一种用于测试电路板上LED灯珠的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种能够有效地保护测试探针和汽车仪表盘电路板，且能够有效减少外界光线干扰、快速对电路板上LED灯珠进行准确测试的装置。它包括基板、电路板压紧机构和电路板测试机构，所述电路板压紧机构包括用于压住电路板的压板及用于翻转压板的重力压紧式机构；电路板测试机构包括设在基板上的承载板及若干测试单元，压板、承载板及基板由上至下依次布置，承载板的上表面设有若干用于容纳电路板上LED灯珠的容纳孔，容纳孔的底面向下延伸形成贯穿承载板下表面的透光孔，测试单元包括光纤及设置在光纤一端的测试探针，测试探针与透光孔一一对应，测试探针由透光孔的下端伸入透光孔内。

A Device for Testing LED Beads on Circuit Board

The utility model discloses a device which can effectively protect the test probe and the circuit board of the automobile dashboard, effectively reduce the external light interference, and quickly test the LED beads on the circuit board accurately. The circuit board compacting mechanism includes a board, a board compacting mechanism and a board testing mechanism. The circuit board compacting mechanism includes a board for pressing the board and a gravity compacting mechanism for flipping the board. The circuit board testing mechanism includes a bearing plate and several testing units on the board, and the pressing plate, the bearing plate and the base plate depend from top to bottom. Secondly, the upper surface of the bearing plate is equipped with several holding holes for holding LED beads on the circuit board. The bottom of the holding holes extends downward to form a translucent hole through the lower surface of the bearing plate. The testing unit includes optical fibers and test probes arranged at one end of the optical fibers. The test probes correspond to the translucent holes one by one, and the test probes are made of translucent holes. The lower end extends into the light transmission hole.

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试电路板上LED灯珠的装置
本技术涉及测试仪器领域，尤其涉及一种用于测试电路板上LED灯珠的装置。
技术介绍
