一种面板驱动电路的性能检测装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种面板驱动电路的性能检测装置和方法，涉及显示技术领域，为解决不能对面板驱动电路中的元件进行准确的性能检测的问题。所述面板驱动电路的性能检测装置，包括多个点状光源、多根光纤以及光源驱动电路；光纤与点状光源连接，光源驱动电路用于驱动预设点状光源发光，预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源，预设光纤为与面板驱动电路的元件对应的一根光纤或预设组合的多根光纤；光纤用于将点状光源发出的光传导至面板驱动电路的元件上方。本发明专利技术提供的面板驱动电路的性能检测装置和方法用于对面板驱动电路的元件进行性能检测。

【技术实现步骤摘要】
一种面板驱动电路的性能检测装置和方法
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种面板驱动电路的性能检测装置和方法。
技术介绍
显示面板是显示装置的重要组成部分之一，显示面板由成行和成列的像素单元组成，在显示面板工作时，显示装置中的面板驱动电路为显示面板提供驱动信号，驱动信号控制像素单元中的TFT(ThinFilmTransistor，薄膜晶体管)的开启和关闭，从而完成显示面板的驱动，实现显示面板显示图像的功能。但是，面板驱动电路设计制作为成品后，难以对面板驱动电路中的具体元件进行更换，故需要对面板驱动电路中的元件进行性能检测，得到面板驱动电路中的各个元件对面板驱动电路输出信号的影响，从而根据面板驱动电路中的各个元件对面板驱动电路输出信号的影响对之后生产的面板驱动电路的设计做出改进。在现有技术中，往往通过软件模拟对面板驱动电路中的元件的性能检测，但由于面板驱动电路往往工作在相同的开启和关闭电压，且不同元件在实际工作中彼此会相互影响，故无法对面板驱动电路中的元件进行准确的性能检测。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种面板驱动电路的性能检测装置和方法，用于对面板驱动电路中的元件进行准确的性能检测。为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一方面，本专利技术提供一种面板驱动电路的性能检测装置，包括多个点状光源、多根光纤以及光源驱动电路；所述光纤与所述点状光源连接，所述光源驱动电路用于驱动预设点状光源发光，所述预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源，所述预设光纤为与面板驱动电路的元件对应的一根光纤或预设组合的多根光纤；所述光纤用于将点状光源发出的光传导至所述面板驱动电路的元件上方。另一方面，本专利技术提供一种面板驱动电路的性能检测方法，用于上述的面板驱动电路的性能检测装置，所述面板驱动电路的性能检测方法包括：光源驱动电路控制预设点状光源发光，所述预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源，所述预设光纤为与薄膜晶体管面板驱动电路的元件对应的一根光纤或预设组合的多根光纤；所述预设点状光源发光，所述预设点状光源发出的光通过所述预设光纤传导至所述面板驱动电路的元件上方。本专利技术提供的面板驱动电路的性能检测装置和方法，面板驱动电路的性能检测装置包括多个点状光源、多根光纤以及光源驱动电路，与使用软件模拟对面板驱动电路中的元件进行性能检测的现有技术相比，本专利技术能够使与某一根光纤或预设组合的多根光纤对应的点状光源发光，将点状光源发出的光通过光纤传导至面板驱动电路的元件的上方，从而使某一根光纤或预设组合的多根光纤对应的面板驱动电路的元件受到光的照射，受到光线照射的元件的电流值发生改变，从而影响面板驱动电路的输出信号，根据元件的电流值发生的变化和输出信号的变化，能够对面板驱动电路中的元件的性能参数进行准确的检测。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1为本专利技术实施例一中面板驱动电路的性能检测装置的结构示意图；图2为本专利技术实施例一中面板驱动电路的元件的光照档位与电流档位的对应关系示意图；图3为本专利技术实施例二中面板驱动电路的性能检测装置的结构示意图；图4为本专利技术实施例二中光源驱动电路的结构示意图；图5为本专利技术实施例三中的面板驱动电路的举例示意图；图6为本专利技术实施例三中的点状光源的排列示意图；图7为与图5对应的信号时序图；图8为本专利技术实施例四中的光纤与支撑结构的示意图；图9为本专利技术实施例六中面板驱动电路的性能检测方法的流程图；图10为本专利技术实施例七中面板驱动电路的性能检测方法的流程图；图11为本专利技术实施例八中面板驱动电路的性能检测方法的流程图。附图标记：10-点状光源，11-光纤，12-光纤接口，13-面板驱动电路，14-支撑结构，15-光源驱动电路，16-图像采集器件，151-时钟信号单元，152-光源组合单元，153-逻辑控制单元，154-供电单元。具体实施方式为了进一步说明本专利技术实施例提供的面板驱动电路的性能检测装置和方法，下面结合说明书附图进行详细描述。实施例一请参阅图1，本专利技术实施例提供的面板驱动电路的性能检测装置包括多个点状光源10、多根光纤11以及光源驱动电路15，其中，多个点状光源10均可独立发光，光源驱动电路15驱动预设点状光源发光，预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源10，预设光纤为与面板驱动电路13的元件对应的一根光纤11或预设组合的多根光纤11，即驱动与预设光纤对应的点状光源10发光，预设组合的多根光纤11可以根据具体情况和场景进行具体调节，也就是说，多根光纤11的预设组合是可变化的；光纤11与点状光源10连接，光纤11用于将点状光源10发出的光传导至面板驱动电路13的元件上方，面板驱动电路13的元件具体可以为TFT(ThinFilmTransistor，薄膜晶体管)。需要说明的是，面板驱动电路13的元件受到光照后，其电流值也会发生改变，以薄膜晶体管为例，薄膜晶体管的电流值包括开启电流值和关闭电流值，开启电流值和关闭电流值可以用电流档位表示，不同的电流档位对应不同的电流值，如图2所示，不同光照强度的档位(即光照档位)对应薄膜晶体管不同的电流档位，其中，Ion表示薄膜晶体管的开启电流档位，Ioff表示薄膜晶体管的关闭电流档位，光照档位0至光照档位5由暗到亮排列，电流档位Ion0至Ion5的电流由小到大排列，电流档位Ioff0至Ioff5的电流由小到大排列，当对开启的薄膜晶体管进行光照时，光照档位0至光照档位5分别依次对应Ion0至Ion5，当对关闭的薄膜晶体管进行光照时，光照档位0至光照档位5分别依次对应Ioff0至Ioff5。本专利技术提供的面板驱动电路的性能检测装置，包括多个点状光源10、多根光纤11以及光源驱动电路15，与使用软件模拟对面板驱动电路中的元件进行性能检测的现有技术相比，本专利技术能够使与某一根光纤11或预设组合的多根光纤11对应的点状光源10发光，将点状光源10发出的光通过光纤11传导至面板驱动电路的元件的上方，从而使某一根光纤11或预设组合的多根光纤11对应的面板驱动电路的元件受到光的照射，受到光线照射的元件的电流值发生改变，从而影响面板驱动电路的输出信号，根据元件的电流值发生的变化和输出信号的变化，能够对面板驱动电路中的元件的性能参数进行准确的检测。实施例二请参阅图3，在实施例一的基础上，面板驱动电路的性能检测装置还包括图像采集器件16；图像采集器件用于采集面板驱动电路13的元件的分布图像和光纤11的分布图像，得到面板驱动电路13的元件的位置和光纤11的位置，图3所示的箭头部分是图像采集器件16的图像采集范围，具体的图像采集器件16可以是CMOS(ComplementaryMetalOxideSemiconductor，互补金属氧化物半导体)图像传感器或摄像头等具有采集图像功能的结构。图像采集器件16得到面板驱动电路13的元件的位置和光纤11的位置，以使得光源驱动电路15根据面板驱动电路的元件的位置和光纤11的位置，驱动预设点状光源发光；比如，如图4所示，光源驱动电路15包括时钟信号单元151、光源组合单元152、逻辑控制单元153和供电单元154，时钟信号单元151将时钟信息发送给逻本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种面板驱动电路的性能检测装置，其特征在于，包括多个点状光源、多根光纤以及光源驱动电路；所述光纤与所述点状光源连接，所述光源驱动电路用于驱动预设点状光源发光，所述预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源，所述预设光纤为与面板驱动电路的元件对应的一根光纤或预设组合的多根光纤；所述光纤用于将点状光源发出的光传导至所述面板驱动电路的元件上方；面板驱动电路的性能检测装置还包括检测电路，所述检测电路用于根据获取的所述面板驱动电路的元件的光照强度与电流值的对应关系，以及所述面板驱动电路的输出信号，得到所述面板驱动电路的元件的性能参数。

