一种测试方法、装置及终端制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开一种测试方法、装置及终端，其中，该测试方法可以从测试数据集中读取测试图像，所述测试数据集中包括拍摄测试场景获得的测试图像；获取所述测试图像的图像参数，所述图像参数包括所述测试图像的亮度值和曝光时间；根据所述测试图像的图像参数和被测曝光算法，确定所述测试图像的期望曝光参数，所述期望曝光参数包括期望曝光时间和期望增益；显示所述测试图像基于所述期望曝光参数进行模拟曝光后的目标图像，以便于以所述目标图像为参考对所述被测曝光算法进行性能评估。可见，实施该实施例，可以基于测试数据集实现曝光算法的离线测试，从而改善曝光算法的开发及优化效率。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】一种测试方法、装置及终端
本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种测试方法、装置及终端。
技术介绍
自动曝光技术是根据不同拍摄场景中物体反光强度的差异性对相机曝光时间和增益等进行调节，以达到目标物体在拍摄图像中的亮度值接近目标亮度值，该曝光参数的调节方法也可以称为自动曝光算法。具体的，该调节过程可以包括以下步骤：确定当前拍摄图像的亮度指标，将该亮度指标与期望的亮度指标比较，如果当前的亮度指标高于期望的亮度指标，则指示控制电路缩短曝光时间或者减小模拟数字增益值，反之则延长曝光时间或者增大模拟数字增益值。其中，该自动曝光算法的优劣须涵盖到几乎所有的应用场景才有可能证明该自动曝光算法的实际应用效果。因此，自动曝光算法在开发过程中，需要在各种场景中进行大量的在线测试才能具体确定其性能。然而，这些实地测试会耗费大量的时间和精力，严重影响自动曝光算法的开发及优化效率。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种测试方法、装置及终端，可以对曝光算法进行离线测试，从而改善曝光算法的开发及优化效率。一方面，本专利技术实施例提供一种测试方法，该测试方法可以包括：从测试数据集中读取测试图像，所述测试数据集中包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：从测试数据集中读取测试图像，所述测试数据集中包括拍摄测试场景获得的测试图像；获取所述测试图像的图像参数，所述图像参数包括所述测试图像的亮度值和曝光时间；根据所述测试图像的图像参数和被测曝光算法，确定所述测试图像的期望曝光参数，所述期望曝光参数包括期望曝光时间和期望增益；显示所述测试图像基于所述期望曝光参数进行模拟曝光后的目标图像，以便于以所述目标图像为参考对所述被测曝光算法进行性能评估。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测试方法，其特征在于，包括：从测试数据集中读取测试图像，所述测试数据集中包括拍摄测试场景获得的测试图像；获取所述测试图像的图像参数，所述图像参数包括所述测试图像的亮度值和曝光时间；根据所述测试图像的图像参数和被测曝光算法，确定所述测试图像的期望曝光参数，所述期望曝光参数包括期望曝光时间和期望增益；显示所述测试图像基于所述期望曝光参数进行模拟曝光后的目标图像，以便于以所述目标图像为参考对所述被测曝光算法进行性能评估。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取采集所述测试数据集的相机的图像传感器成像特性曲线；所述根据所述测试图像的图像参数和被测曝光算法，确定所述测试图像的期望曝光参数，包括：利用所述图像传感器成像特性曲线计算所述测试图像的亮度值对应的传感器采集数据；将所述测试图像的传感器采集数据以及所述曝光时间输入到被测曝光算法中，获得所述测试图像的期望曝光参数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取采集所述测试数据集的相机的图像传感器成像特性曲线，包括：在采集测试数据集的相机处于固定位置且拍摄固定场景时，采集N个不同曝光时间对应的N张图片，所述N为大于等于1的正整数；根据所述N张图片的亮度值和曝光时间，获取所述相机的图像传感器成像特性曲线。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：设置采集测试数据集的相机的拍摄参数，所述拍摄参数包括增益为0以及曝光时间为最短曝光时间，所述最短曝光时间为使所述相机采集的测试图像中每个像素都不出现过曝时的曝光时间；获取所述相机在设定速度下移动时拍摄测试场景而获得的测试图像；利用所述测试图像创建测试数据集。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获取所述相机在设定速度下移动时拍摄测试场景而获得的测试图像，包括：获取所述相机在设定速度下移动时拍摄M种光线条件下的测试场景而获得的测试图像，所述M为大于等于1的正整数；所述利用所述测试图像创建测试数据集，包括：根据所述M种光线条件的测试图像分别创建每种光线条件下的测试数据集。6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述目标图像中目标对象的平均亮度；计算所述目标对象的平均亮度相对于预期平均亮度的变化幅度，所述变化幅度与所述被测曝光算法的稳定性成正比。7.根据权利要求1至6任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：计算所述目标图像的梯度值，所述梯度值与所述被测曝光算法的性能成正比。8.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述将所述测试图像的传感器采集数据以及曝光时间输入到被测曝光算法中，获得所述测试图像的期望曝光参数，包括：当所述测试图像为所述测试场景的第一帧图像时，根据所述测试图像的传感器采集数据以及曝光时间，利用被测曝光算法计算所述测试图像的期望曝光参数；当所述测试图像为所述测试场景的非第一帧图像时，根据所述测试图像的传感器采集数据、曝光时间以及所述测试图像的上一帧图像的期望曝光参数，利用所述被测曝光算法计算所述测试图像的期望曝光参数。9.一种测试装置，其特征在于，包括：读取模块，用于从测试数据集中读取测试图像，所述测试数据集中包括拍摄测试场景获得的测试图像；获取模块，用于获取所述测试图像的图像参数，所述图像参数包括所述测试图像的亮度值和曝光时间；确定模块，用于根据所述测试图像的图像参数和被测曝光算法，确定所述测试图像的期望曝光参数，所述期望曝光参数包括期望曝光时间和期望增益；显示模块，用于显示所述测试图像基于所述期望曝光参数进行模拟曝光后的目标图像，以便于以所述目标图像为参考对所述被测曝光算法进行性能评估。10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述获取模块，还用于获取采集所述测试数据集的相机的图像传感器成像特性曲线；所述确定模块根据所述测试图像的图像参数和被测曝光算法，确定所述测试图像的期望曝光参数，具体为：利用所述图像传感器成像特性曲线计算所述测试图像的亮度值对应的传感器采集数据；将所述测试图像的传感器采集数据以及所述曝光时间输入到被测曝光算法中，获得所述测试图像的期望曝光参数。11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述获取模块获取采集所述测试数据集的相机的图像传感器成像特性曲线，具体为：在采集测试数据集的相机处于固定位置且拍摄固定场景时，采集N个不同曝光时间对应的N张图片，所述N为大于等于1的正整数；根据所述N张图片的亮度值和曝光时间，获取所述相机的图像传感器成像特性曲线。12.根据权利要求9至11任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：设置模块，用于设置采集测试数据集的相机的拍摄参数，所述拍摄参数包括增益为0以及曝光时间为最短曝光时间，所述最短曝光时间为使所述相机采集的测试图像中每个像素都不出现过曝时的曝光时间；所述获取模块，还用于获取所述相机在设定速度下移动时拍摄测试场景而获得的测试图像；创建模块，用于利用所述测试图像创建测试数据集。13.根据权利要求12所述的装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：李庆，夏昌奇，
申请(专利权)人：深圳市大疆创新科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44