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低温漂高电源抑制比的分段线性补偿CMOS带隙基准源制造技术

技术编号:19797254 阅读:38 留言:0更新日期:2018-12-19 04:47
本实用新型专利技术公开了一种低温漂高电源抑制比的分段线性补偿CMOS带隙基准源,包括基准核心模块,基准核心模块用于产生基准输出电压;高温阶段线性补偿模块,高温阶段线性补偿模块与基准核心模块相连,用于在高温段对基准输出电压进行曲率补偿;低温阶段线性补偿模块,低温阶段线性补偿模块与基准核心模块相连,用于在低温段对基准输出电压进行曲率补偿。本实用新型专利技术的基准核心模块产生基准输出电压;高温阶段线性补偿模块与低温阶段线性补偿模块分别在高温段与低温段对输出电压进行曲率补偿,最终获得低温漂系数基准电压,相比传统带隙基准源具有更低的温漂系数以及更高的电源抑制比,同时也提高了基准输出电压的精度。

【技术实现步骤摘要】
低温漂高电源抑制比的分段线性补偿CMOS带隙基准源
本技术涉及集成电路领域,特别涉及一种低温漂高电源抑制比的分段线性补偿CMOS带隙基准源。
技术介绍
随着电子产品特别是智能电子产品(如手机、笔记本电脑、数码相机、医疗设备等)迅猛发展,对电源性能有越来越高的要求,同时芯片的性能也提出了越来越苛刻的要求。带隙基准源作为芯片必不可少的重要组成部分,其性能的优劣直接影响到芯片及整个电子产品的可靠性和稳定性。因此,通过电路设计来满足现代集成电路的性能需求,是带隙基准源设计中最重要工作。在各种性能研究中,温度系数和电源抑制比是带隙基准源的一大关键性指标。常用的主要温度补偿技术有:不同温度系数电阻补偿、分段补偿、指数曲率补偿等。考虑到:1)电阻随温度变化非线性,受工艺影响较大,这需要对工艺提出特别的要求,所以一般情况下用不同温度系数电阻补偿的方法工艺稳定性较差;2)指数曲率补偿的方法需要利用晶体管电流增益,由于其增益是温度的函数,使得电路稳定性变差,而且版图面积也较大。大部分带隙基准分段补偿电路通常采用含有运放的电路结构,这种电路不但结构复杂,而且实际测试时运放的失调电压会对电路造成一定的影响。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种低温漂高电源抑制比的分段线性补偿CMOS带隙基准源,其特征在于:包括基准核心模块,基准核心模块用于产生基准输出电压;高温阶段线性补偿模块,高温阶段线性补偿模块与基准核心模块相连,用于在高温段对基准输出电压进行曲率补偿;低温阶段线性补偿模块,低温阶段线性补偿模块与基准核心模块相连,用于在低温段对基准输出电压进行曲率补偿。

【技术特征摘要】
1.一种低温漂高电源抑制比的分段线性补偿CMOS带隙基准源,其特征在于:包括基准核心模块,基准核心模块用于产生基准输出电压;高温阶段线性补偿模块,高温阶段线性补偿模块与基准核心模块相连,用于在高温段对基准输出电压进行曲率补偿;低温阶段线性补偿模块,低温阶段线性补偿模块与基准核心模块相连,用于在低温段对基准输出电压进行曲率补偿。2.根据权利要求1所述的低温漂高电源抑制比的分段线性补偿CMOS带隙基准源,其特征在于:所述基准核心模块包括第零PMOS管、第一PMOS管、第二PMOS管、第三PMOS管、第四PMOS管、第五PMOS管、第六NMOS管、第七NMOS管、第八NMOS管、第九PMOS管、第十PMOS管、第零电阻、第一电阻和第零三极管,所述第零PMOS管的栅极与第零PMOS管的漏极相连,第零PMOS管的源极接VCC,第一PMOS管的栅极与第零PMOS管的漏极相连,第一PMOS管的源极接VCC,第一PMOS管的漏极与第四PMOS管的源极相连,所述第二PMOS管的源极接VCC,第二PMOS管栅极与第一PMOS管的漏极相连,第二PMOS管的漏极与第五PMOS管的源极相连,所述第三PMOS管的栅极与第三PMOS管的漏极相连,所述第三PMOS管的源极与第零PMOS管的漏极相连,第四PMOS管的栅极与第三PMOS管的漏极相连,第四PMOS管的漏极与第七NMOS管的漏极相连,所述第五PMOS管的栅极与第四PMOS管的栅极相连,第五PMOS管的漏极与第八NMOS管的漏极相连,所述第六NMOS管的栅极与第五PMOS管的漏极相连,第六NMOS管的漏极与第三PMOS管的漏极相连,第六NMOS管的源极与第七NMOS管的源极相连,所述第七NMOS管的栅极与第七NMOS管的漏极相连,第七NMOS管的源极与第零电阻的一端相连,第零电阻的另一端接地,所述第八NMOS管的栅极与第七NMOS管的栅极相连,第八NMOS管的源极接地,所述第九PMOS管的栅极与第零PMOS管的漏极相连,第九PMOS管的漏极与第十PMOS管的源极相连,第九PMOS管的源极接VCC,所述第十PMOS管的栅极与所述第三PMOS管的漏极相连,第十PMOS管的漏极与第一电阻的一端相连,所述第一电阻的另一端与第零三极管的发射极相连,第零三极管的基极接地,第零三极管的集电极接地。3.根据权利要求2所述的低温漂高电源抑制比的分段线性补偿CMOS带隙基准源,其特征在于:所述高温阶段线性补偿模块包括第十一PMOS管、第十二PMOS管、第十三PMOS管、第十四PMOS管、第十五PMOS管、第十六PMOS管、第十七NMOS管、第十八NMOS管、第十九NMOS管、第二十NMOS管、第二十一PMOS管、第二十二PMOS管、第二十三PMOS管、第二十四PMOS管、第二十五PMOS管、第二十六PMOS管、第二电阻和第一三极管,所述第十一PMOS管的栅极与第十一PMOS管的漏极相连,第十一PMOS管的源极接VCC,第十二PMOS管的栅极与第十一PMOS管的漏极相连,第十二PMOS管的源极接VCC,第十二PMOS管的漏极与第十四PMOS管的源极相连,所述第十三PMOS管的栅极与第十三PMOS管的漏极相连,所述第十四PMOS管的栅极与第十三PMOS管的栅极相连,第十四PMOS管的漏极与第一三极管的发射极相连,第一三极管的基极接地,第一三极管的集电极接地,所述第十五PMOS管的栅极与第零PMOS管的漏极相连,第十五PMOS管的源极接VCC,第十五PMOS管的漏极与第十六PMOS管的源极相连,所述第十六PMOS管的栅极与第三PMOS管的漏极相连,所述第十七NMOS管的栅极与第十七NMOS管的...

【专利技术属性】
技术研发人员:曾以成王璐崔晶晶
申请(专利权)人:湘潭大学
类型:新型
国别省市:湖南,43

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