测序反应装置制造方法及图纸

技术编号:19546752 阅读:35 留言:0更新日期:2018-11-24 21:07
本发明专利技术提供了一种测序反应装置,涉及基因测序技术领域;包括反应小室、小室安装板、转动架以及温度测量器;所述的反应小室放置在小室安装板上,转动架转动安装在反应小室的上方;所述的温度测量器包括支撑座、伸缩杆、弹簧以及测温头,支撑座固定在小室安装板上或者固定在转动架上;所述的支撑座上设置有一贯穿孔,伸缩杆底部具有一凸出部,所述的伸缩杆插入支撑座的贯穿孔中;所述的弹簧套在伸缩杆上,且弹簧的一端顶在所述的支撑座上,弹簧的另一端顶在伸缩杆的凸出部上;所述的测温头固定在凸出部的底面上,且凸出部的底面用于贴在所述的反应小室上;本发明专利技术的有益效果是:简化了反应小室的安装步骤,提高了温度测量的准确性。

Sequencing reaction unit

The invention provides a sequencing reaction device, which relates to the technical field of gene sequencing; comprises a reaction chamber, a chamber mounting plate, a rotating frame and a temperature measuring device; the reaction chamber is placed on the chamber mounting plate, and the rotating frame rotates over the reaction chamber; the temperature measuring device comprises a support seat and a telescopic device. The rod, spring and temperature measuring head are fixed on the chamber mounting plate or on the rotating frame; the support seat is provided with a through hole, and the bottom of the telescopic rod has a protrusion part, and the telescopic rod is inserted into the through hole of the support seat; the spring is sleeved on the telescopic rod, and the top of one end of the spring is said. On the support seat, the other end of the spring is crowned on the protrusion part of the telescopic rod; the temperature measuring head is fixed on the bottom surface of the protrusion part, and the bottom surface of the protrusion part is used for pasting on the reaction chamber; the beneficial effect of the present invention is to simplify the installation steps of the reaction chamber and improve the accuracy of temperature measurement.

