【技术实现步骤摘要】
一种测量凸轮轴罩盖平面度的装置
本技术涉及测量领域，特别涉及一种测量凸轮轴罩盖平面度的装置。
技术介绍
目前，针对易变形的产品会采取平面度全检控制，使用常规的平台测量产品整个平面度，经常出现检测合格的产品，机加工仍有因平面度不良产生加工不良。使用平台测量产品整个平面度与机加工定位基准不一致，导致检测合格的产品，对机加工仍有影响，仍有不合格品产生。
技术实现思路
技术目的：本技术的目的是为了解决现有技术中的不足，解决常规平台测量产品整个平面度与机加工定位基准不一致，导致检测合格的产品，对机加工仍有影响，仍有不合格品产生，降低废品率，提供一种测量凸轮轴罩盖平面度的装置。技术方案：本技术一种测量凸轮轴罩盖平面度的装置，包括底板，底板上设有第一支撑柱、第二支撑柱、第三支撑柱、第一限位柱、第二限位柱、以及通止塞尺，第一支撑柱、第二支撑柱设于底板上方右侧，第三支撑柱设于底板上方左侧，第一支撑柱、第二支撑柱、第三支撑柱之间的连接线围成三角形，第一限位柱设于第二支撑柱、第三支撑柱连接线的左侧，第二限位柱设于第一支撑柱、第三支撑柱连接线的上方。本技术的进一步改进在于，第一支撑柱、第二支撑柱...
【技术保护点】
1.一种测量凸轮轴罩盖平面度的装置，其特征在于：包括底板（1），所述底板（1）上设有第一支撑柱（2）、第二支撑柱（3）、第三支撑柱（5）、第一限位柱（4）、第二限位柱（6）、以及通止塞尺（7），所述第一支撑柱（2）、第二支撑柱（3）设于底板（1）上方右侧，所述第三支撑柱（5）设于底板（1）上方左侧，所述第一支撑柱（2）、第二支撑柱（3）、第三支撑柱（5）之间的连接线围成三角形，所述第一限位柱（4）设于第二支撑柱（3）、第三支撑柱（5）连接线的左侧，所述第二限位柱（6）设于第一支撑柱（2）、第三支撑柱（5）连接线的上方。
【技术特征摘要】
1.一种测量凸轮轴罩盖平面度的装置，其特征在于：包括底板（1），所述底板（1）上设有第一支撑柱（2）、第二支撑柱（3）、第三支撑柱（5）、第一限位柱（4）、第二限位柱（6）、以及通止塞尺（7），所述第一支撑柱（2）、第二支撑柱（3）设于底板（1）上方右侧，所述第三支撑柱（5）设于底板（1）上方左侧，所述第一支撑柱（2）、第二支撑柱（3）、第三支撑柱（5）之间的连接线围成三角形，所述第一限位柱（4）设于第二支撑柱（3）、第三支撑柱（5）连接线的左侧，所述第二限位柱...
【专利技术属性】
技术研发人员：丁秀芳，张森，蒋小燕，
申请(专利权)人：广东鸿图南通压铸有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32
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