汽车仪表盘电路板在出厂前，都需要对电路板上的LED灯珠进行测试，确认其能够正常工作。工厂内通常将电路板通电后，然后操作人员对LED灯珠的发光情况逐个进行观测。这种传统的测试方式较为依靠人力，测试精度不高且效率较低。中国专利授权公告号CN206945901U，授权公告日为2018.01.30，名为“一种LED灯珠光电测试机构”，公开了一种测试探针能够自动复位的测试装置，提高了测试精度。但这种接触式的测试探针极易在测试过程中因电路板的移位损坏，电路板也存在一定的损坏风险，需要改进；同时在开放式的环境中，容易受到外界光线的干扰，测试精度不高。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服现有技术中的不足，提供一种能够有效地保护测试探针和汽车仪表盘电路板，且能够有效减少外界光线干扰、快速对电路板上LED灯珠进行准确测试的装置。为了实现上述目的，本技术采用以下技术方案：一种用于测试电路板上LED灯珠的装置，包括基板、电路板压紧机构和电路板测试机构，所述电路板压紧机构包括用于压住电路板的压板及用于翻转压板的重力压紧式机构；所述电路板测试机构包括设在基板上的承载板及若干测试单元，压板、承载板及基板由上至下依次布置，承载板的上表面设有若干用于容纳电路板上LED灯珠的容纳孔，容纳孔的底面向下延伸形成贯穿承载板下表面的透光孔，测试单元包括光纤及设置在光纤一端的测试探针，测试探针与透光孔一一对应，测试探针由透光孔的下端伸入透光孔内。重力压紧式机构用于将电路板稳固地压在压板和承载板之间，在测试过程中电路板处于被压紧的状态，位置不会变化，有效保护测试探针和电路板。电路板装有LED灯珠的一面朝向承载板，LED灯珠位于容纳孔中，发出的光经透光孔直接被测试探针接收并经光纤传输出去，减少外界光线干扰。作为优选，所述重力压紧式机构包括压板支架、翻转臂及竖向固定在基板上的安装板，压板的上端固定在压板支架上，安装板上设有第一导向槽，第一导向槽的一端向下延伸形成第一竖向槽，第一导向槽的下方设有第二竖向槽，压板支架通过第一转轴和第二转轴转动设置在安装板上，第一转轴穿过第一导向槽，第二转轴穿过第二竖向槽，翻转臂上设有第二导向槽，翻转臂通过第一转轴和第三转轴转动设置在安装板上，第一转轴穿过第二导向槽。翻转臂转动时，第一转轴在第一导向槽、第一竖向槽及第二导向槽中滑动，第二转轴在第二竖向槽中滑动，当压板被转至与电路板接触时，此时压板在压板及压板支架的重力作用下继续下移压紧电路板，第一竖向槽和第二竖向槽确保压板的压下方向竖直，不会压坏测试探针或电路板。重力压紧式机构既有翻转作用，打开时方便电路板的放置和拿取，同时压板又有升降作用可以压紧电路板。作为优选，所述承载板和基板之间设有若干缓冲结构，缓冲结构包括设在基板上的导柱、设在导柱一端的限位块及套设在导柱上的弹簧，在一个缓冲结构中：承载板滑动设置在导柱上，限位块位于承载板的上方，弹簧位于承载板和基板之间。在电路板压紧过程中起缓冲作用，同时电路板在压板及压板支架的重力作用和承载板的支撑作用下达到自平衡的状态，进一步保护测试探针和电路板。作为优选，所述压板的下表面设有弹性顶针，弹性顶针与压板垂直。弹性顶针防止压板压坏电路板上的元器件。作为优选，所述承载板上设有若干电路板定位销，电路板定位销位于承载板上靠近压板的一端。电路板定位销用于初步定位电路板在承载板上的位置，保证LED灯珠与容纳孔的位置一一对应。作为优选，所述基板和承载板的上表面均覆有黑色遮光层。黑色遮光层减少进入容纳孔和透光孔的外部光线，提高测试探针的准确性。本技术的有益效果是：（1）第一竖向槽和第二竖向槽确保压板沿竖直方向压紧电路板，同时承载板上设有缓冲结构，电路板在压板及压板支架的重力作用和承载板的支撑作用下达到自平衡的状态，有效保护测试探针及电路板；（2）LED灯珠发出的光直接被测试探针采集并通过光纤传输出去，受到外界的干扰小，且一次性能够获得所有LED灯珠的测试结果，测试精度和测试效率均大幅提升。附图说明图1是本技术的结构示意图；图2是本技术另一个视角的结构示意图；图3是图2中A处的放大图；图4是本技术中重力压紧式机构的爆炸图。图中：基板1、压板2、弹性顶针21、重力压紧式机构3、压板支架31、翻转臂32、安装板33、第一导向槽331、第一竖向槽332、第二竖向槽333、第二导向槽334、承载板41、电路板定位销411、容纳孔412、透光孔413、光纤421、测试探针422、导柱43、限位块44、弹簧45。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本技术做进一步的描述。