一种差分探头及测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种差分探头及测试装置，包括差分电路单元、探针和阻抗调节单元；所述探针包括第一探针和第二探针，其中一个为正极探针与所述差分电路单元的正极电连接，另一个为负极探针与所述差分电路单元的负极电连接；所述阻抗调节单元一端连接于所述第一探针与所述差分电路单元之间，另一端电连接于所述第二探针与所述差分电路单元之间。本实用新型专利技术实施例提供的差分探头通过设置阻抗调节单元来调整两个探针之间的阻抗大小，在阻抗匹配过程中，无需对电路板进行拆卸电阻和焊接电阻的操作，解决了拆卸和焊接电阻过程中成品电路板和模组易损坏的问题，实现了便捷的阻抗匹配调节过程，同时节约了调节的时间，降低了电阻器件的消耗。

A differential probe and testing device

The utility model discloses a differential probe and a test device, which comprises a differential circuit unit, a probe and an impedance regulating unit. The probe comprises a first probe and a second probe, one of which is positively connected with the positive electrode of the differential circuit unit, and the other is a negative electrode probe and the negative electrode of the differential circuit unit. One end of the impedance regulating unit is connected between the first probe and the differential circuit unit, and the other end is electrically connected between the second probe and the differential circuit unit. The differential probe provided by the embodiment of the utility model adjusts the impedance between the two probes by setting an impedance regulating unit. In the process of impedance matching, there is no need to operate the circuit board disassembly resistance and welding resistance, thus solving the problem that the finished circuit board and module are easy to be damaged in the process of disassembly and welding resistance. It realizes a convenient impedance matching adjustment process, saves the adjustment time and reduces the consumption of resistance devices.

