掀盖式测试结构制造技术

本发明专利技术公开了一种掀盖式测试结构，包括上部结构、底座结构、待测试连接器及测试结构，上部结构包括连接架、上部端盖、下部端盖及导向柱，导向柱固定于上部端盖，导向柱配合收容于下部端盖，下部端盖转动安装于连接架，连接架固定于底座结构，待测试连接器安装于底座结构，测试结构安装于上部端盖，转动下部端盖使下部端盖抵触于底座结构，测试结构正对待测试连接器，挤压上部端盖使上部端盖沿导向柱滑动，使测试结构接触待测试连接器，解决了行业内为实现垂直下针而结构设计复杂、不便于手动操作的问题，同时可以避免旋转测试导致探针的寿命极低、压伤产品、重测率偏高和对零部件加工精度要求极高等问题。

【技术实现步骤摘要】
掀盖式测试结构
本专利技术涉及测试领域，尤其涉及一种掀盖式测试结构。
技术介绍
目前，在掀盖式测试领域，传统的设计模式为：POGOPIN模组固定在掀盖板上，在旋转的过程中，POGOPIN模组的探针与产品触点接触，实现信号的传输，但该测试模式存在明显的弊端：由于产品与POGOPIN模组中的探针为旋转接触，细小的探针与产品接触时是有一定角度，就会在测试过程中对探针造成侧向力，降低其测试寿命，甚至造成产品损伤、重测率偏高、维修频率增加、成本飙升、影响产能。掀盖式垂直下针测试装置，公开了一种测试方案，其用于上述所示的B2B连接器、PCB等电路板测试领域，产品放入载板模组，掀盖模组先旋转盖下后，垂直下压模组再垂直载板模组下压，其结构的特殊性，会实现POGPOIN模组探针与产品的垂直接触。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的之一在于提供一种掀盖式测试结构，其能解决测试不便的问题。本专利技术的目的之一采用如下技术方案实现：一种掀盖式测试结构，包括上部结构、底座结构、待测试连接器及测试结构，所述上部结构包括连接架、上部端盖、下部端盖及导向柱，所述导向柱固定于所述上部端盖，所述导向柱配合收容于所述下部端盖，所述下部端盖转动安装于所述连接架，所述连接架固定于所述底座结构，所述待测试连接器安装于所述底座结构，所述测试结构安装于所述上部端盖，转动所述下部端盖使所述下部端盖抵触于所述底座结构，所述测试结构正对所述待测试连接器，挤压所述上部端盖使所述上部端盖沿所述导向柱滑动，使所述测试结构接触所述待测试连接器。进一步地，所述上部结构还包括转轴，所述连接架设有第一收容槽，所述转轴安装于所述第一收容槽，所述第一收容槽呈长方形，所述下部端盖通过所述转轴转动安装于所述连接架。进一步地，所述上部结构还包括抵触固定件，所述上部端盖包括固定块，所述固定块设有第二收容槽，所述抵触固定件转动安装于第二收容槽。进一步地，所述上部结构还包括抵触台，所述抵触固定件包括抵触部，所述抵触固定件上部呈弯折状，所述抵触部正对所述抵触台。进一步地，所述抵触固定件及所述抵触台的数量为两个，两个所述抵触固定件位于所述下部端盖相对两侧，两个所述抵触固定件在同一直线上。进一步地，所述下部端盖包括导套，所述导套设有导向孔，所述导向柱配合收容于所述导向孔。进一步地，所述上部结构还包括弹性结构，所述弹性结构包括弹性件及导向件，所述弹性件套设于所述导向件，所述弹性件两端抵触于所述上部端盖及所述下部端盖，所述导向件上部固定于所述上部端盖，所述导向件配合收容于所述下部端盖。进一步地，当所述掀盖式测试结构处于测试状态时，转动所述下部端盖使所述下部端盖抵触于所述底座结构，所述下部端盖平行于所述底座结构，所述测试结构平行于所述待测试连接器，挤压所述上部端盖使所述上部端盖向所述下部端盖靠近，所述弹性件处于压缩状态。进一步地，当所述掀盖式测试结构处于测试状态时，所述测试结构抵触于所述待测试连接器，转动所述抵触固定件使所述抵触部抵触于所述抵触台，所述测试结构包括若干测试探针，所述测试探针正对所述待测试连接器。进一步地，所述底座结构设有第三收容槽、配合槽及插接槽，所述底座结构包括平台部，所述连接架安装于第三收容槽，当所述掀盖式测试结构处于测试状态时，所述上部结构部分收容于所述配合槽，所述下部端盖包括导套，所述导套部分收容于插接槽。相比现有技术，本专利技术的有益效果在于：所述导向柱固定于所述上部端盖，所述导向柱配合收容于所述下部端盖，所述下部端盖转动安装于所述连接架，所述连接架固定于所述底座结构，所述待测试连接器安装于所述底座结构，所述测试结构安装于所述上部端盖，转动所述下部端盖使所述下部端盖抵触于所述底座结构，所述测试结构正对所述待测试连接器，挤压所述上部端盖使所述上部端盖沿所述导向柱滑动，使所述测试结构接触所述待测试连接器，解决了行业内为实现垂直下针而结构设计复杂、不便于手动操作的问题，同时可以避免旋转测试导致探针的寿命极低、压伤产品、重测率偏高和对零部件加工精度要求极高等问题。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。附图说明图1为本专利技术掀盖式测试结构处于翻开状态的立体图；图2为图1所示掀盖式测试结构中A处的局部放大图；图3为图1所示掀盖式测试结构中一待测试连接器的立体图；图4为图1所示掀盖式测试结构处于闭合状态的立体图；图5为图4所示掀盖式测试结构的剖视图；图6为图4所示掀盖式测试结构的俯视图；图7为图1所示掀盖式测试结构处于测试状态的立体图；图8为图1所示掀盖式测试结构的局部立体图；图9为图1所示掀盖式测试结构中一上部结构的立体图；图10为图1所示掀盖式测试结构中一底座结构的立体图；图11为图10所示底座结构的分解图；图12为图10所示底座结构的立体图。图中：100、掀盖式测试结构；10、上部结构；11、连接架；111、第一收容槽；12、上部端盖；121、固定块；1211、第二收容槽；13、下部端盖；131、导套；1311、导向孔；14、弹性结构；141、弹性件；142、导向件；15、抵触固定件；151、抵触部；16、抵触台；17、转轴；18、固定部；19、导向柱；20、底座结构；21、第三收容槽；22、配合槽；23、平台部；24、插接槽；30、待测试连接器；40、测试结构；41、测试探针。具体实施方式下面，结合附图以及具体实施方式，对本专利技术做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。请参阅图1-12，一种掀盖式测试结构100包括上部结构10、底座结构20、待测试连接器30及测试结构40，所述上部结构10包括连接架11、上部端盖12、下部端盖13及导向柱19，所述导向柱19固定于所述上部端盖12，所述导向柱19配合收容于所述下部端盖13，所述下部端盖13转动安装于所述连接架11，所述连接架11固定于所述底座结构20，所述待测试连接器30安装于所述底座结构20，所述测试结构40安装于所述上部端盖12，转动所述下部端盖13使所述下部端盖13抵触于所述底座结构20，所述测试结构40正对所述待测试连接器30，挤压所述上部端盖12使所述上部端盖12沿所述导向柱19滑动，使所述测试结构40接触所述待测试连接器30，解决了行业内为实本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种掀盖式测试结构，包括上部结构、底座结构、待测试连接器及测试结构，其特征在于：所述上部结构包括连接架、上部端盖、下部端盖及导向柱，所述导向柱固定于所述上部端盖，所述导向柱配合收容于所述下部端盖，所述下部端盖转动安装于所述连接架，所述连接架固定于所述底座结构，所述待测试连接器安装于所述底座结构，所述测试结构安装于所述上部端盖，转动所述下部端盖使所述下部端盖抵触于所述底座结构，所述测试结构正对所述待测试连接器，挤压所述上部端盖使所述上部端盖沿所述导向柱滑动，使所述测试结构接触所述待测试连接器。

