一种2.75D手机盖板扫光工艺制造技术

技术编号:19555627 阅读:19 留言:0更新日期:2018-11-24 22:48
本发明专利技术公开了一种2.75D手机盖板扫光工艺,包括下列步骤:S1、对2.75D手机盖板凸面进行扫光得到第一半成品,S2、对第一半成品凸面边缘进行平模得到第二半成品,S3、超声波清洗第二半成品,S4、对第二半成品凹面进行扫光得到第三半成品,S5、对第三半成品凹面边缘进行平模得到第四半成品,S6、超声波清洗第四半成品,S7、对第四半成品进行外观检验;本发明专利技术中,所提出的2.75D手机盖板扫光工艺,步骤简单,所需的加工设备只有翻转机、超声波清洗池、平磨机和CNC检测设备,因而加工效率得到提高,进而产能得到提升,并且通过两次崩裂检测,确保成品具有较高的良品率。

A 2.75D Mobile Phone Cover Scanning Technology

The invention discloses a 2.75D mobile phone cover plate sweeping process, which includes the following steps: S1, 2.75D mobile phone cover plate convex surface sweeping to get the first half-finished product, S2, flat die to get the second half-finished product on the convex edge of the first half-finished product, S3, ultrasonic cleaning the second half-finished product, S4, sweeping the concave surface of the second half-finished product. To the third semi-finished product, S5, flat die for concave edge of the third semi-finished product to get the fourth semi-finished product, S6, ultrasonic cleaning of the fourth semi-finished product, S7, the appearance inspection of the fourth semi-finished product; In the present invention, the 2.75D mobile phone cover plate sweeping process, simple steps, only the required processing equipment is flip machine, ultrasonic cleaning. Washing pool, flat grinding machine and CNC testing equipment, thus improving the processing efficiency and productivity, and through two crack detection, to ensure that the finished product has a high yield.

