一种电路板上LED灯珠测试结构制造技术

本实用新型专利技术涉及测试仪器领域，尤其涉及一种电路板上LED灯珠测试结构。它包括基板、承载板及若干测试单元，所述承载板设在基板上，承载板的上表面设有若干用于容纳电路板上LED灯珠的容纳孔，容纳孔的下方设有与容纳孔连通的透光孔，透光孔贯穿承载板的下表面，所述测试单元包括光纤及设置在光纤一端的测试探针，测试探针与透光孔一一对应，测试探针由透光孔的下端伸入透光孔内。本实用新型专利技术的好处是能够有效地保护测试探针同时减少外界光线干扰。

A Test Structure for LED Balls on PCB

The utility model relates to the field of test instruments, in particular to a test structure of LED beads on a circuit board. It includes a base plate, a bearing plate and a number of test units. The bearing plate is set on the base plate. The upper surface of the bearing plate is provided with several holding holes for holding LED beads on the circuit board. The lower part of the holding hole is provided with a light transmission hole connected with the holding hole. The light transmission hole penetrates the lower surface of the bearing plate. The testing unit includes optical fibers and devices. A test probe is placed at one end of the optical fiber, and the test probe corresponds to the transparent hole one by one. The test probe extends into the transparent hole from the lower end of the transparent hole. The utility model has the advantage that the test probe can be effectively protected and the external light interference can be reduced.

