一种面板的光学检测方法技术

本发明专利技术公开了一种面板的光学检测方法，包括如下步骤：步骤1：提供待检测的面板和检测装置，其中所述检测装置设置有预压接站和光学检测站；步骤2：对所述步骤1中的所述面板在预压接站进行预压接；步骤3：根据所述步骤2中预压接信号判断所述面板是否需要进入所述光学检测站，若为第一压接信号，则将所述面板输出所述检测装置，若为第二压接信号，则将所述面板移送至所述光学检测站；步骤4：对所述步骤3中进入所述光学检测站的所述面板进行光学检测或者移送至下游工站。本发明专利技术的面板的光学检测方法，能够精确地对面板进行预对位和预压接操作，且精准地将面板与电路板对位压接，以便光学检测仪器精确地对面板进行检测。

【技术实现步骤摘要】
一种面板的光学检测方法
本专利技术涉及显示面板检测
，涉及一种面板的光学检测方法。
技术介绍
在TFT、LTPS、AM-OLED等多种显示面板的制程中，需要对显示面板进行光学检测，如检查面板是否存在色不均(mura)、亮暗点等缺陷。光学检测是液晶行业对玻璃基板等基板类原料及半成品的常用的检测手段。一般采用光学检测仪器对被检测基板扫描，得到被检测基板的扫描图像，然后通过对该扫描图像进行分析，判定被检测基板是否存在缺陷以及缺陷的准确位置。而对于未装背光的显示面板检测时则需要将显示面板点亮(即点屏操作)进行检测。点屏时，需要将电路板与显示面板对位并压接。将电路板与显示面板对位压接的精度要求较高，目前，对位压接时，主要是通过人工精细地操作，费时费力；尤其是随着面板的测试布线越来越精细，对压头本身的精度、对位时的精准度等都提出了更高的要求，现有的对位压接技术难以达到要求。更为重要的是，人工检测时不能预先判断来料的好坏，导致本就是不良的产品浪费检测时间；另外光学检测完成后检测结果需要手动记录，从而导致面板检测的效率较低。有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种面板的光学检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种面板的光学检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：提供待检测的面板和检测装置，其中所述检测装置设置有预压接站和光学检测站；步骤2：对所述步骤1中的所述面板在预压接站进行预压接；步骤3：根据所述步骤2中预压接信号判断所述面板是否需要进入所述光学检测站，若为第一压接信号，则将所述面板输出所述检测装置，若为第二压接信号，则将所述面板移送至所述光学检测站；步骤4：对所述步骤3中进入所述光学检测站的所述面板进行光学检测或者移送至下游工站。

【技术特征摘要】
1.一种面板的光学检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：提供待检测的面板和检测装置，其中所述检测装置设置有预压接站和光学检测站；步骤2：对所述步骤1中的所述面板在预压接站进行预压接；步骤3：根据所述步骤2中预压接信号判断所述面板是否需要进入所述光学检测站，若为第一压接信号，则将所述面板输出所述检测装置，若为第二压接信号，则将所述面板移送至所述光学检测站；步骤4：对所述步骤3中进入所述光学检测站的所述面板进行光学检测或者移送至下游工站。2.根据权利要求1所述的面板的光学检测方法，其特征在于，所述预压接站的预压接装置(300)包括双层移载机构(330)和第一对位压接机构(310)；所述步骤2具体包括：步骤S21、装载所述面板至位于入料位(320)的所述双层移载机构(330)上；步骤S22、移动所述双层移载机构(330)至第一对位压接位(340)并将所述面板与所述第一对位压接机构(310)进行预对位和预压接；步骤S23、移动所述双层移载机构(330)至出料位(360)，并卸载所述面板。3.根据权利要求2所述的面板的光学检测方法，其特征在于，所述步骤S22中的所述双层移载机构(330)包含交替并依次移动至所述入料位(320)、所述第一对位压接位(340)及所述出料位(360)的上层移载平台(331)和下层移载平台(332)。4.根据权利要求2所述的面板的光学检测方法，其特征在于，在所述步骤3中，若所述预压接信号为所述第一压接信号，则卸载所述步骤S23中的所述面板至所述检测装置的传输机构(520)，以将所述面板传输出所述检测装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：祝鹏程，叶坤，商秋锋，
申请(专利权)人：苏州精濑光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32