如图1至图4中所示，一种用于测试电路板上LED灯珠的装置，包括基板1、电路板压紧机构和电路板测试机构，所述电路板压紧机构包括用于压住电路板的压板2及用于翻转压板的重力压紧式机构3，压板的下表面设有弹性顶针21，弹性顶针与压板垂直，弹性顶针防止压板压坏电路板上的元器件。重力压紧式机构包括压板支架31、翻转臂32及竖向固定在基板上的安装板33，压板的上端固定在压板支架上，安装板上设有第一导向槽331，第一导向槽的一端向下延伸形成第一竖向槽332，第一导向槽的下方设有第二竖向槽333，压板支架通过第一转轴和第二转轴转动设置在安装板上，第一转轴穿过第一导向槽，第二转轴穿过第二竖向槽，翻转臂上设有第二导向槽334，翻转臂通过第一转轴和第三转轴转动设置在安装板上，第一转轴穿过第二导向槽。翻转臂转动时，第一转轴在第一导向槽、第一竖向槽及第二导向槽中滑动，第二转轴在第二竖向槽中滑动，当压板被转至与电路板接触时，此时压板在压板及压板支架的重力作用下继续下移压紧电路板，第一竖向槽和第二竖向槽确保压板的压下方向竖直，不会压坏测试探针或电路板。重力压紧式机构既有翻转作用，打开时方便电路板的放置和拿取，不占用空间，同时压板又有升降作用可以压紧电路板。所述电路板测试机构包括设在基板上的承载板41及若干测试单元，压板、承载板及基板由上至下依次布置。承载板和基板之间设有若干缓冲结构，缓冲结构包括设在基板上的导柱43、设在导柱一端的限位块44及套设在导柱上的弹簧45，在一个缓冲结构中：承载板滑动设置在导柱上，限位块位于承载板的上方，弹簧位于承载板和基板之间，缓冲结构在电路板压紧过程中起缓冲作用，同时电路板在压板及压板支架的重力作用和承载板的支撑作用下达到自平衡的状态，进一步保护测试探针和电路板。承载板上设有若干电路板定位销411，电路板定位销位于承载板上靠近压板的一端，电路板定位销用于初步定位电路板在承载板上的位置，保证LED灯珠与容纳孔的位置一一对应。承载板的上表面设有若干用于容纳电路板上LED灯珠的容纳孔412，容纳孔的底面向下延伸形成贯穿承载板下表面的透光孔413，测试单元包括光纤421及设置在光纤一端的测试探针422，测试探针与透光孔一一对应，测试探针由透光孔的下端伸入透光孔内。基板和承载板的上表面均覆有黑色遮光层，黑色遮光层减少进入容纳孔和透光孔的外部光线，提高测试探针的准确性。本技术使用时，压板一开始处于翻开状态，方便放置电路板，将电路板放置于承载本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测试电路板上LED灯珠的装置，其特征是，包括基板、电路板压紧机构和电路板测试机构，所述电路板压紧机构包括用于压住电路板的压板及用于翻转压板的重力压紧式机构；所述电路板测试机构包括设在基板上的承载板及若干测试单元，压板、承载板及基板由上至下依次布置，承载板的上表面设有若干用于容纳电路板上LED灯珠的容纳孔，容纳孔的底面向下延伸形成贯穿承载板下表面的透光孔，测试单元包括光纤及设置在光纤一端的测试探针，测试探针与透光孔一一对应，测试探针由透光孔的下端伸入透光孔内。

【技术特征摘要】
1.一种用于测试电路板上LED灯珠的装置，其特征是，包括基板、电路板压紧机构和电路板测试机构，所述电路板压紧机构包括用于压住电路板的压板及用于翻转压板的重力压紧式机构；所述电路板测试机构包括设在基板上的承载板及若干测试单元，压板、承载板及基板由上至下依次布置，承载板的上表面设有若干用于容纳电路板上LED灯珠的容纳孔，容纳孔的底面向下延伸形成贯穿承载板下表面的透光孔，测试单元包括光纤及设置在光纤一端的测试探针，测试探针与透光孔一一对应，测试探针由透光孔的下端伸入透光孔内。2.根据权利要求1所述的一种用于测试电路板上LED灯珠的装置，其特征是，所述重力压紧式机构包括压板支架、翻转臂及竖向固定在基板上的安装板，压板的上端固定在压板支架上，安装板上设有第一导向槽，第一导向槽的一端向下延伸形成第一竖向槽，第一导向槽的下方设有第二竖向槽，压板支架通过第一转轴和第二转轴转动设置在安装板上，第一转轴穿过第...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓奎，王亚飞，
申请(专利权)人：浙江雷云科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33