【技术特征摘要】
1.一种面板驱动电路的性能检测装置，其特征在于，包括多个点状光源、多根光纤以及光源驱动电路；所述光纤与所述点状光源连接，所述光源驱动电路用于驱动预设点状光源发光，所述预设点状光源为与预设光纤对应的点状光源，所述预设光纤为与面板驱动电路的元件对应的一根光纤或预设组合的多根光纤；所述光纤用于将点状光源发出的光传导至所述面板驱动电路的元件上方；面板驱动电路的性能检测装置还包括检测电路，所述检测电路用于根据获取的所述面板驱动电路的元件的光照强度与电流值的对应关系，以及所述面板驱动电路的输出信号，得到所述面板驱动电路的元件的性能参数。2.根据权利要求1所述的面板驱动电路的性能检测装置，其特征在于，所述面板驱动电路的性能检测装置还包括图像采集器件；其中，所述图像采集器件用于采集所述面板驱动电路的元件的分布图像和所述光纤的分布图像，得到所述面板驱动电路的元件的位置和所述光纤的位置，以使得光源驱动电路用于根据所述面板驱动电路的元件的位置和所述光纤的位置，驱动所述预设点状光源发光。3.根据权利要求1所述的面板驱动电路的性能检测装置，其特征在于，所述光纤通过光纤接口与所述点状光源连接。4.根据权利要求1所述的面板驱动电路的性能检测装置，其特征在于，一根所述光纤对应一个所述点状光源。5.根据权利要求1所述的面板驱动电路的性能检测装置，其特征在于，多根所述光纤呈阵列排布。6.根据权利要求1-5中任意一项所述的面板驱动电路的性能检测装置，其特征在于，所述光纤为圆台结构，所述光纤的入射端的直径大于所述光纤的出射端的直径，所述入射端与所述点状光源连接，所述出射端位于所述面板驱动电路的元件的上方。7.根据权利要求1所述的面板驱动电路的性能检测装置，其特征在于，多个所述点状光源可相对于图像采集器件滑动。8.根据权利要求2或7所述的面板驱动电路的性能检...

【专利技术属性】
技术研发人员：董殿正，张斌，张强，王光兴，张衎，王俊伟，盖欣，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11