【技术特征摘要】
1.一种掀盖式测试结构，包括上部结构、底座结构、待测试连接器及测试结构，其特征在于：所述上部结构包括连接架、上部端盖、下部端盖及导向柱，所述导向柱固定于所述上部端盖，所述导向柱配合收容于所述下部端盖，所述下部端盖转动安装于所述连接架，所述连接架固定于所述底座结构，所述待测试连接器安装于所述底座结构，所述测试结构安装于所述上部端盖，转动所述下部端盖使所述下部端盖抵触于所述底座结构，所述测试结构正对所述待测试连接器，挤压所述上部端盖使所述上部端盖沿所述导向柱滑动，使所述测试结构接触所述待测试连接器。2.如权利要求1所述的掀盖式测试结构，其特征在于：所述上部结构还包括转轴，所述连接架设有第一收容槽，所述转轴安装于所述第一收容槽，所述第一收容槽呈长方形，所述下部端盖通过所述转轴转动安装于所述连接架。3.如权利要求1所述的掀盖式测试结构，其特征在于：所述上部结构还包括抵触固定件，所述上部端盖包括固定块，所述固定块设有第二收容槽，所述抵触固定件转动安装于第二收容槽。4.如权利要求3所述的掀盖式测试结构，其特征在于：所述上部结构还包括抵触台，所述抵触固定件包括抵触部，所述抵触固定件上部呈弯折状，所述抵触部正对所述抵触台。5.如权利要求4所述的掀盖式测试结构，其特征在于：所述抵触固定件及所述抵触台的数量为两个，两个所述抵触固定件位于所述下部端盖相对两侧，两个所述抵触固定...

【专利技术属性】
技术研发人员：王波，
申请(专利权)人：苏州市运泰利自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32