【技术实现步骤摘要】
测序反应装置
本专利技术涉及基因测序
,更具体的说,本专利技术涉及一种测序反应装置。
技术介绍
基因测序技术是通过基因测序仪来检测核酸,通过数据处理得到核酸序列。目前的基因测序仪,通过将待测DNA片段样片设置在基因测序仪的反应芯片中进行测序反应,测序时反应试剂通过反应流道与待测样片发生测序反应。测序反应结束后通过图像采集装置进行图像采集,再通过后期处理后获得基因序列。在测序反应发生时,需要通过温度检测装置对反应芯片的温度进行检测,现有技术中的一种温度检测装置,包括弹片和测温探头,测温探头安装在弹片顶端,通过弹片将测温探头压在反应芯片上,对反应芯片进行温度的测量。这种温度检测装置,在反应芯片安装后,需要手动调节弹片的位置,使得反应芯片的安装非常繁琐;同时,会造成弹片与不同的反应芯片接触的区域不同,造成温度测量不准确。因此需要一种新的测序反应装置,便于反应芯片的安装,并能够对反应芯片的温度进行精准的测量。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测序反应装置,旨在解决现有技术中反应芯片的安装繁琐,反应芯片温度测量不准确的问题。为了实现专利技术目的,一种测序反应装置,其改进之处在于:包括反应小室、小室安装板、转动架以及温度测量器;所述的反应小室放置在小室安装板上,所述的转动架转动安装在反应小室的上方;所述的温度测量器包括支撑座、伸缩杆、弹簧以及测温头,所述的支撑座固定在小室安装板上或者固定在转动架上;所述的支撑座上设置有一贯穿孔,所述的伸缩杆底部具有一凸出部,所述的伸缩杆插入支撑座的贯穿孔中;所述的弹簧套在伸缩杆上,且弹簧的一端顶在所述的支撑座上,弹簧的另一端顶在伸缩杆的凸出部上;所述的测温头固定在凸出部的底面上,且凸出部的底面用于贴在所述的反应小室上。上述的结构中,所述支撑座的贯穿孔为台阶孔,该台阶孔包括第一通孔和第二通孔,第一通孔和第二通孔呈圆柱状,且第一通孔的内径小于第二通孔的内径;所述弹簧的顶端顶在第一通孔与第二通孔的台阶处。上述的结构中,所述支撑座下部设置有一固定块,该固定块上设置有固定孔,所述小室安装板上对应的设置有螺孔,所述的支撑座固定在小室安装板上。上述的结构中,所述伸缩杆的凸出部的底面上设置有一安装槽,所述的伸缩杆上设置有贯穿其顶面与底面的通孔,且该通孔与所述的安装槽相连通;所述的测温头包括探头本体和连接导线,连接导线的一端与探头本体电性连接,所述的连接导线从伸缩杆上的通孔中穿过,且所述探头本体设置在凸出部的安装槽内。上述的结构中,所述伸缩杆的上端设置有至少一个卡槽,且卡槽设置有卡簧,所述卡簧用于对伸缩杆进行限位,防止伸缩杆从支撑座的贯穿孔中掉落。上述的结构中,所述的支撑座呈长方体形,所述的贯穿孔位于支撑座的一端,支撑座的另一端设置有固定孔,所述的支撑座固定在转动架上。上述的结构中,所述小室安装板上设置有多个定位凸台,所述反应小室的侧边抵靠在所述的定位凸台上;所述小室安装板的两端设置有限位凸块,所述反应小室置于两限位凸块之间;小室安装板两端的限位凸块上设置有条形的安装孔。上述的结构中,所述测序反应装置还包括固定座,所述小室安装板的两端固定在所述固定座的底面上;所述的固定座呈方框形,固定座具有相对的安装内壁,转动架转动安装在固定座的安装内壁上。上述的结构中,所述的转动架呈方框形,转动架的中部具有避空通孔;所述的转动架包括一横杆,所述的支撑座固定在横杆的侧壁上且位于所述的避空通孔内。由上可知,在反应小室安装在小室安装板上之后,无需调整温度测量器的位置,简化了反应小室的安装步骤,同时由于测温头在每一次测序时与反应小室接触的区域为同一位置,不会出现由于测温头与反应小室接触的区域不同,而导致测温不准确的问题,从而提高了温度测量的准确性。附图说明图1为本专利技术一个实施例中测序反应装置的立体结构示意图。图2为本专利技术一个实施例中温度测量器的第一立体结构示意图。图3为本专利技术一个实施例中温度测量器的第二立体结构示意图。图4为本专利技术一个实施例中温度测量器和反应小室的立体结构示意图。图5为本专利技术一个实施例中温度测量器的俯视图。图6为图5中沿D-D处的剖面示意图。图7为本专利技术一个实施例中伸缩杆的立体结构示意图。图8为本专利技术另一个实施例中测序反应装置的立体结构示意图。图9为本专利技术另一个实施例中温度测量器的第一立体结构示意图。图10为本专利技术另一个实施例中温度测量器的第二立体结构示意图。图11本专利技术另一个实施例中测序反应装置的爆炸结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。本专利技术提出第一实施例,本实施例提出了一种测序反应装置,如图1所示,该测序反应装置包括反应小室100、小室安装板50、转动架60以及温度测量器70;所述的反应小室100放置在小室安装板50上,所述的转动架60转动安装在反应小室100的上方;对于所述的温度测量器70,如图1至图3所示,本专利技术提出了一具体实施例,所述的温度测量器70包括支撑座701、伸缩杆702、弹簧703以及测温头,所述的支撑座701固定在小室安装板50上,具体的,在本实施例中,所述支撑座701下部设置有一固定块7013,固定块7013呈长方体形,支撑座701下表面的一端固定在固定块7013上表面,固定块7013的两端向外伸出,在固定块7013的两端设置有固定孔7014,对应的,所述小室安装板50上设置有螺孔,通过向螺孔和固定孔7014中锁入螺钉后,将所述的支撑座701固定在小室安装板50上。进一步的,所述的支撑座701上设置有一贯穿孔7010,所述的伸缩杆702底部具有一凸出部7021,所述的伸缩杆702插入支撑座701的贯穿孔7010中,伸缩杆702的顶部从贯穿孔7010中穿出;所述的弹簧703套在伸缩杆702上并收容在贯穿孔7010内,且弹簧703的一端顶在所述的支撑座701上,弹簧703的另一端顶在伸缩杆702的凸出部7021上,当凸出部7021受到由下至上的推力时,则压缩所述的弹簧703;所述的测温头固定在凸出部7021的底面上,且凸出部7021的底面用于贴在所述的反应小室100上。通过这种结构,如图4所示,在安装测序反应小室100时,向上拉起所述的伸缩杆702,将反应小室100放在小室安装板50上之后,松开伸缩杆702,伸缩杆702的凸出部7021则在弹簧703力的作用下,压在反应小室100的表面上,凸出部7021底面上的测温头则对反应小室100进行温度的测量;图4中,反应小室100一般是竖直的放置在小室安装板50上,在本专利技术的此实施例中,由于支撑座701固定在小室安装板50上,通过伸缩杆702的作用,将反应小室100压紧在小室安装板50上,防止反应小室100从小室安装板50上掉落。另外,本专利技术的此种测序反应装置,由于温度测量器70固定在小室安装板50上,温度测量器70的伸缩杆702只能够在贯穿孔7010内来回运动,在安装反应小室100时,只需要拉起伸缩杆702即可,无需调整温度测量器70的位置,简化了反应小室100的安装步骤。现有技术中采用弹片式结构的测序反应装置,在反应小室安装后,需要将弹片的顶端与反应小室相接触,因此需要对弹片的位置进行调节,在更换反应小室后,只能够再次通过人工的方式调节弹片与反本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测序反应装置,其特征在于:包括反应小室、小室安装板、转动架以及温度测量器;所述的反应小室放置在小室安装板上,所述的转动架转动安装在反应小室的上方;所述的温度测量器包括支撑座、伸缩杆、弹簧以及测温头,所述的支撑座固定在小室安装板上或者固定在转动架上;所述的支撑座上设置有一贯穿孔,所述的伸缩杆底部具有一凸出部,所述的伸缩杆插入支撑座的贯穿孔中;所述的弹簧套在伸缩杆上,且弹簧的一端顶在所述的支撑座上,弹簧的另一端顶在伸缩杆的凸出部上;所述的测温头固定在凸出部的底面上,且凸出部的底面用于贴在所述的反应小室上。

