一种电路板测试引脚系统及测试方法技术方案

一种电路板测试引脚系统，包括电路板、若干相同的印制于所述电路板上的测试引脚、控制板，任一所述测试引脚均与所述控制板连接，若干所述测试引脚呈多列状排布，且相邻列的所述测试引脚呈交叉排列，间隔列的所述测试引脚排列方式相同，还公开了一种该电路板测试引脚系统的测试方法，步骤为：对测试引脚进行定义、将待测试引脚与测试引脚进行压接、进行性能测试，本发明专利技术的优点在于解决了现有技术中引脚对接不方便且易出现测试不良的情况，利用引脚系统可以自动检测出引脚顺序，自动调整程序引脚定义，提高测试效率，减少测试不良的产生。

【技术实现步骤摘要】
一种电路板测试引脚系统及测试方法
本专利技术涉及电路板测试
，特别涉及一种电路板测试引脚系统及测试方法。
技术介绍
目前显示模组测试工装上FPC连接的方式一般为依靠显示模组外形通过定位挡板确定FPC引脚大致位置,另一端为相同PIN(引脚)的PCB(印制电路板)或FPC。然后PIN对PIN进行压接，这个方法误差比较大，对位不准确，FPC必须通过对位记号，采用定位挡板，通过模组外形配合对位记号定位，效率低，易出错，经常短路造成模组不必要的损伤。
技术实现思路
本专利技术的目的是解决现有技术的不足，提供一种高测试效率、能有效保护模组不受损伤的电路板测试引脚系统及测试方法。本专利技术解决上述问题所采用的技术方案是：一种电路板测试引脚系统，包括电路板、若干相同的印制于所述电路板上的测试引脚、控制板，任一所述测试引脚均与所述控制板连接，若干所述测试引脚呈多列状排布，且相邻列的所述测试引脚呈交叉排列，间隔列的所述测试引脚排列方式相同。在一些实施例中，所述测试引脚的列数大于待测试引脚列数的三倍。在一些实施例中，所述测试引脚的宽度小于待测试引脚的二分之一，所述测试引脚的长度小于待测试引脚的五分之一。在一些实施例中，所述测试引脚宽度为待测试引脚的三分之一，所述测试引脚长度为待测试引脚的五分之一。在一些实施例中，所述测试引脚各列之间的间距为待测试引脚宽度的三分之一。一种电路板测试引脚系统的测试方法，包括以下步骤:(1)将每相邻两列所述测试引脚定义为一测试组，其组数为K，K＝1,2，3…，N，任一所述测试组自上往下将测试引脚进行编号定义，编号为J,J＝1,2,3…，N，任一所述测试引脚定义为PINJ-K；(2)将待测试引脚的金手指面与所述测试引脚的金手指面水平方向一致放置并进行压接；(3)控制PIN1-1至PIN1-N输出高电平，控制PIN3-1至PIN3-N、PIN4-1至PIN4-N为输入，并检测对应引脚信号，记录PIN2及PIN3行所检测到的高电平信号，进行性能测试；(4)若PIN2及PIN3未能检测成功，此时断开PIN1行电压，并将PIN2行进行施压，检测PIN4、PIN5行，进行性能测试，若PIN4、PIN5行未能检测成功，继续类推进行测试。在一些实施例中，所述测试引脚与待测试引脚呈规律性分分布。本专利技术的有益效果在于：解决了现有技术中引脚对接不方便且易出现测试不良的情况，利用引脚系统可以自动检测出引脚顺序，自动调整程序引脚定义，提高测试效率，减少测试不良的产生。附图说明图1为本专利技术引脚系统示意图；图2为本专利技术测试时测试引脚与待测试引脚正常配合系统图；图3为本专利技术待测试引脚斜放时与测试引脚配合系统图；图中，1、测试引脚；2、控制板；3、电路板。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术做进一步说明。图1中，一种电路板测试引脚系统，包括电路板3、若干相同的印制于电路板上的测试引脚1、控制板2，任一测试引脚1均与所述控制板2连接，若干测试引脚1呈多列状排布，且相邻列的测试引脚1呈交叉排列，间隔列的测试引脚1排列方式相同。测试引脚1的列数大于待测试引脚列数的三倍，测试引脚1的宽度小于待测试引脚的二分之一，测试引脚1的长度小于待测试引脚的五分之一，具体的，测试引脚1宽度为待测试引脚的三分之一，测试引脚1长度为待测试引脚的五分之一，测试引脚1各列之间的间距为待测试引脚宽度的三分之一。