测量γ光子的真空式谱仪探测器制造技术

技术编号:19401201 阅读:35 留言:0更新日期:2018-11-10 06:24
本实用新型专利技术公开一种测量γ光子的真空式谱仪探测器,包括半导体探测器、冷指、密封法兰、液氮杜瓦,所述半导体探测器与杜瓦通过冷指连接,所述冷指通过所述的密封法兰,两者之间通过采用气密密封方式联结。本实用新型专利技术能够方便地把谱仪探测器的半导体探测器部分放置到真空室中,有效地避免了空气中氡气等有害成分对γ光子谱仪探测器测量灵敏度的不利影响,降低了探测器本底水平,提高了测量效率。

【技术实现步骤摘要】
测量γ光子的真空式谱仪探测器
本技术涉及γ光子谱仪探测器,可用于样品中60Co、137Cs、238U、232Th、40K等放射性核素含量的测量,具体为一种可方便地把半导体探测器部分放置到真空室中的γ光子谱仪探测器,尤其是对空气中氡气成分极为敏感的低本底测量场合。
技术介绍
中微子探测、暗物质探测等稀有事例高能物理实验中,对所用材料的放射性本底要求极为苛刻,主要核素的含量不得超过1mBq/kg量级,测量这些参数的一种重要设备是γ光子谱仪探测器。1mBq/kg灵敏度水平的本底测量,空气中的氡气对测量的影响已经不能忽略,尤其是在通风不良的环境中,例如地下实验室。如果采用氮气吹除谱仪探测器附近的含有氡气的空气,需要消耗大量的时间与氮气,并且效果不甚理想,维护也较为繁琐。目前商业化的γ光子谱仪探测器,已经集成了液氮杜瓦及传导热量的冷指,尚未考虑克服空气中的氡气带来的负面影响。在对其设计、安装带有真空室的屏蔽体时,需要用真空封泥保证真空罩的密封性能,而真空封泥一般情况下为临时措施,寿命有限,可靠性差,外表整洁度、美观度有所欠缺。本技术是为了解决氡气等有害成分对γ光子谱仪探测器的负面影响。
技术实现思路
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【技术保护点】
1.一种测量γ光子的真空式谱仪探测器,包括液氮杜瓦(1)、密封法兰(2)、冷指(3)和半导体探测器(4),其特征在于所述的冷指(3)的一端经密封法兰(2)与所述的液氮杜瓦(1)相连,另一端与所述的半导体探测器(4)相连。

【技术特征摘要】
1.一种测量γ光子的真空式谱仪探测器,包括液氮杜瓦(1)、密封法兰(2)、冷指(3)和半导体探测器(4),其特征在于所述的冷指(3)的一端经密封法兰(2)与所述的液氮杜瓦(1)相连,另一端与所述的半导体探测器(4)相连。2.根据权利要求1所述的真空式谱仪探测器,其特征在于,所述的冷指(3)贯穿所述的密封法兰(2)并且两者...

【专利技术属性】
技术研发人员:张涛季向东
申请(专利权)人:上海交通大学
类型:新型
国别省市:上海,31

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