【技术特征摘要】
1.一种测序反应装置,其特征在于:包括反应小室、小室安装板、转动架以及温度测量器;所述的反应小室放置在小室安装板上,所述的转动架转动安装在反应小室的上方;所述的温度测量器包括支撑座、伸缩杆、弹簧以及测温头,所述的支撑座固定在小室安装板上或者固定在转动架上;所述的支撑座上设置有一贯穿孔,所述的伸缩杆底部具有一凸出部,所述的伸缩杆插入支撑座的贯穿孔中;所述的弹簧套在伸缩杆上,且弹簧的一端顶在所述的支撑座上,弹簧的另一端顶在伸缩杆的凸出部上;所述的测温头固定在凸出部的底面上,且凸出部的底面用于贴在所述的反应小室上。2.根据权利要求1所述的测序反应装置,其特征在于:所述支撑座的贯穿孔为台阶孔,该台阶孔包括第一通孔和第二通孔,第一通孔和第二通孔呈圆柱状,且第一通孔的内径小于第二通孔的内径;所述弹簧的顶端顶在第一通孔与第二通孔的台阶处。3.根据权利要求1所述的测序反应装置,其特征在于:所述支撑座下部设置有一固定块,该固定块上设置有固定孔,所述小室安装板上对应的设置有螺孔,所述的支撑座固定在小室安装板上。4.根据权利要求1所述的测序反应装置,其特征在于:所述伸缩杆的凸出部的底面上设置有一安装槽,所述的伸缩杆上设置有贯穿其顶面与底面的通孔,且该通孔与所述的安装槽相连通;所述的测温头包括...

【专利技术属性】
技术研发人员:盛司潼刘咏董冰
申请(专利权)人:广州康昕瑞基因健康科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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