一种数控机床研发用防漏电测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种数控机床研发用防漏电测试装置，包括测试箱和滚轮，所述测试箱的正面安装有显示屏，且测试箱的上端固定有LED灯，所述测试箱的下端左侧连接有非导体，且测试箱的下端中部设置有半导体，所述测试箱的下端右侧安置有纯导体，且测试箱的两侧下端安装有安装板，所述安装板远离测试箱中心线的一侧固定有第一旋转轴，且第一旋转轴的下端镶嵌有伸缩杆，所述伸缩杆的内部连接有螺栓，且伸缩杆的下端设置有第二旋转轴，所述第二旋转轴的下端安置有滑动架。该数控机床研发用防漏电测试装置设置有LED灯，其能够分别将非导体、半导体、纯导体接触到电流或感应到电流的现象直面表现出来，使该测试装置使用起来更加便捷。

A Leakage-proof Testing Device for CNC Machine Tool Development

The utility model discloses an anti-leakage testing device for research and development of CNC machine tools, which comprises a test box and a roller. The front of the test box is installed with a display screen, and the upper end of the test box is fixed with an LED lamp. The lower end of the test box is connected with a non-conductor on the left side, and the lower end of the test box is provided with a semiconductor in the middle part. A pure conductor is arranged on the right side of the lower end of the box, and a mounting plate is installed on both sides of the lower end of the test box. The first rotating shaft is fixed on the side far from the center line of the test box, and the lower end of the first rotating shaft is embedded with a telescopic rod. The internal connection of the telescopic rod is bolted, and the lower end of the telescopic rod is provided with a second rotating shaft. The lower end of the second rotating shaft is provided with a sliding frame. The anti-leakage testing device for NC machine tool is equipped with LED lamp, which can directly show the phenomenon that non-conductor, semiconductor and pure conductor contact current or induce current, making the testing device more convenient to use.

【技术实现步骤摘要】
一种数控机床研发用防漏电测试装置
本技术涉及数控机床研发测试装置
，具体为一种数控机床研发用防漏电测试装置。
技术介绍
