【技术实现步骤摘要】
一种分段式自动光学检测平台
本技术涉及自动光学检测设备领域,特别涉及一种分段式自动光学检测平台。
技术介绍
随着电子行业日趋微型化、网络化和集成化,以往的插件技术已经难以保证现代电子产品组装和制造过程中的精确性和高效性。表面贴装技术已取代传统的插件技术成为电子产品制造的新技术,然而正是由于这种微型化、网络化和集成化的特点给应用SMT技术生产出来的印制电路板PCB的检测带来了新的检测难题。自动光学检测机由此诞生。PCB形状各异,大小不同,质量轻重不一。针对这些情况,各厂家生产了各种类型的机器。然而面对大型服务器的超大尺寸的PCB,各商家一筹莫展。既要求能测超大尺寸,又不能比正常机型大几倍,占用面积需尽量少,且还要满足测试效果。现有技术中的自动光学检测平台难以测试超大尺寸的PCB,变通少,无法实现超大及正常尺寸的转换;同时其结构复杂,占地面积广,使用不便。
技术实现思路
为了解决以上技术问题,本技术专利目的在于设计了一种分段式自动光学检测平台,采用分段设计,可对大尺寸PCB进行检测,使用方便。本技术具体的技术方案如下:一种分段式自动光学检测平台,包括底板(1),所述底板(1)上设有轨道(2),轨道(2)上方设有检测相机(3),所述轨道(2)包括左分段轨道(201)、中分段轨道(202)和右分段轨道(203),所述左分段轨道(201)与中分段轨道(202)通过轨道连接块(4)进行连接,中分段轨道(202)与右分段轨道(203)通过轨道连接块(4)进行连接,中分段轨道(202)的中间位置处设有夹板机构(6),所述中分段轨道(202)的两端还分别设有停板机构(5)。具体的, ...
【技术保护点】
1.一种分段式自动光学检测平台,其特征在于,包括底板(1),所述底板(1)上设有轨道(2),轨道(2)上方设有检测相机(3),所述轨道(2)包括左分段轨道(201)、中分段轨道(202)和右分段轨道(203),所述左分段轨道(201)与中分段轨道(202)通过轨道连接块(4)进行连接,中分段轨道(202)与右分段轨道(203)通过轨道连接块(4)进行连接,中分段轨道(202)的中间位置处设有夹板机构(6),所述中分段轨道(202)的两端还分别设有停板机构(5)。
【技术特征摘要】
1.一种分段式自动光学检测平台,其特征在于,包括底板(1),所述底板(1)上设有轨道(2),轨道(2)上方设有检测相机(3),所述轨道(2)包括左分段轨道(201)、中分段轨道(202)和右分段轨道(203),所述左分段轨道(201)与中分段轨道(202)通过轨道连接块(4)进行连接,中分段轨道(202)与右分段轨道(203)通过轨道连接块(4)进行连接,中分段轨道(202)的中间位置处设有夹板机构(6),所述中分段轨道(202)的两端还分别设有停板机构(5)。2.根据权利要求1所述的一种分段式自动光学检测平台,其特征在于,所述底板(1)采用大理石材质。3.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员:邝振房,张骏,陈剑平,
申请(专利权)人:深圳明锐理想科技有限公司,
类型:新型
国别省市:广东,44
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