光路调试方法技术

技术编号:19816519 阅读:122 留言:0更新日期:2018-12-19 12:57
本发明专利技术公开了光路调试方法,包括光谱仪本体和调试步骤,所述光谱仪本体内腔的左侧固定连接有光栅,所述光栅内腔右侧的顶部固定连接有聚焦镜,所述光谱仪本体内腔右侧的底部固定连接有准直镜,所述聚焦镜和准直镜镜面与光栅相对,所述光谱仪本体左侧的底部设置有入射夹缝,所述入射夹缝的左侧设置有镜筒,所述光谱仪本体左侧的顶部设置有出射夹缝。本发明专利技术通过现光谱仪本体、光栅、聚焦镜、准直镜、入射夹缝、镜筒、出射夹缝、探测器、石英透镜、准直镜光斑中心和基准线的配合使用,能够方便地把Czerny‑Turner型光路单色器的光路和色带调平,有效地将入射狭缝精确地成像在出射狭缝处,并且像质很好,保证单色器具有良好的分辨能力。

【技术实现步骤摘要】
光路调试方法
本专利技术涉及光谱仪
,具体为光路调试方法。
技术介绍
单道扫描型ICP光谱仪分光系统主要由聚焦透镜、焦距为1m的单色器和光电探测器构成等离子体火焰激发物质的光谱信息通过聚焦透镜聚焦后进入单色器,在单色器中分光最后由光电探测器接收其中单色器主要由入射狭缝、准直镜(球面反射镜)、光栅(反射式)、聚焦镜(球面反射镜)和出射狭缝组成,本文公开的调试方法是先采用较强钨灯作为光源,以入射狭缝和出射狭缝中心连线及准直镜和聚焦镜中心连线决定的平面作为基准面来调平光路和色带,再以较弱光低压笔形汞灯作为光源,通过显微镜观察入射狭缝(细缝)在出射狭缝处的成像情况来调焦和调狭缝以固定出射狭缝。单道扫描型ICP光谱仪是通过ICP光源激发出试样中各种待测元素的特征谱线,这些特征谱线混在一起构成的复合光通过分光系统分成许多不同波长的光,通过测试这些不同波长特征谱线的强度来确定物质的成分及含量单色器是光谱仪的核心部件,它的色散能力和分辨能力直接影响测试的准确性,单色器的调试方法是影响其分辨能力的关键因素之一,有效的调试方法对生产效率和仪器的性能具有举足轻重的作用,目前尚未见到有关单色器的调试方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.光路调试方法,包括光谱仪本体(1)和调试步骤,其特征在于:所述光谱仪本体(1)内腔的左侧固定连接有光栅(2),所述光栅(2)内腔右侧的顶部固定连接有聚焦镜(3),所述光谱仪本体(1)内腔右侧的底部固定连接有准直镜(4),所述聚焦镜(3)和准直镜(4)镜面与光栅(2)相对,所述光谱仪本体(1)左侧的底部设置有入射夹缝(5),所述入射夹缝(5)的左侧设置有镜筒(6),所述光谱仪本体(1)左侧的顶部设置有出射夹缝(7),所述出射夹缝(7)的左侧设置有探测器(8),所述探测器(8)的底部与光谱仪本体(1)固定连接;所述光谱仪本体(1)包括石英透镜(9),所述石英透镜(9)与准直镜(4)相对,所述光...

【技术特征摘要】
1.光路调试方法,包括光谱仪本体(1)和调试步骤,其特征在于:所述光谱仪本体(1)内腔的左侧固定连接有光栅(2),所述光栅(2)内腔右侧的顶部固定连接有聚焦镜(3),所述光谱仪本体(1)内腔右侧的底部固定连接有准直镜(4),所述聚焦镜(3)和准直镜(4)镜面与光栅(2)相对,所述光谱仪本体(1)左侧的底部设置有入射夹缝(5),所述入射夹缝(5)的左侧设置有镜筒(6),所述光谱仪本体(1)左侧的顶部设置有出射夹缝(7),所述出射夹缝(7)的左侧设置有探测器(8),所述探测器(8)的底部与光谱仪本体(1)固定连接;所述光谱仪本体(1)包括石英透镜(9),所述石英透镜(9)与准直镜(4)相对,所述光栅(2)和镜筒(6)之间设置有准直镜光斑中心(10),所述光栅(2)、准直镜光斑中心(10)和镜筒(6)的中心处设置有基准线(11)。调试步骤如下:步骤一:布置基准线:以两夹缝中心连线作为基准线;步骤二:调平准直镜;在入射狭缝处放置粗狭缝,钨灯光线经过镜筒照亮粗入射狭缝后照满准直镜,调整准直镜,将其所成光斑中心与基准线重合;步骤三:调平光栅:装上光栅,转动光栅,光线经光栅反射重新照在准直镜上,聚焦在入射夹缝...

【专利技术属性】
技术研发人员:王少勇顾建峰董殿永
申请(专利权)人:苏州博维仪器科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

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