数控机床是数字控制机床的简称，是一种装有程序控制系统的自动化机床，能够根据已编好的程序，使机床动作并加工零件，综合了机械、自动化、计算机、测量、微电子等最新技术，基本组成包括加工程序载体、数控装置、伺服驱动装置、机床主体和其他辅助装置，一个数控机床装载较多的组件，在工作时就需要大量的电力，在投入使用之前，就需要对这些数控机床进行防漏电测试。市场上的数控机床研发用防漏电测试装置通常都是利用电笔或万用表与数控机床进行接触测试，这样测试低下，耗时耗力，且不能够对数控机床的每一个地方都进行测试，同时不能测试数控机床与不同导体接触时产生的漏电情况，这样测试后，使数控机床仍然存在漏电的风险，为此，我们提出一种数控机床研发用防漏电测试装置。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种数控机床研发用防漏电测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的通常都是利用电笔或万用表与数控机床进行接触测试，这样测试低下，耗时耗力，且不能够对数控机床的每一个地方都进行测试，同时不能测试数控机床与不同导体接触时产生的漏电情况，这样测试后，使数控机床仍然存在漏电的风险的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种数控机床研发用防漏电测试装置，包括测试箱和滚轮，所述测试箱的正面安装有显示屏，且测试箱的上端固定有LED灯，所述测试箱的下端左侧连接有非导体，且测试箱的下端中部设置有半导体，所述测试箱的下端右侧安置有纯导体，且测试箱的两侧下端安装有安装板，所述安装板远离测试箱中心线的一侧固定有第一旋转轴，且第一旋转轴的下端镶嵌有伸缩杆，所述伸缩杆的内部连接有螺栓，且伸缩杆的下端设置有第二旋转轴，所述第二旋转轴的下端安置有滑动架，所述测试箱的内部上端安装有水箱，且水箱的下端固定有测电主体，所述测电主体的外侧外接有喷水阀，所述滚轮镶嵌于滑动架的两侧底端。优选的，所述LED灯分别与非导体、半导体以及纯导体之间为电性连接，其非导体分别与半导体和纯导体呈平行结构，且非导体的底端呈弧形状结构。优选的，所述安装板与测试箱之间为固定连接，且安装板通过第一旋转轴与伸缩杆构成可转动结构。优选的，所述伸缩杆与螺栓之间为螺纹连接，且伸缩杆的高度是非导体、半导体和纯导体三者任一高度的2倍。优选的，所述喷水阀与水箱之间为固定连接，且喷水阀分别与非导体、半导体以及纯导体呈平行结构。优选的，所述滚轮分别设置于滑动架的两侧下端和内侧中部，且滑动架呈半圆状结构。与现有技术相比，本技术的有益效果是：该数控机床研发用防漏电测试装置设置有LED灯，其能够分别将非导体、半导体、纯导体接触到电流或感应到电流的现象直面表现出来，使该测试装置使用起来更加便捷，且非导体、半导体、纯导体的导电性能不一样，能够测试到数控机床在不同导电体的情况下的不同导电状况，使对数控机床的测试更加全面，同时，非导体、半导体、纯导体的底端均呈弧形，能够将其自身上的水分接住，防止水分滴落在数控机床上，安装板利用第一旋转轴带动测试箱在伸缩杆上转动，以此可以调节测试箱的方向，以此改变整个测试装置的滑动方向，可以根据数控机床的规格和测试地点及方向来进行改变，使整个测试装置能够对不同的数控机床进行测试，体现该测试装置的灵活性，伸缩杆利用螺栓控制其自身的升降，就可以控制测试箱的高度，以此控制非导体、半导体、纯导体与数控机床的距离，这样不仅可以将非导体、半导体、纯导体与数控机床接触进行测试，也可以测试到数控机床附近的感应电流，这样对数控机床的测试更加全面，大大降低数控机床隐藏的漏电风险，喷水阀可以对非导体、半导体、纯导体进行洒水，增加非导体、半导体、纯导体的导电性，这样就可以同时在三种不同导电体的不同导电性下，检测数控机床的漏电状况，替代过去单一的测试方式，避免数控机床在其他状况下出现漏电的现象，滑动架两侧有滚轮，且滑动架呈弧形，使整个测试装置在不同规格的数控机床上都能滑动，滑动架带动非导体、半导体、纯导体同时向前移动，能够增大数控机床的被测试的范围，且加快测试效率，同时使测试更加稳定，测试的结果更均匀。附图说明图1为本技术结构示意图；图2为本技术测试箱内部结构示意图；图3为本技术滑动架侧面结构示意图。图中：1、测试箱，2、显示屏，3、LED灯，4、非导体，5、半导体，6、纯导体，7、安装板，8、第一旋转轴，9、伸缩杆，10、螺栓，11、第二旋转轴，12、滑动架，13、水箱，14、测电主体，15、喷水阀，16、滚轮。