测器、石英透镜、准直镜光斑中心和基准线的配合使用，能够方便地把Czerny‑Turner型光路单色器的光路和色带调平，有效地将入射狭缝精确地成像在出射狭缝处，并且像质很好，保证单色器具有良好的分辨能力。

【技术实现步骤摘要】
光路调试方法
本专利技术涉及光谱仪
，具体为光路调试方法。
技术介绍
单道扫描型ICP光谱仪分光系统主要由聚焦透镜、焦距为1m的单色器和光电探测器构成等离子体火焰激发物质的光谱信息通过聚焦透镜聚焦后进入单色器，在单色器中分光最后由光电探测器接收其中单色器主要由入射狭缝、准直镜(球面反射镜)、光栅(反射式)、聚焦镜(球面反射镜)和出射狭缝组成，本文公开的调试方法是先采用较强钨灯作为光源，以入射狭缝和出射狭缝中心连线及准直镜和聚焦镜中心连线决定的平面作为基准面来调平光路和色带，再以较弱光低压笔形汞灯作为光源，通过显微镜观察入射狭缝(细缝)在出射狭缝处的成像情况来调焦和调狭缝以固定出射狭缝。单道扫描型ICP光谱仪是通过ICP光源激发出试样中各种待测元素的特征谱线，这些特征谱线混在一起构成的复合光通过分光系统分成许多不同波长的光，通过测试这些不同波长特征谱线的强度来确定物质的成分及含量单色器是光谱仪的核心部件，它的色散能力和分辨能力直接影响测试的准确性，单色器的调试方法是影响其分辨能力的关键因素之一，有效的调试方法对生产效率和仪器的性能具有举足轻重的作用，目前尚未见到有关单色器的调试方法报道。光谱仪单色器的色散能力和分辨能力的好坏，直接影响着光谱仪的分辨能力，但是目前尚未见到有关光谱仪单色器的调试方法，所以这也就使得光谱仪分辨能力无法有效的调节，进而直接影响着光谱仪的像质，降低了光谱仪的分辨能力。本
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供光路调试方法，具备简单有效的优点，解决了光谱仪分辨能力无法有效的调节，进而直接影响着光谱仪的像质，降低了光谱仪的分辨能力的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种光路调试方法，包括光谱仪本体和调试步骤，所述光谱仪本体内腔的左侧固定连接有光栅，所述光栅内腔右侧的顶部固定连接有聚焦镜，所述光谱仪本体内腔右侧的底部固定连接有准直镜，所述聚焦镜和准直镜镜面与光栅相对，所述光谱仪本体左侧的底部设置有入射夹缝，所述入射夹缝的左侧设置有镜筒，所述光谱仪本体左侧的顶部设置有出射夹缝，所述出射夹缝的左侧设置有探测器，所述探测器的底部与光谱仪本体固定连接。所述光谱仪本体包括石英透镜，所述石英透镜与准直镜相对，所述光栅和镜筒之间设置有准直镜光斑中心，所述光栅、准直镜光斑中心和镜筒的中心处设置有基准线。调试步骤如下：步骤一：布置基准线：以两夹缝中心连线作为基准线；步骤二：调平准直镜；在入射狭缝处放置粗狭缝，钨灯光线经过镜筒照亮粗入射狭缝后照满准直镜，调整准直镜，将其所成光斑中心与基准线重合；步骤三：调平光栅：装上光栅，转动光栅，光线经光栅反射重新照在准直镜上，聚焦在入射夹缝附近，通过调整光栅使光栅零级光斑中心与基准线重合；步骤四：调平聚焦：转动光栅，光线经光栅反射打在聚焦镜上后成像在出射夹缝附近，通过调整聚焦镜使其所成光斑中心与基准线重合；步骤五：调平色带：转动光栅，让衍射色带出现在夹缝附近，通过调整光栅使色带中心与基准线重合；步骤六：安装入射夹缝：换用笔形汞灯，通过镜筒成像再入射在夹缝，用显微镜在出射夹缝处观察成像情况，调整显微镜看到清晰的入射夹缝像，固定细夹缝；步骤七：调焦：在出射夹缝放置粗夹缝，转动光栅，让零级光出现在粗夹缝中，用显微镜观察成像情况，判断入射夹缝所成像与粗夹缝的相对位置；步骤八：安装出射夹缝：出射狭缝处换用细狭缝，用显微镜观察，调整细狭缝，使其对准入射狭缝所成的像，固定出射狭缝。