【技术实现步骤摘要】
硅片分选机
本技术涉及太阳能电池片
，特别涉及一种硅片分选机。
技术介绍
在太阳能电池片的生产过程中，需要先将硅棒切割成硅片，然后对硅片清洗，清洗完成后需要对硅片进行多项检测，例如可以包括表面脏污、厚度、尺寸和隐裂的检测。传统的硅片分选机通常只能完成单项检测，在输送与检测环节之间没有形成自动连续作业，导致生产效率低。
技术实现思路
为了解决现有技术中硅片分选机通常只能完成单项检测导致生产效率低的问题，本技术实施例提供了一种硅片分选机，该硅片分选机还包括外形尺寸检测装置、隐裂检测装置、脏污检测装置、厚度检测装置、P/N型检测装置中的至少两种，其中：所述外形尺寸检测装置，用于检测所述输送线上输送的硅片的外形尺寸是否合格；所述隐裂检测装置，用于检测所述硅片上是否存在隐裂；所述脏污检测装置，用于检测所述硅片的表面上是否存在脏污；所述厚度检测装置，用于检测所述硅片的厚度是否合格；所述P/N型检测装置，用于检测所述硅片是P型还是N型。通过提供一种硅片分选机，该硅片分选机还包括外形尺寸检测装置、隐裂检测装置、脏污检测装置、厚度检测装置、P/N型检测装置中的至少两种，解决了现有技术...
【技术保护点】
1.一种硅片分选机，其特征在于，所述硅片分选机包括输送线，所述硅片分选机还包括外形尺寸检测装置、隐裂检测装置、脏污检测装置、厚度检测装置、P/N型检测装置中的至少两种，其中：所述外形尺寸检测装置，用于检测所述输送线上输送的硅片的外形尺寸是否合格；所述隐裂检测装置，用于检测所述硅片上是否存在隐裂；所述脏污检测装置，用于检测所述硅片的表面上是否存在脏污；所述厚度检测装置，用于检测所述硅片的厚度是否合格；所述P/N型检测装置，用于检测所述硅片是P型还是N型。
【技术特征摘要】
1.一种硅片分选机，其特征在于，所述硅片分选机包括输送线，所述硅片分选机还包括外形尺寸检测装置、隐裂检测装置、脏污检测装置、厚度检测装置、P/N型检测装置中的至少两种，其中：所述外形尺寸检测装置，用于检测所述输送线上输送的硅片的外形尺寸是否合格；所述隐裂检测装置，用于检测所述硅片上是否存在隐裂；所述脏污检测装置，用于检测所述硅片的表面上是否存在脏污；所述厚度检测装置，用于检测所述硅片的厚度是否合格；所述P/N型检测装置，用于检测所述硅片是P型还是N型。2.根据权利要求1所述的硅片分选机，其特征在于，所述外形尺寸检测装置包括第一相机、第一光源、第一光源罩和第一相机罩，其中：所述第一光源设置在所述第一光源罩的内部底部，所述第一光源罩的两侧开设有能够使所述输送线从所述第一光源上方通过的开口；所述第一相机罩位于所述第一光源罩的上方，所述第一相机设置于所述第一相机罩的内部；所述第一相机用于对通过所述第一光源上方的硅片进行拍照，所述第一相机拍照得到的图像用于确定所述硅片的外形尺寸是否合格。3.根据权利要求1所述的硅片分选机，其特征在于，所述脏污检测装置包括第二相机、第二光源、第二光源罩、第三相机、第三光源以及第三光源罩，其中：所述第二光源设置在所述第二光源罩的内部底部，所述第二光源罩位于所述输送线的下方，所述第二相机位于所述第二光源罩、所述输送线的上方，所述第二相机用于对通过所述第二光源上方的硅片的上表面进行拍照，所述第二相机拍照得到的图像用于确定所述上表面是否存在脏污；所述第三光源设置在所述第三光源罩的内部底部，所述第三光源罩位于所述输送线的上方，所述第三相机位于所述第三光源罩、所述输送线的下方，所述第三相机用于对通过所述第三光源下方的硅片的下表面进行拍照，所述第三相机拍照得到的图像用于确定所述下表面是否存在脏污。4.根据权利要求1所述的硅片分选机，其特征在于，所述厚度检测装置包括第一上光源、第一下光源、第一侧光源、第四相机、第一棱镜和第二棱镜，其中：所述第一上光源位于所述输送线的侧边上方，所述第一下光源位于所述侧边的下方，所述第四相机朝向所述侧边，所述第一侧光源位于所述第四相机的一侧；所述第一棱镜位于所述第一上光源、所述输送线之间，所述第二棱镜位于所述第一下光源、所述输送线之间，所述第一上光源、所述第一下光源以及所述第一侧光源均用于为第一硅片提供光照，所述第一硅片为所述输送线上所述第四相机朝向的硅片；所述第一硅片的上表面反射出来的光线通过所述第一棱镜反射至所述第四相机上，所述第一硅片的下表面反射出的光线通过所述第二棱镜反射至所述第四相机上。5.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：李文，韦孟锑，王美，丁治祥，徐康宁，李昶，黄浩，桑俞，
申请(专利权)人：无锡奥特维科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32
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