电流检测器制造技术

本实用新型专利技术提供电流检测器，其是能够实现的作业的容易化和制造成本的降低的技术。电流检测器(100)具有：外壳主体(102)，在该外壳主体形成有供被检测电流的导体插通用的贯插孔(104)，在该贯插孔的周围形成有收纳部(102g)；磁性体芯(110)，其设置在收纳部(102g)内；电路基板(114)，其与磁性体芯(110)一起被收纳在收纳部(102g)内；肋部(102h)及突出部位(102k)，它们是与外壳主体(102)形成为一体形成，限制电路基板(114)在贯插孔(104)的周向上的旋转移位，从而限制电路基板(114)从外壳主体(102)脱落。

【技术实现步骤摘要】
电流检测器
本技术涉及在电流的测定中使用的电流检测器。
技术介绍
关于这种电流检测器，以往已知有如下的在先技术，当在磁传感器用的具有间隙的环状的铁芯上卷绕线圈时，在基板的同一个面上，在与铁芯的圆周相同半径的圆周上配置磁传感器和线圈(例如，参照专利文献1)。在该在先技术中，通过预先将线圈长度设为小于间隙的尺寸，在配置基板时，在将线圈配置于间隙中后，使基板沿着铁芯的周向移动，由此形成铁芯穿通线圈的状态。然后，通过使该基板围绕线圈的中心轴线旋转，磁传感器被配置在间隙中。【在先技术文献】【专利文献】【专利文献1】日本特开2013－68490号公报上述的在先技术进行使基板向铁芯周向移动和围绕线圈中心轴线旋转这样复杂的动作，因而装配作业烦杂。并且，在将线圈及基板收纳于框体中后，使用多个螺钉部件将基板固定于框体，因而部件数目和装配工时增多，相应地存在制造成本高涨的问题。
技术实现思路
因此，本技术的课题是，提供能够实现的作业的容易化和制造成本的降低的技术。为了解决上述课题，本技术采用以下的解决方案。本技术的电流检测器在外壳主体具有限制单元。在外壳主体中的内侧形成有贯插孔，并且在贯插孔的周围形成有收纳部。收纳部呈在从导体的插通方向观察时外壳主体的一个面开口、另一个面封堵的容器状，被收纳于收纳部内的磁性体芯及电路基板直接通过开口而脱落，但在本技术中利用限制单元限制脱落。限制单元的限制通过两级构造来进行。即，限制单元(1)限制电路基板或者与其一起收纳的其它收纳体的旋转移位，(2)随之，限制电路基板通过开口的脱落。因此，旋转移位的限制直接成为脱落的限制，是只要不解除旋转移位的限制，电路基板就不会脱落的结构。并且，限制单元不是分体部件，而是与外壳主体成为一体，因而能够作为外壳主体的部位而形成。限制单元的上述(1)、(2)的限制反过来讲关系到制造时的装配容易化。即，在装配的过程中尚未进行上述(2)的限制，因而能够容易将电路基板通过外壳主体的开口插入。如果使电路基板或者其它收纳体从该状态下旋转移位一直到限制单元的上述(1)的限制有效地发挥作用为止，则仅此即可使限制单元的上述(1)、(2)的限制都有效，并始终限制电路基板的脱落。因此，不需使用螺钉等其它部件即可实现装配作业。限制单元能够包括从外壳主体的内表面向收纳部内突出形成的突出部位。在这种情况下，突出部位与处于收纳状态的电路基板或者其它收纳体的缘部接触，由此使上述(1)、(2)的限制有效。这反过来讲也意味着容易按照下面所述进行装配作业。即，在装配的过程中，将电路基板通过外壳主体的开口插入，如果使电路基板或者其它收纳体从该状态下旋转移位一直到突出部位与电路基板或者其它收纳体的缘部接触为止，则突出部位对上述(1)、(2)的限制都有效，并始终限制电路基板的脱落。另外，限制单元能够包括从外壳主体的内表面沿着形成其开口的一个面突出形成的肋状的部位。在这种情况下，肋状的部位与处于收纳状态的电路基板的外表面接触，由此使上述(2)的限制有效。这样，利用沿着开口与外壳主体形成为一体的肋状的部位限制电路基板的脱落，因而能够削减部件数目。并且，肋状的部位使上述(2)的限制有效，由此确保从开口面到电路基板的外表面的距离是固定的。因此，能够将从被插通到贯插孔中的导体到电路基板的绝缘距离(规格上的距离)确保为期望值，提高产品的安全性。在限制单元包括上述的肋状的部位的情况下，电路基板具有切口部，在电路基板抵抗上述(1)的限制而旋转移位的状态下，该切口部不与肋状的部位接触。在该状态下，通过在切口部内相对地接纳肋状的部位，允许电路基板通过开口的脱落。即，肋状的部位随着上述(1)的限制有效而使上述(2)的限制有效，因而在不进行上述(1)的限制的情况下，随之也不进行上述(2)的限制。这反过来讲也意味着容易按照下面所述进行装配作业。例如，在装配的过程中，在将电路基板通过外壳主体的开口插入时，能够容易根据切口部和肋状的部位的位置关系决定可以将电路基板相对于外壳主体定位于哪个朝向。即，电路基板通过在切口部接纳肋状的部位即可进行向外壳主体的插入(脱落的反方面)，因而只要没有将它们的位置关系适当对准，就不能将电路基板插入外壳主体。