优选的，所述换用笔形汞灯为较弱光源低压笔形汞灯，成像在入射夹缝的成像比例为1：1，且入射夹缝换用细夹缝，转动细入射夹缝至成像质量最好时，将细夹缝固定。优选的，所述调整细入射夹缝像和粗入射夹缝，并判断细入射夹缝像和粗入射夹缝在同一面上。与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：1、本专利技术通过现光谱仪本体、光栅、聚焦镜、准直镜、入射夹缝、镜筒、出射夹缝、探测器、石英透镜、准直镜光斑中心和基准线的配合使用，能够方便地把Czerny-Turner型光路单色器的光路和色带调平，有效地将入射狭缝精确地成像在出射狭缝处，并且像质很好，保证单色器具有良好的分辨能力。附图说明图1为本专利技术结构示意图；图2为本专利技术结构分光系统示意图；图3为本专利技术结构基准示意图。图中：1、光谱仪本体；2、光栅；3、聚焦镜；4、准直镜；5、入射夹缝；6、镜筒；7、出射夹缝；8、探测器；9、石英透镜；10、准直镜光斑中心；11、基准线。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-3，本专利技术提供一种技术方案：一种光路调试方法，包括光谱仪本体1和调试步骤，光谱仪本体1内腔的左侧固定连接有光栅2，光栅2内腔右侧的顶部固定连接有聚焦镜3，光谱仪本体1内腔右侧的底部固定连接有准直镜4，聚焦镜3和准直镜4镜面与光栅2相对，光谱仪本体1左侧的底部设置有入射夹缝5，入射夹缝5的左侧设置有镜筒6，光谱仪本体1左侧的顶部设置有出射夹缝7，出射夹缝7的左侧设置有探测器8，探测器8的底部与光谱仪本体1固定连接。光谱仪本体1包括石英透镜9，石英透镜9与准直镜4相对，光栅2和镜筒6之间设置有准直镜光斑中心10，光栅2、准直镜光斑中心10和镜筒6的中心处设置有基准线11；实施例一：调试步骤如下：步骤一：布置基准线：以两夹缝中心连线作为基准线；步骤二：调平准直镜；在入射狭缝处放置粗狭缝，钨灯光线经过镜筒照亮粗入射狭缝后照满准直镜，调整准直镜，将其所成光斑中心与基准线重合；步骤三：调平光栅：装上光栅，转动光栅，光线经光栅反射重新照在准直镜上，聚焦在入射夹缝附近，通过调整光栅使光栅零级光斑中心与基准线重合；步骤四：调平聚焦：转动光栅，光线经光栅反射打在聚焦镜上后成像在出射夹缝附近，通过调整聚焦镜使其所成光斑中心与基准线重合；步骤五：调平色带：转动光栅，让衍射色带出现在夹缝附近，通过调整光栅使色带中心与基准线重合；步骤六：安装入射夹缝：换用为较弱光源低压笔形汞灯，通过镜筒成像在入射夹缝，入射夹缝为细入射夹缝，且成像在入射夹缝的成像比例为1：1，用显微镜在出射夹缝处观察成像情况，调整显微镜看到清晰的入射夹缝像，当转动细入射夹缝至成像质量最好时，固定细夹缝；步骤七：调焦：在出射夹缝放置粗夹缝，转动光栅，让零级光出现在粗夹缝中，用显微镜观察成像情况，经过调整细入射夹缝像和粗入射夹缝，判断入射夹缝所成像与粗夹缝的相对位置，并使得断细入射夹缝像和粗入射夹缝在同一面上，细入射夹缝的角度为11度，粗入射夹缝的角度为14度；步骤八：安装出射夹缝：出射狭缝处换用细狭缝，用显微镜观察，调整细狭缝，使其对准入射狭缝所成的像，固定出射狭缝。实施例二：本实施例与实施例一的区别在于：调试步骤如下：步骤一：布置基准线：以两夹缝中心连线作为基准线；步骤二：调平准直镜；在入射狭缝处放置粗狭缝，钨灯光线经过镜筒照亮粗入射狭缝后照满准直镜，调整准直镜，将其所成光斑中心与基准线重合；步骤三：调平光栅：装上光栅，转动光栅，光线经光栅反射重新照在准直镜上，聚焦在入射夹缝附近，通本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.