This application discloses an analysis method and system of reactor structure complexity. The reactor structure complexity is calculated by collecting the height of the encapsulated winding, the radius of the reactor, the number of branch turns and the number of encapsulated wires. By calculating the structure complexity of the reactor, it is proved that the structure complexity of the reactor directly affects the manufacturing quality of the reactor. It is revealed that when the complexity of the reactor is too high, the existing manufacturing technology can not guarantee the production of qualified reactor.
【技术实现步骤摘要】
一种电抗器结构复杂度的分析方法及系统
本申请涉及输变电
,尤其涉及一种电抗器结构复杂度的分析方法及系统。
技术介绍
近年来,随着超高压、特高压大电网的建设,以及西电东送长距离输电的需要,电网中大量使用了干式空心电抗器(以下简称电抗器)。但随着电抗器的大量投运,其缺陷也逐步暴露出来。自2001年至2016年某电网公司运行的291台电抗器共发生烧损故障34台,平均烧损率达:11.8%,其中2010年、2015年每年烧损7台之多,烧损最多的变电站10年内共烧损18台,造成较严重的事故隐患。目前,对于电抗器发生烧损故障的原因,行业内一般认为主要存在制造工艺、人员技术水平及责任心等问题,但这都不是不同厂家、不同批次电抗器都普遍发生烧损故障的本质原因,而且所有的分析都是定性研究,没有一个对电抗器制造过程存在问题进行定量分析研究的方法。
技术实现思路
本申请提供了一种电抗器结构复杂度的分析方法及系统,通过对电抗器结构复杂度的定量分析,揭示了电抗器制造系统的复杂度变化对其制造的电抗器的质量的保障能力的关系。第一方面,本申请提供了一种电抗器结构复杂度的分析方法包括:步骤S1,采集电抗器的包封绕组高度、半径、支路匝数和包封导线种类数;步骤S2,根据所述电抗器的包封绕组高度,计算得到电抗器的包封绕组高度变化率Δh;步骤S3,根据所述电抗器的半径,计算得到电抗器半径变化率Δr;步骤S4,根据所述电抗器的支路匝数,计算得到电抗器的支路匝数变化率Δz;步骤S5,根据所述电抗器的包封导线种类数,计算得到电抗器的包封导线种类变化率Δx;步骤S6,根据所述包封绕组高度变化率Δh、所述电抗 ...
【技术保护点】
1.一种电抗器结构复杂度的分析方法,其特征在于,所述电抗器结构复杂度的分析方法包括:步骤S1,采集电抗器的包封绕组高度、半径、支路匝数和包封导线种类数;步骤S2,根据所述电抗器的包封绕组高度,计算得到电抗器的包封绕组高度变化率Δh;步骤S3,根据所述电抗器的半径,计算得到电抗器半径变化率Δr;步骤S4,根据所述电抗器的支路匝数,计算得到电抗器的支路匝数变化率Δz;步骤S5,根据所述电抗器的包封导线种类数,计算得到电抗器的包封导线种类变化率Δx;步骤S6,根据所述包封绕组高度变化率Δh、所述电抗器半径变化率Δr、所述支路匝数变化率Δz和所述包封导线种类变化率Δx,计算得到电抗器的结构复杂度Dp。
【技术特征摘要】
1.一种电抗器结构复杂度的分析方法,其特征在于,所述电抗器结构复杂度的分析方法包括:步骤S1,采集电抗器的包封绕组高度、半径、支路匝数和包封导线种类数;步骤S2,根据所述电抗器的包封绕组高度,计算得到电抗器的包封绕组高度变化率Δh;步骤S3,根据所述电抗器的半径,计算得到电抗器半径变化率Δr;步骤S4,根据所述电抗器的支路匝数,计算得到电抗器的支路匝数变化率Δz;步骤S5,根据所述电抗器的包封导线种类数,计算得到电抗器的包封导线种类变化率Δx;步骤S6,根据所述包封绕组高度变化率Δh、所述电抗器半径变化率Δr、所述支路匝数变化率Δz和所述包封导线种类变化率Δx,计算得到电抗器的结构复杂度Dp。2.如权利要求1所述的电抗器结构复杂度的分析方法,其特征在于,所述根据所述电抗器的包封绕组高度,计算得到电抗器的包封绕组高度变化率Δh包括,按照如下公式计算得到电抗器的包封绕组高度变化率Δh:式中,hd为包封绕组的最大高度;hs为包封绕组的最小高度。3.如权利要求1所述的电抗器结构复杂度的分析方法,其特征在于,所述根据所述电抗器的半径,计算得到电抗器半径变化率Δr包括,按照如下公式计算得到电抗器半径变化率Δr:式中,rd为电抗器最大半径;rs为电抗器最小半径。4.如权利要求1所述的电抗器结构复杂度的分析方法,其特征在于,所述根据所述电抗器的支路匝数,计算得到电抗器的支路匝数变化率Δz包括,按照如下公式计算得到电抗器的支路匝数变化率Δz:式中,zd为各支路最大匝数;zs为各支路最小匝数。5.如权利要求1所述的电抗器结构复杂度的分析方法,其特征在于,所述根据所述电抗器的包封导线种类数,计算得到电抗器的包封导线种类变化率Δx包括,按照如下公式计算得到包封导线种类变化率Δx:式中,xd为最大包封导线种类数;xs为最小包封导线种类数。6.如权利要求1所述的电抗器结构复杂度的分析方法,其特征在于,所述根据所述包封绕组高度变化率Δh、所述电抗器半径变化率Δr、...
【专利技术属性】
技术研发人员:崔志刚,钱国超,彭庆军,颜冰,邹德旭,程志远,黄然,周仿荣,王山,
申请(专利权)人:云南电网有限责任公司电力科学研究院,
类型:发明
国别省市:云南,53
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