The invention provides a method for micro-damage detection of electrical insulating material in radar structure, which is characterized by the following steps: two capacitive sensors with fixed positions and no contact with each other are placed on the surface of the insulating material to be detected and traversed the surface of the insulating material to be detected, one of which acts as excitation. Excitation plate, another capacitance sensor as receiving plate, loads AC signal on the excitation plate of the sensor, observes the measured capacitance value between the two capacitance sensors; if there is no micro-crack on the surface of insulating material, the measured capacitance value is fixed; if the measured capacitance value changes, it indicates the need between the two capacitance sensors. Detect cracks on the surface of insulating materials.
【技术实现步骤摘要】
一种用于雷达结构中电绝缘材料微损伤检测的方法
本专利技术涉及一种非侵入式无损检测方法,尤其是一种用于电绝缘材料检测的方法。
技术介绍
由于有机高分子材料具有强度高、质量轻及良好的电绝缘与耐腐蚀特点,广泛的应用于雷达结构。通常在雷达结构中,有机高分子材料既可用于电绝缘材料(印刷电路板)的制作,也可作为天线罩、盒、盖等构件的材料。由于雷达多工作于复杂恶劣环境,而有机高分子材料耐热性差,易老化,又具有可燃的特点,因此,在机械应用中高分子材料在长期服役过程中会产生理化性能、力学性能不同程度的降低,导致裂纹、缺陷的产生,最终引发重大损失。因此需要发展一种可用于雷达结构中电绝缘材料(高分子材料)损伤检测的方法。文献“结构微裂纹混频非线性超声检测方法,声学学报,2013,Vol.38,No.6”公开了一种基于混频效应的非线性超声微裂纹检测方法。该方法针对常规超声无法检测的结构微裂纹问题,采用异侧激励模式对结构微裂纹进行了检测及定位实验研究,研究结果表明,在该模式下能够有效得检测出微裂纹的存在,并且通过对激励信号的时移扫查,异侧激励混频模式可以实现缺陷检查与定位。但是文献所述方法仅适用于金属或者合金材料的微裂纹检测,无法检测电绝缘材料(有机高分子材料),且该方法抗干扰能力差,信噪比较低。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足,本专利技术提供一种基于电容边缘效应的相邻电容传感器检测方法,采用基于电容的边缘效应通过测量有无微裂纹存在时电绝缘材料介电常数的不同,从而检测有无微裂纹存在并测量微裂纹深度。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案包括以下步骤:采用两个相互位置固定且相互不 ...
【技术保护点】
1.一种用于雷达结构中电绝缘材料微损伤检测的方法,其特征在于包括下述步骤:采用两个相互位置固定且相互不接触的电容传感器置于待检测绝缘材料表面且遍历待检测绝缘材料表面,其中一个电容传感器作为激励极板,另一个电容传感器作为接收极板,在传感器激励极板上加载交流信号,观测两个电容传感器之间的测量电容值;若绝缘材料表面无微裂纹则测量电容值为固定值,若测量电容值发生改变则说明两个电容传感器之间的待检测绝缘材料表面存在裂纹。
【技术特征摘要】
1.一种用于雷达结构中电绝缘材料微损伤检测的方法,其特征在于包括下述步骤:采用两个相互位置固定且相互不接触的电容传感器置于待检测绝缘材料表面且遍历待检测绝缘材料表面,其中一个电容传感器作为激励极板,另一个电容传感器作为接收极板,在传感器激励极板上加载交流信号,观测两个电容传感器之间的测量电容值;若绝缘材料表面无微裂纹则测量电容值为固定值,若测量电容值发生改变则说明两个电容传感器之间的待检测绝缘材料表面存在裂纹。2.根据权利要求1所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:韩颖,权渭锋,
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第二十研究所,
类型:发明
国别省市:陕西,61
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