光路调试方法，包括光谱仪本体(1)和调试步骤，其特征在于：所述光谱仪本体(1)内腔的左侧固定连接有光栅(2)，所述光栅(2)内腔右侧的顶部固定连接有聚焦镜(3)，所述光谱仪本体(1)内腔右侧的底部固定连接有准直镜(4)，所述聚焦镜(3)和准直镜(4)镜面与光栅(2)相对，所述光谱仪本体(1)左侧的底部设置有入射夹缝(5)，所述入射夹缝(5)的左侧设置有镜筒(6)，所述光谱仪本体(1)左侧的顶部设置有出射夹缝(7)，所述出射夹缝(7)的左侧设置有探测器(8)，所述探测器(8)的底部与光谱仪本体(1)固定连接；所述光谱仪本体(1)包括石英透镜(9)，所述石英透镜(9)与准直镜(4)相对，所述光栅(2)和镜筒(6)之间设置有准直镜光斑中心(10)，所述光栅(2)、准直镜光斑中心(10)和镜筒(6)的中心处设置有基准线(11)。调试步骤如下：步骤一：布置基准线：以两夹缝中心连线作为基准线；步骤二：调平准直镜；在入射狭缝处放置粗狭缝，钨灯光线经过镜筒照亮粗入射狭缝后照满准直镜，调整准直镜，将其所成光斑中心与基准线重合；步骤三：调平光栅：装上光栅，转动光栅，光线经光栅反射重新照在准直镜上，聚焦在入射夹缝附近，通过调整光栅使光栅零级光斑中心与基准线重合；步骤四：调平聚焦：转动光栅，光线经光栅反射打在聚焦镜上后成像在出射夹缝附近，通过调整聚焦镜使其所成光斑中心与基准线重合；步骤五：调平色带：转动光栅，让衍射色带出现在夹缝附近，通过调整光栅使色带中心与基准线重合；步骤六：安装入射夹缝：换用笔形汞灯，通过镜筒成像再入射在夹缝，用显微镜在出射夹缝处观察成像情况，调整显微镜看到清晰的入射夹缝像，固定细夹缝；步骤七：调焦：在出射夹缝放置粗夹缝，转动光栅，让零级光出现在粗夹缝中，用显微镜观察成像情况，判断入射夹缝所成像与粗夹缝的相对位置，细入射夹缝的角度为15度，粗入射夹缝的角度为20度；步骤八：安装出射夹缝：出射狭缝处换用细狭缝，用显微镜观察，调整细狭缝，使其对准入射狭缝所成的像，固定出射狭缝。...

【技术特征摘要】
1.光路调试方法，包括光谱仪本体(1)和调试步骤，其特征在于：所述光谱仪本体(1)内腔的左侧固定连接有光栅(2)，所述光栅(2)内腔右侧的顶部固定连接有聚焦镜(3)，所述光谱仪本体(1)内腔右侧的底部固定连接有准直镜(4)，所述聚焦镜(3)和准直镜(4)镜面与光栅(2)相对，所述光谱仪本体(1)左侧的底部设置有入射夹缝(5)，所述入射夹缝(5)的左侧设置有镜筒(6)，所述光谱仪本体(1)左侧的顶部设置有出射夹缝(7)，所述出射夹缝(7)的左侧设置有探测器(8)，所述探测器(8)的底部与光谱仪本体(1)固定连接；所述光谱仪本体(1)包括石英透镜(9)，所述石英透镜(9)与准直镜(4)相对，所述光栅(2)和镜筒(6)之间设置有准直镜光斑中心(10)，所述光栅(2)、准直镜光斑中心(10)和镜筒(6)的中心处设置有基准线(11)。调试步骤如下：步骤一：布置基准线：以两夹缝中心连线作为基准线；步骤二：调平准直镜；在入射狭缝处放置粗狭缝，钨灯光线经过镜筒照亮粗入射狭缝后照满准直镜，调整准直镜，将其所成光斑中心与基准线重合；步骤三：调平光栅：装上光栅，转动光栅，光线经光栅反射重新照在准直镜上，聚焦在入射夹缝...

【专利技术属性】
技术研发人员：王少勇，顾建峰，董殿永，
申请(专利权)人：苏州博维仪器科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32