因此，能够防止装配作业时的定位错误，提高作业性。技术效果根据本技术，能够实现作业的容易化和制造成本的降低。附图说明图1是示出第1实施方式的电流检测器的结构的概略图。图2是示出第1实施方式的电流检测器的结构的概略图。图3是第1实施方式的电流检测器的分解立体图。图4是示出未限制电路基板及磁性体芯的脱落的状态的主视图。图5是示出限制电路基板及磁性体芯的脱落的状态的主视图。图6A和图6B是详细地示出突出部位对电路基板的旋转移位的限制的部分立体图。图7A和图7B是详细地示出突出部位对电路基板的旋转移位的限制的部分立体图。图8是以平放的状态示出第1实施方式的电流检测器的立体图。图9是示出第2实施方式的电流检测器的结构的概略图。图10是示出第2实施方式的电流检测器的结构的概略图。图11是第2实施方式的电流检测器的分解立体图。图12是示出未限制脱落的状态的电路基板和外壳主体的位置关系的分解立体图。图13A和图13B是示出从未限制电路基板的旋转移位及脱落的状态进入限制的状态的过程的主视图。图14A和图14B是示出从未限制电路基板的旋转移位及脱落的状态进入限制的状态的过程的主视图。图15是以平放的状态示出第2实施方式的电流检测器的立体图。图16是示出第3实施方式的电流检测器的结构的概略图。图17是示出第3实施方式的电流检测器的结构的概略图。图18是第3实施方式的电流检测器的分解立体图。图19是示出使用环形盖的电路基板及磁性体芯的限制状态的主视图。图20是沿着图19中的XX-XX线的电流检测器的剖视图。图21是沿着图19中的XXI-XXI线的部分剖视图。图22A和图22B是示出使用环形盖进行限制的动作的连续图。图23是示出使用环形盖进行限制的动作的连续图。图24A和图24B是示出使环形盖旋转而设为限制状态的例子的部分立体图。图25是示出仅靠单纯的插入即可将环形盖设为限制状态的例子的部分立体图。标号说明100、200、300电流检测器；102、202、302外壳主体；102d、202d、302d壁板部；104、204、304贯插孔；110、210、310磁性体芯；114、214、314电路基板；102h、202h肋部；102k、202k、302k突出部位；320环形盖；320c限制片。具体实施方式下面，参照附图说明本技术的实施方式。[第1实施方式]图1及图2是示出第1实施方式的电流检测器100的结构的概略图。图1是从正面侧示出电流检测器100的立体图，图2是从背面侧示出的立体图。下面，对第1实施方式的电流检测器100的结构进行说明。[外壳主体]电流检测器100具有例如树脂制的外壳主体102。外壳主体102构成电流检测器100的外部形态，并且供作为其主要目的的被检测电流流过的导体(未图示)插通，还发挥针对任何对象物(同样未图示)的固定作用。并且，在外壳主体102的内部收纳有磁性体芯(在图1、2中观察不到)和电路基板114。另外，存在外壳主体102的内部被灌封(potting)树脂本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电流检测器，其特征在于，所述电流检测器具有：外壳主体，在其内侧形成有贯插孔，被检测电流的导体贯插至该贯插孔中，在所述贯插孔的周围形成有容器状的收纳部，该收纳部在从所述导体的插通方向观察时的一个面开口、另一个面封堵；环状的磁性体芯，其以围绕所述贯插孔的状态设置在所述收纳部内，使由于被检测电流的导通而产生的磁场汇集；电路基板，其与所述磁性体芯一起被收纳在所述收纳部内，在该电路基板上形成有根据被所述磁性体芯汇集后的磁通检测被检测电流的检测电路；限制单元，其与所述外壳主体形成为一体，限制所述电路基板和与所述电路基板一起收纳在所述收纳部内的其它收纳体中的任意一方在所述贯插孔的周向上的旋转移位，从而限制所述电路基板通过所述开口而脱落。

【技术特征摘要】
2017.03.27 JP 2017-0606211.一种电流检测器，其特征在于，所述电流检测器具有：外壳主体，在其内侧形成有贯插孔，被检测电流的导体贯插至该贯插孔中，在所述贯插孔的周围形成有容器状的收纳部，该收纳部在从所述导体的插通方向观察时的一个面开口、另一个面封堵；环状的磁性体芯，其以围绕所述贯插孔的状态设置在所述收纳部内，使由于被检测电流的导通而产生的磁场汇集；电路基板，其与所述磁性体芯一起被收纳在所述收纳部内，在该电路基板上形成有根据被所述磁性体芯汇集后的磁通检测被检测电流的检测电路；限制单元，其与所述外壳主体形成为一体，限制所述电路基板和与所述电路基板一起收纳在所述收纳部内的其它收纳体中的任意一方在所述贯插孔的周向上的旋转移位，从而限...

【专利技术属性】
技术研发人员：野口宽，
申请(专利权)人：株式会社田村制作所，
类型：新型
国别省市：日本,JP