根据FPC蚀刻精度决定测试引脚的最小宽度为0.1mm，长度0.1mm，引脚间距0.2mm，所以决定带测试引脚的最小尺寸是宽0.3，长0.5mm，引脚间距0.6mm。通过间隔行方式确定待测引脚位置，其次防止由于待测引脚跨接两列检测引脚造成的短路问题。一种电路板测试引脚系统的测试方法，包括以下步骤:(1)将每相邻两列所述测试引脚定义为一测试组，其组数为K，K＝1,2，3…，N，任一所述测试组自上往下将测试引脚进行编号定义，编号为J,J＝1,2,3…，N，任一所述测试引脚定义为PINJ-K；(2)将待测试引脚的金手指面与所述测试引脚的金手指面水平方向一致放置并进行压接；(3)控制PIN1-1至PIN1-N输出高电平，控制PIN3-1至PIN3-N、PIN4-1至PIN4-N为输入，并检测对应引脚信号，记录PIN2及PIN3行所检测到的高电平信号，进行性能测试；(4)若PIN2及PIN3未能检测成功，此时断开PIN1行电压，并将PIN2行进行施压，检测PIN4、PIN5行，进行性能测试，若PIN4、PIN5行未能检测成功，继续类推进行测试。测试引脚1与待测试引脚呈规律性分分布。具体的，参照图2，将待测模组的fpc引脚的金手指面与测试引脚金手指面水平方向一致放置并假压，使两面引脚紧密接触。待测试模组fpc引脚与测试引脚呈规律性分布，当待测试模组fpc引脚与测试引脚水平方向一致時，待测试模组fpc引脚与测试引脚每隔3列将有1列不对应，测试引脚间隔行将会受待测试引脚的影响短路。图3中，如果当FPC放置斜了则发现其规律是待测试模组FPC引脚与测试引脚每隔n列将有一列不对应，n的大小与待测试模组FPC引脚与测试引脚水平方向的斜角大小有关。测试引脚间隔行将会受待测试引脚的影响短路。我们通过给一行测试引脚施加电压，间隔行有相应电压被检测到来判断，此引脚上方有待测试引脚。本专利技术的优点在于：解决了现有技术中引脚对接不方便且易出现测试不良的情况，利用引脚系统可以自动检测出引脚顺序，自动调整程序引脚定义，提高测试效率，减少测试不良的产生。以上仅就本专利技术的最佳实施例作了说明，但不能理解为是对权利要求的限制。本专利技术不仅局限于以上实施例，其具体结构允许有变化。凡在本专利技术独立权利要求的保护范围内所作的各种变化均在本专利技术保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路板测试引脚系统，其特征在于，包括电路板、若干相同的印制于所述电路板上的测试引脚、控制板，任一所述测试引脚均与所述控制板连接，若干所述测试引脚呈多列状排布，且相邻列的所述测试引脚呈交叉排列，间隔列的所述测试引脚排列方式相同。

【技术特征摘要】
1.一种电路板测试引脚系统，其特征在于，包括电路板、若干相同的印制于所述电路板上的测试引脚、控制板，任一所述测试引脚均与所述控制板连接，若干所述测试引脚呈多列状排布，且相邻列的所述测试引脚呈交叉排列，间隔列的所述测试引脚排列方式相同。2.根据权利要求1所述电路板测试引脚系统，其特征在于，所述测试引脚的列数大于待测试引脚列数的三倍。3.根据权利要求1所述电路板测试引脚系统，其特征在于，所述测试引脚的宽度小于待测试引脚的二分之一，所述测试引脚的长度小于待测试引脚的五分之一。4.根据权利要求3所述电路板测试引脚系统，其特征在于，所述测试引脚宽度为待测试引脚的三分之一，所述测试引脚长度为待测试引脚的五分之一。5.根据权利要求4所述电路板测试引脚系统，其特征在于，所述测试引脚各列之间的间距为待测试引脚宽度的三分之一。6.一种如权利要求1至5任一所述电路板测试引脚系统的...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾鹏飞，
申请(专利权)人：江西兴泰科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江西,36