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-3，本技术提供一种技术方案：一种数控机床研发用防漏电测试装置，包括测试箱1、显示屏2、LED灯3、非导体4、半导体5、纯导体6、安装板7、第一旋转轴8、伸缩杆9、螺栓10、第二旋转轴11、滑动架12、水箱13、测电主体14、喷水阀15和滚轮16，测试箱1的正面安装有显示屏2，且测试箱1的上端固定有LED灯3，LED灯3分别与非导体4、半导体5以及纯导体6之间为电性连接，其非导体4分别与半导体5和纯导体6呈平行结构，且非导体4的底端呈弧形状结构，LED灯3能够分别将非导体4、半导体5、纯导体6接触到电流或感应到电流的现象直面表现出来，使该测试装置使用起来更加便捷，且非导体4、半导体5、纯导体6的导电性能不一样，能够测试到数控机床在不同导电体的情况下的不同导电状况，使对数控机床的测试更加全面，测试箱1的下端左侧连接有非导体4，且测试箱1的下端中部设置有半导体5，测试箱1的下端右侧安置有纯导体6，且测试箱1的两侧下端安装有安装板7，安装板7远离测试箱1中心线的一侧固定有第一旋转轴8，且第一旋转轴8的下端镶嵌有伸缩杆9，安装板7与测试箱1之间为固定连接，且安装板7通过第一旋转轴8与伸缩杆9构成可转动结构，安装板7利用第一旋转轴8带动测试箱1在伸缩杆9上转动，以此可以调节测试箱1的方向，以此改变整个测试装置的滑动方向，可以根据数控机床的规格和测试地点及方向来进行改变，使整个测试装置能够对不同的数控机床进行测试，体现该测试装置的灵活性，伸缩杆9的内部连接有螺栓10，且伸缩杆9的下端设置有第二旋转轴11，伸缩杆9与螺栓10之间为螺纹连接，且伸缩杆9的高度是非导体4、半导体5和纯导体6三者任一高度的2倍，伸缩杆9利用螺栓10控制其自身的升降，就可以控制测试箱1的高度，以此控制非导体4、半导体5、纯导体6与数控机床的距离，这样不仅可以将非导体4、半导体5、纯导体6与数控机床接触进行测试，也可以测试到数控机床附近的感应电流，这样对数控机床的测试更加全面，大大降低数控机床隐藏的漏电风险，第二旋转轴11的下端安置有滑动架12，测试箱1的内部上端安装有水箱13，且水箱13的下端固定有测电主体14，测电主体14的外侧外接有喷水阀15，喷水阀15与水箱13之间为固定连接，且喷水阀15分本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数控机床研发用防漏电测试装置，包括测试箱(1)和滚轮(16)，其特征在于：所述测试箱(1)的正面安装有显示屏(2)，且测试箱(1)的上端固定有LED灯(3)，所述测试箱(1)的下端左侧连接有非导体(4)，且测试箱(1)的下端中部设置有半导体(5)，所述测试箱(1)的下端右侧安置有纯导体(6)，且测试箱(1)的两侧下端安装有安装板(7)，所述安装板(7)远离测试箱(1)中心线的一侧固定有第一旋转轴(8)，且第一旋转轴(8)的下端镶嵌有伸缩杆(9)，所述伸缩杆(9)的内部连接有螺栓(10)，且伸缩杆(9)的下端设置有第二旋转轴(11)，所述第二旋转轴(11)的下端安置有滑动架(12)，所述测试箱(1)的内部上端安装有水箱(13)，且水箱(13)的下端固定有测电主体(14)，所述测电主体(14)的外侧外接有喷水阀(15)，所述滚轮(16)镶嵌于滑动架(12)的两侧底端。

【技术特征摘要】
1.一种数控机床研发用防漏电测试装置，包括测试箱(1)和滚轮(16)，其特征在于：所述测试箱(1)的正面安装有显示屏(2)，且测试箱(1)的上端固定有LED灯(3)，所述测试箱(1)的下端左侧连接有非导体(4)，且测试箱(1)的下端中部设置有半导体(5)，所述测试箱(1)的下端右侧安置有纯导体(6)，且测试箱(1)的两侧下端安装有安装板(7)，所述安装板(7)远离测试箱(1)中心线的一侧固定有第一旋转轴(8)，且第一旋转轴(8)的下端镶嵌有伸缩杆(9)，所述伸缩杆(9)的内部连接有螺栓(10)，且伸缩杆(9)的下端设置有第二旋转轴(11)，所述第二旋转轴(11)的下端安置有滑动架(12)，所述测试箱(1)的内部上端安装有水箱(13)，且水箱(13)的下端固定有测电主体(14)，所述测电主体(14)的外侧外接有喷水阀(15)，所述滚轮(16)镶嵌于滑动架(12)的两侧底端。2.根据权利要求1所述的一种数控机床研发用防漏电测试装置，其特征在于：所述LED灯(3)分别与非导...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨永祥，唐盛辉，吴争元，
申请(专利权)人：深圳市侨柏科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44