【技术实现步骤摘要】
一种2.75D手机盖板扫光工艺
本专利技术涉及扫光工艺
,尤其涉及一种2.75D手机盖板扫光工艺。
技术介绍
随着人们对智能终端产品的外观审美以及性能要求的提升,相关产品屏幕和后盖也从平面触屏逐渐向2.5D曲面、2.75D曲面和3D曲面过渡,2.75D玻璃具有轻薄、透明洁净、抗指纹、防眩光、坚硬、耐刮伤等优势,能够增加弧形边缘外控功能,带来别致的触控手感,但是2.75D玻璃制造工艺难度较大,目前2.75D玻璃制造,工艺上最大的难度在于玻璃扫光工序,最大的瓶颈是抛光工序的产能不足。
技术实现思路
为解决
技术介绍
中存在的技术问题,本专利技术提出一种2.75D手机盖板扫光工艺。本专利技术提出的一种2.75D手机盖板扫光工艺,包括下列步骤:S1、对2.75D手机盖板凸面进行扫光得到第一半成品;S2、对第一半成品凸面边缘进行平模得到第二半成品;S3、超声波清洗第二半成品;S4、对第二半成品凹面进行扫光得到第三半成品;S5、对第三半成品凹面边缘进行平模得到第四半成品;S6、超声波清洗第四半成品;S7、对第四半成品进行外观检验。优选地,S3和S4之间还包括S3.0:S3.0、对第二半成品进行崩裂检测,将检测不合格的第二半成品返工至S1。优选地,S6和S7之间还包括S6.0:S6.0、第四半成品进行崩裂检测,将检测不合格的第四半成品返工至S4。优选地,在S1中,还包括下列步骤:S1.1、2.75D手机盖板吸附至翻转机的磨皮治具上;S1.2、采用上盘磨皮对2.75D手机盖板凸面进行扫光;S1.3、采用地毯对2.75D手机盖板凸面进行扫光;S1.4、采用海绵对2.75D手机盖板凸面进行扫光,得到第一半成品。优选地,在S4中,还包括下列步骤:S4.1、将第二半成品吸附至翻转机的磨皮治具上;S4.2、采用下盘磨皮对第二半成品凹面进行扫光;S4.3、采用白色磨皮条对第二半成品凹面进行扫光,得到第三半成品。优选地,所述磨皮治具吸附槽深度大于2.75D手机盖板高度1-2mm。优选地,S1.3步骤进行10分钟。优选地,所述磨皮治具安装槽深度大于第一半成品高度1-2mm。优选地,S4.3步骤进行10分钟。本专利技术中,所提出的2.75D手机盖板扫光工艺,步骤简单,所需的加工设备只有翻转机、超声波清洗池、平磨机和CNC检测设备,因而加工效率得到提高,进而产能得到提升,并且通过两次崩裂检测,确保成品具有较高的良品率。附图说明图1为本专利技术提出的扫光工艺所加工的2.75D手机盖板。具体实施方式如图1所示,图1为本专利技术提出的扫光工艺所加工的2.75D手机盖板。参照图1,本专利技术提出的一种2.75D手机盖板扫光工艺,包括下列步骤:S1、对2.75D手机盖板凸面进行扫光得到第一半成品;S2、由于2.75D手机盖板边缘为曲面,S1步骤中,2.75D手机盖板边缘不能被打磨到,因此通过平磨机对第一半成品凸面边缘进行平模得到第二半成品;S3、超声波清洗第二半成品,将第二半成品上的磨粉清理干净;S4、对第二半成品凹面进行扫光得到第三半成品;S5、由于2.75D手机盖板边缘为曲面,S4步骤中,2.75D手机盖板边缘不能被打磨到,因此通过平磨机对第三半成品凸面边缘进行平模得到第四半成品;S6、超声波清洗第四半成品,将第四半成品上的磨粉清理干净;S7、对第四半成品进行外观检验,主要检验第四半成品的表面光洁状况,是否划边、崩边,厚度是否均匀等外形状况。在S1中,具体包括下列步骤:S1.1、将待加工2.75D手机盖板吸附至翻转机的磨皮治具上,真空吸气压为-0.05Mpa,确保扫光过程中2.75D手机盖板不会从磨皮治具上掉落下来;S1.2、采用上盘磨皮对2.75D手机盖板凸面进行扫光,所述磨皮厚度为5mm,上盘磨皮转速为50RPM;S1.3、采用地毯对2.75D手机盖板凸面进行扫光,持续进行10分钟;S1.4、采用海绵对2.75D手机盖板凸面进行扫光,得到第一半成品,所述海绵硬度为65°。本实施例中,S3和S4之间还包括S3.0:S3.0、对第二半成品进行崩裂检测,将检测不合格的第二半成品返工至S1重新扫光,确保加工得到的成品具有较高的良品率。在S4中,具体包括下列步骤:S4.1、将第二半成品吸附至翻转机的磨皮治具上,真空吸气压为-0.05Mpa,确保扫光过程中2.75D手机盖板不会从磨皮治具上掉落下来;S4.2、采用下盘磨皮对第二半成品凹面进行扫光,所述磨皮厚度为5mm,下盘磨皮转速为50RPM;S4.3、采用白色磨皮条对第二半成品凹面进行扫光,持续进行10分钟,得到第三半成品,所述白色磨皮条长度为25cm。本实施例中,S6和S7之间还包括S6.0:S6.0、第四半成品进行崩裂检测,将检测不合格的第四半成品返工至S4,确保加工得到的成品具有较高的良品率。本实施例中,所述磨皮治具吸附槽深度大于2.75D手机盖板高度1-2mm,所述磨皮治具安装槽深度大于第一半成品高度1-2mm。以上所述,仅为本专利技术较佳的具体实施方式,但本专利技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本
的技术人员在本专利技术揭露的技术范围内,根据本专利技术的技术方案及其专利技术构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种2.75D手机盖板扫光工艺,其特征在于,包括下列步骤:S1、对2.75D手机盖板凸面进行扫光得到第一半成品;S2、对第一半成品凸面边缘进行平模得到第二半成品;S3、超声波清洗第二半成品;S4、对第二半成品凹面进行扫光得到第三半成品;S5、对第三半成品凹面边缘进行平模得到第四半成品;S6、超声波清洗第四半成品;S7、对第四半成品进行外观检验。

【技术特征摘要】
1.一种2.75D手机盖板扫光工艺,其特征在于,包括下列步骤:S1、对2.75D手机盖板凸面进行扫光得到第一半成品;S2、对第一半成品凸面边缘进行平模得到第二半成品;S3、超声波清洗第二半成品;S4、对第二半成品凹面进行扫光得到第三半成品;S5、对第三半成品凹面边缘进行平模得到第四半成品;S6、超声波清洗第四半成品;S7、对第四半成品进行外观检验。2.根据权利要求1所述的2.75D手机盖板扫光工艺,其特征在于,S3和S4之间还包括S3.0:S3.0、对第二半成品进行崩裂检测,将检测不合格的第二半成品返工至S1。3.根据权利要求1所述的2.75D手机盖板扫光工艺,其特征在于,S6和S7之间还包括S6.0:S6.0、第四半成品进行崩裂检测,将检测不合格的第四半成品返工至S4。4.根据权利要求1所述的2.75D手机盖板扫光工艺,其特征在于,在S1中,还包括下列步骤:S1.1、2.75D手机盖板吸附至翻转机的磨皮治具上;S1.2、采...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴建勇向中华
申请(专利权)人:安徽金龙浩光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:安徽,34

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