【技术实现步骤摘要】
一种差分探头及测试装置
本技术涉及显示
，尤其涉及一种差分探头及测试装置。
技术介绍
在面板显示领域，时序控制电路是控制面板时序动作的核心电路，控制扫描驱动电路何时启动，并将输入的视频信号(例如低电压差分信号)转换成数据驱动电路所用的数据信号形式(例如低电压差分信号和微型低压差分信号)，传递到数据驱动电路，并控制数据驱动电路适时开启。图1是现有技术中的一种传输线阻抗匹配调节示意图，参考图1，目前，面板显示领域中含有时序控制电路的逻辑板(Tcon)和含有数据驱动电路的源极驱动芯片(SourceIC)通常通过低电压差分信号或微型低压差分信号等高速差分信号进行传输，其中，为了保证与Tcon连接的传输线上的高频微波信号皆能传至SourceIC，不会有信号反射，从而提升能源效益，通常需要进行传输线的阻抗匹配，即通过两个探针对测试点进行测量，利用差分探头电路组件中的差分电路单元11对差分信号进行处理，并由示波器中的数学运算单元进行计算，从而显示出眼图。具体的，该阻抗匹配调节过程，需要将传输线上阻抗不匹配的电阻拆掉后，再焊接上其他阻值的电阻，然后通过探针12量测确认，而且为了节约调节的时间，会先在时钟(Clock)线路上焊接一颗电阻R1，数据(Data)线路上至少焊接一颗R2，直到测得的眼图最佳后，可将剩余位置焊接上电阻。然而，由于现在的成品电路板趋于小型化，元器件排列较为紧密，选用的元件封装很小，其与金手指的距离也比较近，由此导致在阻抗调节过程中，重复多次的拆卸焊接动作很容易损坏成品电路板模组，并且该方法耗费时间，也存在浪费材料的问题。除此之外，在利用探针测眼图时，可能遇到Clock线路或Data线路异常的情况，此时常规的探针测试方法需要在测试点上焊接合适的电阻来进行排查，由于测试点的直径和间距较小，空间有限，很容易在焊接过程中产生损坏模组等问题。
技术实现思路
本技术提供了一种差分探头及测试装置，在利用差分探头进行阻抗匹配测量时无需重复拆卸和焊接电阻，可以防止模组器件在拆卸和焊接过程中造成损坏，同时节约了调节的时间，降低了电阻器件的消耗。第一方面，本技术实施例提供了一种差分探头，包括差分电路单元，探针和阻抗调节单元；所述探针包括第一探针和第二探针，其中一个为正极探针与所述差分电路单元的正极电连接，另一个为负极探针与所述差分电路单元的负极电连接；所述阻抗调节单元一端连接于所述第一探针与所述差分电路单元之间，另一端电连接于所述第二探针与所述差分电路单元之间。优选地，所述阻抗调节单元包括至少一条电阻支路，每条所述电阻支路包括串联的第一电阻和第一开关。优选地，所述第一开关采用按键开关或者拨动开关。优选地，所述第一开关为半导体开关。优选地，各所述电阻支路上的所述第一电阻的阻值不同。优选地，所述阻抗调节单元包括选择开关和至少一个第二电阻；所述选择开关电连接于所述第二探针与所述差分电路单元之间；每个所述第二电阻一端电连接在所述选择开关上，另一端电连接于所述第一探针与所述差分电路单元之间。优选地，所述选择开关采用旋钮开关；所述旋钮开关包括动态触针，所述动态触针的一端电连接于所述第二探针与所述差分电路单元之间，另一端通过旋转所述旋钮开关将其与某一第二电阻的一端电连接，实现所述第二电阻所在所述电阻支路的导通。优选地，所述选择开关还包括导通标识和选择档位标识。第二方面，本技术实施例还提供了一种测试装置，配置有本技术任意实施例所述的差分探头。本技术通过设置阻抗调节单元来调整两个探针之间的阻抗大小，在阻抗匹配过程中，无需对电路板进行拆卸电阻和焊接电阻的操作，解决了拆卸和焊接电阻过程中成品电路板和模组易损坏的问题，实现了便捷的阻抗匹配调节过程，同时节约了调节的时间，降低了电阻器件的消耗。附图说明图1是现有技术中的一种传输线阻抗匹配调节示意图；图2是本技术实施例提供的一种差分探头的结构示意图；图3是本技术实施例提供的另一种差分探头的结构示意图；图4是本技术实施例提供的又一种差分探头的结构示意图；图5是本技术实施例提供的一种测试装置结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部结构。实施例一图2为本技术实施例提供的一种差分探头的结构示意图，参考图2，该差分探头包括差分电路单元11、两个探针12以及阻抗调节单元13，差分电路单元11和阻抗调节单元13为该差分探头的电路组件，两个探针12分别包括第一探针121和第二探针122，其中，第一探针121为正极探针，第二探针122为负极探针，但并不以次为限，也可以第一探针121为负极探针，第二探针122为正极探针。第一探针121和第二探针122分别与差分电路单元11电连接，也就是，正极探针与差分电路单元11的正极电连接，负极探针与差分电路单元11的负极电连接；阻抗调节单元13与两个探针12电连接，阻抗调节单元13用于调整两个探针12之间的阻抗大小，即调整第一探针121和第二探针122之间的阻抗大小。也就是，阻抗调节单元13一端连接于第一探针121与差分电路单元11之间，另一端电连接于第二探针121与差分电路单元11之间。例如阻抗调节单元13的电阻、电感或者电容值中的至少一种为可调，通过调节阻抗调节单元13的电阻、电感和者电容值中的至少一种，进而调整两个探针12之间的阻抗大小。其中，差分电路单元11为现有的用于阻抗匹配测量的差分电路单元，下面参考图2对该差分探头的工作原理和工作过程进行简单介绍：首先，在阻抗调节单元13上预先设置一预估电阻值，通过将第一探针121和第二探针122扎针在测试点上，观察差分探头所连接的测试仪器，例如示波器所呈现的眼图，此时测得的眼图为阻抗为对应预估电阻值时的波形，然后实时地调节阻抗调节单元13的电阻大小，进而调节两个探针12之间的阻抗大小，并观察示波器眼图，当获得最佳的眼图后，由此确认与测试点匹配的阻抗阻值即为阻抗调节单元13的电阻阻值。本技术实施例提供的差分探头通过设置阻抗调节单元来调整两个探针之间的阻抗大小，在阻抗匹配过程中，无需对电路板进行拆卸电阻和焊接电阻的操作，解决了拆卸和焊接电阻过程中成品电路板和模组易损坏的问题，实现了便捷的阻抗匹配调节过程，同时节约了调节的时间，降低了电阻器件的消耗。图3是本技术实施例提供的另一种差分探头的结构示意图，参考图3，该差分探头包括差分电路单元11、两个探针12以及阻抗调节单元13，其中，差分电路单元11和阻抗调节单元13为该差分探头的电路组件，两个探针12包括第一探针121和第二探针122，其中，第一探针121为正极探针，第二探针122为负极探针，也可以第一探针121为负极探针，第二探针122为正极探针，阻抗调节单元13包括至少一条电阻支路，每条电阻支路包括串联的第一电阻和第一开关，每条电阻支路的两端分别与第一探针121和第二探针122电连接。优选地，电阻支路的条数大于等于2，其并联于两个探针12与差分电路单元11之间。例如图3中示出了n条并联的电阻支路，第1条支路包括串联的第本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种差分探头，包括差分电路单元，其特征在于，还包括探针和阻抗调节单元；所述探针包括第一探针和第二探针，其中一个为正极探针，与所述差分电路单元的正极电连接，另一个为负极探针，与所述差分电路单元的负极电连接；所述阻抗调节单元一端连接于所述第一探针与所述差分电路单元之间，另一端电连接于所述第二探针与所述差分电路单元之间。

【技术特征摘要】
1.一种差分探头，包括差分电路单元，其特征在于，还包括探针和阻抗调节单元；所述探针包括第一探针和第二探针，其中一个为正极探针，与所述差分电路单元的正极电连接，另一个为负极探针，与所述差分电路单元的负极电连接；所述阻抗调节单元一端连接于所述第一探针与所述差分电路单元之间，另一端电连接于所述第二探针与所述差分电路单元之间。2.根据权利要求1所述的差分探头，其特征在于，所述阻抗调节单元包括至少一条电阻支路，每条所述电阻支路包括串联的第一电阻和第一开关。3.根据权利要求2所述的差分探头，其特征在于，所述第一开关采用按键开关或者拨动开关。4.根据权利要求2所述的差分探头，其特征在于，所述第一开关为半导体开关。5.根据权利要求2所述的差分探头，其特征在于，各所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：常琳，袁婷，
申请(专利权)人：昆山龙腾光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32