【技术实现步骤摘要】
一种电路板上LED灯珠测试结构
本技术涉及测试仪器领域，尤其涉及一种电路板上LED灯珠测试结构。
技术介绍
电路板可以大大减少布线和装配的差错，提高自动化水平和生产劳动率，主要用于电子元器件电气连接，在各个领域应用十分广泛，比如LED灯具、汽车仪表盘等等。装有LED灯珠的电路板在出厂前，都需要对电路板上的LED灯珠进行测试，确认其能够正常工作。工厂内通常将电路板通电后，然后操作人员对LED灯珠的发光情况逐个进行观测。这种传统的测试方式精度不高且效率较低。中国专利授权公告号CN205539412U，授权公告日为2016.08.31，名为“一种用于LED灯珠的测试装置”，公开了一种测试探针和LED灯珠相接触的测试装置，显著提高了测试精度和测试效率。但这种测试方式测试探针处于开放式的环境中，测试结果容易受到外界光线的干扰，且LED灯珠与测试探针频繁接触导致测试探针容易损坏。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服现有技术中的不足，提供一种能够有效地保护测试探针、减少外界光线干扰的电路板上LED灯珠测试结构。为了实现上述目的，本技术采用以下技术方案：一种电路板上LED灯珠测试结构，包括基板、承载板及若干测试单元，所述承载板设在基板上，承载板的上表面设有若干用于容纳电路板上LED灯珠的容纳孔，容纳孔的下方设有与容纳孔连通的透光孔，透光孔贯穿承载板的下表面；所述测试单元包括光纤及设置在光纤一端的测试探针，测试探针与透光孔一一对应，测试探针由透光孔的下端伸入透光孔内。电路板装有LED灯珠的一面朝向承载板，LED灯珠位于容纳孔中，发出的光经透光孔直接被测试探针接收并经光纤传输出去，减少外界光线干扰，且LED灯珠与测试探针不需接触，使用寿命显著提高。作为优选，所述承载板和基板之间设有若干缓冲结构，缓冲结构包括设在基板上的导柱、设在导柱一端的限位块及套设在导柱上的弹簧，在一个缓冲结构中：承载板滑动设置在导柱上，限位块位于承载板的上方，弹簧位于承载板和基板之间。电路板放在承载板上测试时，通常还需要压紧固定，以防在测试过程中电路板错位，不仅影响测试结果，而且电路板和测试装备也容易损坏，缓冲结构可以对电路板的压紧过程进行缓冲，有效保护电路板和测试设备。作为优选，所述缓冲结构的数目为4个，缓冲结构分布在承载板的四个边角上。既能形成均匀的缓冲力，又不影响电路板的测试。作为优选，所述容纳孔与透光孔同轴布置，透光孔的直径小于容纳孔的直径。确保能够测试探针采集到LED灯珠发出的光。作为优选，所述承载板上设有若干电路板定位销，电路板定位销凸出于承载板的上表面。电路板定位销用于初步定位电路板在承载板上的位置，保证LED灯珠与容纳孔的位置一一对应。作为优选，所述基板和承载板的上表面均覆有黑色遮光层。黑色遮光层减少进入容纳孔和透光孔的外部光线，提高测试探针的准确性。作为优选，所述基板的下方设有光纤收纳箱，测试探针固定在基板上，光纤位于光纤收纳箱中。光纤置于光纤收纳箱中，避免光纤与外部接触，起保护作用的同时减少外部光线的干扰。作为优选，所述光纤收纳箱的上端开口，基板覆盖在光纤收纳箱的上端，基板的一端与光纤收纳箱铰接。基板相对光纤收纳箱可打开，测试单元检修时更方便。本技术的有益效果是：（1）LED灯珠与测试探针无需接触，测试探针的使用寿命显著提升；（2）LED灯珠发出的光直接被测试探针采集并通过光纤传输出去，光线采集处于相对封闭的环境中，受到外界的干扰小；（3）一次性能够获得所有LED灯珠的测试结果，测试精度和测试效率均大幅提升。附图说明图1是本技术的结构示意图；图2是图1的俯视图；图3是图1中A处的放大图。图中：基板1、光纤收纳箱11、承载板2、电路板定位销21、测试单元3、容纳孔22、透光孔23、光纤31、测试探针32、导柱41、限位块42、弹簧43。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本技术做进一步的描述。如图1至图3中所示，一种电路板上LED灯珠测试结构，包括基板1、承载板2及若干测试单元3，所述承载板设在基板上，承载板上设有若干电路板定位销21，电路板定位销凸出于承载板的上表面，电路板定位销用于初步定位电路板在承载板上的位置。承载板的上表面设有若干用于容纳电路板上LED灯珠的容纳孔22，容纳孔的下方设有与容纳孔连通的透光孔23，透光孔贯穿承载板的下表面，容纳孔与透光孔同轴布置，透光孔的直径小于容纳孔的直径，确保能够采集到LED灯珠发出的光。基板和承载板的上表面均覆有黑色遮光层，黑色遮光层减少进入容纳孔和透光孔的外部光线，减少外部光线干扰。测试单元包括光纤31及设置在光纤一端的测试探针32，测试探针与透光孔一一对应，测试探针由透光孔的下端伸入透光孔内，LED灯珠发出的光直接被测试探针采集并通过光纤传输出去，光线采集处于相对封闭的环境中，受到外界的干扰小。承载板和基板之间设有若干缓冲结构，缓冲结构包括设在基板上的导柱41、设在导柱一端的限位块42及套设在导柱上的弹簧43，在一个缓冲结构中：承载板滑动设置在导柱上，限位块位于承载板的上方，弹簧位于承载板和基板之间。缓冲结构的数目为4个，缓冲结构分布在承载板的四个边角上。电路板放在承载板上测试时，通常还需要压紧固定，以防在测试过程中电路板错位，不仅影响测试结果，而且电路板和测试装备也容易损坏，缓冲结构可以对电路板的压紧过程进行缓冲，有效保护电路板和测试设备。基板的下方设有光纤收纳箱11，测试探针固定在基板上，光纤位于光纤收纳箱中。光纤收纳箱的上端开口，基板覆盖在光纤收纳箱的上端，基板的一端与光纤收纳箱铰接。光纤置于光纤收纳箱中，避免光纤与外部接触，起保护作用的同时减少外部光线的干扰，基板相对光纤收纳箱可打开，测试单元检修时更方便。本技术使用时，通过电路板定位销对电路板进行初步定位，电路板上装有LED灯珠的一面朝向承载板，各LED灯珠位于对应的容纳孔中，压紧电路板，PCB在缓冲结构的作用下达到平衡状态，LED灯珠发出的光经测试探针接收并由光纤传输出去测试。本技术的有益效果是：（1）LED灯珠与测试探针无需接触，测试探针的使用寿命显著提升；（2）LED灯珠发出的光直接被测试探针采集并通过光纤传输出去，光线采集处于相对封闭的环境中，受到外界的干扰小；（3）一次性能够获得所有LED灯珠的测试结果，测试精度和测试效率均大幅提升。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路板上LED灯珠测试结构，其特征是，包括基板、承载板及若干测试单元，所述承载板设在基板上，承载板的上表面设有若干用于容纳电路板上LED灯珠的容纳孔，容纳孔的下方设有与容纳孔连通的透光孔，透光孔贯穿承载板的下表面；所述测试单元包括光纤及设置在光纤一端的测试探针，测试探针与透光孔一一对应，测试探针由透光孔的下端伸入透光孔内。

【技术特征摘要】
1.一种电路板上LED灯珠测试结构，其特征是，包括基板、承载板及若干测试单元，所述承载板设在基板上，承载板的上表面设有若干用于容纳电路板上LED灯珠的容纳孔，容纳孔的下方设有与容纳孔连通的透光孔，透光孔贯穿承载板的下表面；所述测试单元包括光纤及设置在光纤一端的测试探针，测试探针与透光孔一一对应，测试探针由透光孔的下端伸入透光孔内。2.根据权利要求1所述的一种电路板上LED灯珠测试结构，其特征是，所述承载板和基板之间设有若干缓冲结构，缓冲结构包括设在基板上的导柱、设在导柱一端的限位块及套设在导柱上的弹簧，在一个缓冲结构中：承载板滑动设置在导柱上，限位块位于承载板的上方，弹簧位于承载板和基板之间。3.根据权利要求2所述的一种电路板上LED灯珠测试结构，其特征是，所述缓冲结构的数目为4个，缓冲结...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓奎，王亚飞，
申请(专利权)人：浙江雷云科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33